[發明專利]多表面檢測系統及方法

有效

• 申請號: 201210255085.9
• 申請日: 2008-04-07
• 公開（公告）號: CN102788554B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發明（設計）人: 阿曼努拉·阿杰亞拉里;葛漢成;陳發齊;黎慶添
• 申請（專利權）人: 聯達科技控股有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G02B5/04
• 代理公司: 上海申新律師事務所31272
• 代理人: 竺路玲

技術領域

本發明涉及一種組件檢測系統，特別涉及一種多表面檢測系統及方法，該系統及其方法不需要放置待檢測組件在檢測設備內。

背景技術

眾所周知，可使用單組圖像數據來檢測一個組件的多個表面。然而，現有的實現上述檢測的方法和系統需要放置組件在檢測裝置內，例如降低或升高組件進入檢測位置。同時一些系統和方法允許使用檢測裝置來執行一些檢測進程，上述檢測裝置被放置在待檢測組件的上方或下方，上述系統和方法的不同表面的圖像數據不處于同一焦平面上，并且上述圖像數據對應的面積明顯大于待檢測組件總表面積。因此，上述系統及方法的解析度較低，或者需要具有不同焦距的不同的圖像數據生成系統。

發明內容

本發明公開了一種執行組件多表面檢測的系統和方法，上述系統和方法彌補了執行組件多表面檢測系統和方法中存在的已知難題。

具體而言，本發明公開了一個執行組件多表面檢測的系統和方法，上述系統和方法能提供高解析度并允許從每一個表面上生成包含有圖像數據的單組圖像數據，而不需要補償不同的焦距。

本發明的一個實施例公開了一個檢測組件的系統。所述的系統包含一個棱鏡，該棱鏡具有第一末端、第二末端、第一反射面和第二反射面。所述棱鏡的第一末端位于一個平面上，該平面與一組檢測片段中的一個或多個片段所在平面相互平行并軸向分離開。在遠離棱鏡第二末端的位置放置一個圖像數據系統，用于生成檢測片段組中的一個或多個片段的圖像數據，包括：檢測片段組中的至少一個片段的頂表面、檢測片段組中的至少一個片段的至少一側面。采用一個檢測片段傳送系統，如拾取和放置工具、運送裝置，來移動一組檢測片段越過貫穿檢測面積的棱鏡第一末端。

本發明提供了許多重要的技術改進。本發明一個重要的技術改進是提供一個檢測系統，該檢測系統利用具有兩個反射面的棱鏡，以補償不同檢測表面間的焦距不同，并允許檢測表面被放置的盡可能接近彼此，從而增加圖像數據的分辨率。

本發明公開了一種用于檢測組件的系統，包括以下部分：一個棱鏡，所述的棱鏡具有第一末端、第二末端、第一反射面和第二反射面，所述的棱鏡第一末端位于一個平面上，該平面與一組檢測片段中的一個或多個片段所在平面相互平行并軸向分離開；一個圖像數據系統，所述的圖像數據系統放置于遠離所述的棱鏡第二末端的位置，用于生成檢測片段組中的一個或多個片段的圖像數據，包括：檢測片段組中的至少一個片段的頂表面、檢測片段組中的至少一個片段的至少一側面；一個檢測片段傳送系統，所述的檢測片段傳送系統用于移動一組檢測片段越過貫穿檢測面積的棱鏡第一末端。

其中，所述棱鏡補償檢測片段組的一個或多個檢測片段的一個或多個側面的焦距，以使得該焦距和檢測片段組的??一個或多個檢測片段的一個或多個頂面的焦距相同。

所述系統進一步包括一個圖像補償和檢測系統，所述圖像補償和檢測系統從圖像數據系統處接收圖像數據，并且分離檢測片段組的至少一個片段的頂面的圖像數據和檢測片段組的至少一個片段的側面的圖像數據。

其中，所述的圖像補償和檢測系統進一步包括一個側面檢測系統，所述的側面檢測系統接收檢測片段組的至少一個片段的側面的圖像數據，并且生成通過或不合格數據。

其中，所述的圖像補償和檢測系統進一步包括一個頂面檢測系統，所述的頂面檢測系統接收檢測片段組的至少一個片段的頂面的圖像數據，并且生成通過或不合格數據。

所述系統進一步包括一個圖像補償和檢測系統，所述的圖像補償和檢測系統從圖像數據系統處接收圖像數據，并分離檢測片段組的兩個或多個片段的頂面的圖像數據和檢測片段組的兩個或多個片段的側面的圖像數據。

其中，所述的圖像補償和檢測系統進一步包括一個圖像數據跟蹤系統，所述的圖像數據跟蹤系統為每一個檢測片段，聯合兩個或多個檢測片段的每一個片段的頂面的圖像數據和相對應的兩個或多個檢測片段的每一個片段的側面的圖像數據。

其中，所述的棱鏡第一反射面和第二反射面被一個角度為45°?-?α/2的角分離開，所述的α是一個平面和點間的夾角，所述的平面位于棱鏡第一反射面的反射點，所述的棱鏡第一反射面平行于檢測片段組的一個或多個片段所在的平面，所述的點位于檢測片段組的一個或多個片段的側面上，所述的α在20°到50°間。

其中，在一個間隙處提供低角度光線，所述的間隙位于一個平面和第二平面之間，所述的平面與檢測片段組的一個或多個片段所在的平面平行并且軸向分離，所述的第二平面與檢測片段組的一個或多個片段的最頂端的表面平行。