[發(fā)明專利]氣體流量檢定系統(tǒng)及氣體流量檢定單元有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210262118.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-07-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102954819A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 中田明子 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 喜開理株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01F1/88 | 分類號(hào): | G01F1/88;G05D7/06;G05D16/06 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 高培培;車文 |
| 地址: | 日本愛知*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氣體 流量 檢定 系統(tǒng) 單元 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢定半導(dǎo)體制造裝置中的工藝氣體等的氣體供給系統(tǒng)中使用的流量控制儀器(質(zhì)量流量控制器等)的流量的氣體流量檢定系統(tǒng)及氣體流量檢定單元。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體制造工藝中的成膜裝置、干式蝕刻裝置等中,使用例如硅烷等特殊氣體、氯氣等腐蝕性氣體、及氫氣、磷化氫(phosphine)等可燃性氣體等。這些氣體流量直接影響產(chǎn)品的優(yōu)良與否,因此,必須嚴(yán)格管理該流量。特別是,伴隨著近年的半導(dǎo)體基板的層疊化、微細(xì)化,對(duì)提高工藝氣體供給系統(tǒng)的可靠性的要求比以前更高。
因此,例如,專利文獻(xiàn)1及專利文獻(xiàn)2中公開了半導(dǎo)體制造工藝中的供給氣體的流量控制技術(shù)。
專利文獻(xiàn)1的技術(shù)如下:為了以流模式和非流模式交替工作,成批地將流經(jīng)質(zhì)量流量控制器的氣體流量調(diào)節(jié)成指定流量,在質(zhì)量流量控制器的上游側(cè)設(shè)置串聯(lián)配置有截止閥、標(biāo)準(zhǔn)容器(相當(dāng)于測(cè)定用罐)、壓力傳感器、壓力調(diào)整閥的流線,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)容器的壓力降低決定實(shí)際流量,從而調(diào)節(jié)質(zhì)量流量控制器的設(shè)定值。
另外,專利文獻(xiàn)2的技術(shù)如下:為了正確地算出工藝氣體的流量,在質(zhì)量流量控制器的上游側(cè)串聯(lián)配置具備截止閥和儲(chǔ)熱部的已知體積部(相當(dāng)于測(cè)定用罐)、壓力傳感器和可變式壓力調(diào)整閥,根據(jù)已知體積部的壓力降低算出實(shí)際流量,在與指定流量存在差異的情況下,校對(duì)可變式壓力調(diào)整閥。而且,將已知體積部?jī)?nèi)的壓力降低作為時(shí)間函數(shù)進(jìn)行測(cè)定時(shí),為了將氣體溫度維持為一定,從儲(chǔ)熱部進(jìn)行導(dǎo)熱。
專利文獻(xiàn)1:日本特表2003-529218號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)2:日本特表2008-504613號(hào)公報(bào)
但是,專利文獻(xiàn)1、2所述的技術(shù)存在如下問(wèn)題。
在專利文獻(xiàn)1、2的技術(shù)中,若質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)壓力變動(dòng)大,則質(zhì)量流量控制器的流量和從罐流出的流量一起變動(dòng)。另外,若質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)壓力變動(dòng)小,則質(zhì)量流量控制器的流量不變動(dòng),但是從罐流出的流量變動(dòng)。因此,為了使質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)壓力一定,在質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)配置有壓力調(diào)整閥。通過(guò)配置壓力調(diào)整閥,具有抑制質(zhì)量流量控制器的流量變動(dòng)的效果。
但是,本發(fā)明者發(fā)現(xiàn):與質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)壓力相當(dāng)?shù)膲毫φ{(diào)整閥和質(zhì)量流量控制器間的壓力受壓力調(diào)整閥和質(zhì)量流量控制器間的容積(也稱為“壓力調(diào)整閥二次側(cè)容積”。下同)影響而發(fā)生變動(dòng)。圖9A~9C是本發(fā)明者的試驗(yàn)結(jié)果的曲線圖。在這里,將壓力調(diào)整閥的一次側(cè)的壓力稱為壓力調(diào)整閥一次側(cè)壓力(PT1)。如圖9A、9B所示,將從壓力調(diào)整閥的一次側(cè)供給的氣體流量設(shè)為50sccm,在壓力調(diào)整閥二次側(cè)容積為20cc時(shí)(圖9A)和為150cc時(shí)(圖9B),比較壓力調(diào)整閥和質(zhì)量流量控制器間的壓力〔也稱為“壓力調(diào)整閥二次側(cè)壓力(PT2)”。下同〕,與壓力調(diào)整閥二次側(cè)容積為20cc時(shí)相比,為150cc時(shí)壓力調(diào)整閥二次側(cè)壓力(PT2)變高。
因此,存在如下問(wèn)題:例如,若通過(guò)半導(dǎo)體制造裝置的改造等改變壓力調(diào)整閥和質(zhì)量流量控制器間的配管長(zhǎng)度,則壓力調(diào)整閥二次側(cè)容積發(fā)生變化,因此,影響質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)壓力的壓力變動(dòng),其結(jié)果是,氣體流量檢定精度降低。
另外,本發(fā)明者發(fā)現(xiàn):即使從氣體供給源供給的氣體流量發(fā)生變動(dòng),壓力調(diào)整閥二次側(cè)壓力也變動(dòng)。如圖9B、9C所示,將壓力調(diào)整閥二次側(cè)容積設(shè)為150cc,在從壓力調(diào)整閥的一次側(cè)供給的氣體流量為50sccm時(shí)(圖9B)和為10sccm時(shí)(圖9C),比較壓力調(diào)整閥二次側(cè)壓力(PT2),與氣體流量為50sccm時(shí)相比,為10sccm時(shí)的壓力調(diào)整閥二次側(cè)壓力降低。
因此,存在如下問(wèn)題:例如,即使半導(dǎo)體制造裝置的工作狀況變動(dòng)而從氣體供給源供給的氣體流量變動(dòng),也影響質(zhì)量流量控制器的一次側(cè)壓力的壓力變動(dòng),其結(jié)果是,氣體流量檢定精度降低。
另外,在專利文獻(xiàn)1、2的技術(shù)中,利用流路串聯(lián)連接上游側(cè)的截止閥、標(biāo)準(zhǔn)容器或已知體積部(均相當(dāng)于“測(cè)定用罐”)、壓力傳感器、壓力調(diào)整閥。關(guān)閉上游側(cè)的截止閥后,在測(cè)定用罐中儲(chǔ)存的工藝氣體向流路流出時(shí),截止閥剛剛關(guān)閉后,受隔熱膨脹的影響,在流路的中途壓力傳感器測(cè)定的氣體壓力的壓力降低率在壓力開始降低之初不為一定(參照?qǐng)D4的現(xiàn)有例)。因此,存在如下問(wèn)題:在壓力降低率為大致一定之前不能進(jìn)行氣體流量檢定,產(chǎn)生等待時(shí)間。
關(guān)于這一點(diǎn),在專利文獻(xiàn)2的技術(shù)中,做了如下工作:在已知體積部(相當(dāng)于“測(cè)定用罐”)的內(nèi)外周具備儲(chǔ)熱部,通過(guò)從儲(chǔ)熱部進(jìn)行導(dǎo)熱,來(lái)避免隔熱膨脹的影響。
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G01F1-05 .應(yīng)用機(jī)械效應(yīng)
G01F1-56 .應(yīng)用電或磁效應(yīng)
G01F1-66 .通過(guò)測(cè)量電磁波或其他波的頻率、相位移或傳播時(shí)間,例如,超聲波流量計(jì)
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