[發明專利]多表面檢測系統及方法有效
| 申請號: | 201210255085.9 | 申請日: | 2008-04-07 |
| 公開(公告)號: | CN102788554B | 公開(公告)日: | 2017-04-12 |
| 發明(設計)人: | 阿曼努拉·阿杰亞拉里;葛漢成;陳發齊;黎慶添 | 申請(專利權)人: | 聯達科技控股有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G02B5/04 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務所31272 | 代理人: | 竺路玲 |
| 地址: | 新加坡,加冷盆地工*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 表面 檢測 系統 方法 | ||
1.一種用于檢測檢測片段組的系統,其特征在于,包括:
至少一個棱鏡,所述棱鏡具有第一末端、第二末端、位于所述第一末端和第二末端之間的距離、以及第一反射面,所述第一反射面用于將入射到所述第一反射面上的光射向所述第二末端,所述至少一個棱鏡的第一末端位于棱鏡平面上,所述棱鏡平面與檢測平面相互平行并軸向分離開,所述檢測平面包括檢測片段組中的至少一個片段的頂表面,其中,所述檢測平面被放置在遠離所述至少一個棱鏡的第一末端的位置,之間間隔超出至少一個棱鏡的長度,這樣以建立一個將所述棱鏡平面與所述檢測平面隔開的空間間隙;
一個檢測片段傳送系統,用于移動檢測片段組使其經過所述棱鏡的第一末端并穿過處于檢測平面的檢測區域;以及
一個圖像數據系統被放置于遠離所述的棱鏡的第二末端的位置并且用于生成檢測片段組中的至少一個片段的圖像數據,所述檢測片段組的頂表面和/或至少一個片段的至少一個側面的像素,其中,所述圖像數據系統用于在所述檢測片段組中的每一個片段處于檢測區域時生成圖像數據。
2.如權利要求1所述的系統,其特征在于,所述棱鏡補償所述檢測片段組中的至少一個片段的至少一個側面的焦距,以使得該焦距和所述檢測片段組中的至少一個片段的頂表面的焦距相同。
3.如權利要求1所述的系統,其特征在于,進一步包括一個圖像補償和檢測系統,用于從圖像數據系統處接收圖像數據并且分離所述檢測片段組中的至少一個片段的頂表面的圖像數據和所述檢測片段組中的至少一個片段的至少一個側面的圖像數據。
4.如權利要求3所述的系統,其特征在于,所述圖像補償和檢測系統進一步包括一個側面檢測系統,所述的側面檢測系統接收所述檢測片段組中的至少一個片段的至少一個側面的圖像數據并且生成合格或不合格數據。
5.如權利要求3所述的系統,其特征在于,所述圖像補償和檢測系統進一步包括一個頂表面檢測系統,所述的頂表面檢測系統接收所述檢測片段組中的至少一個片段的頂表面的圖像數據并且生成合格或不合格數據。
6.如權利要求1所述的系統,其特征在于,進一步包括一個圖像補償和檢測系統,用于從圖像數據系統處接收圖像數據并分離所述檢測片段組中的兩個或更多片段的頂表面的圖像數據和所述檢測片段組中的兩個或更多片段的側面的圖像數據。
7.如權利要求6所述的系統,其特征在于,所述的圖像補償和檢測系統進一步包括一個檢測片段跟蹤系統,所述檢測片段跟蹤系統為每一個檢測片段,將所述檢測片段組中的兩個或更多片段的頂表面的圖像數據與所述檢測片段組中的兩個或更多片段中的每一個片段的側面的相對應的圖像數據結合起來。
8.如權利要求1所述的系統,其特征在于,從所述檢測片段組中的至少一個檢測片段的側面反射出的光與所述第一反射面之間的角度為45°-α,其中,α為(a)一個平面與(b)一個點之間的夾角,所述(a)平面平行于位于棱鏡第一反射面的反射點上的檢測平面,所述(b)點為所述檢測片段組中的至少一個片段的側面上的點。
9.如權利要求8所述的系統,其特征在于,角度α的大小在20°到50°之間。
10.如權利要求8所述的系統,其特征在于,所述至少一個棱鏡進一步包括一個第二反射面,所述第二反射面用于將由第一反射面反射出的光射向所述第二末端,并且其中所述第一反射面和第二反射面被一個角度為45°?-?α/2的角分離開。
11.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述至少一個棱鏡補償所述至少一個側面的焦距,以使得該焦距和所述檢測片段組中的至少一個片段的頂表面的焦距相同。
12.如權利要求1所述的系統,其特征在于,進一步包括一個照明系統,用于在一個空間間隙處提供光線。
13.如權利要求12所述的系統,其特征在于,所述照明系統用于在一個空間間隙處提供低角度光線。
14.如權利要求1所述的系統,其特征在于,所述位于檢測平面上的檢測區域包圍了所述檢測片段組的檢測物體運送路徑的一部分,并且其中,在一個空間間隙處的照明系統所述檢測物體運送路徑的一部分。
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