[發明專利]用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置

有效

• 申請號: 201210254607.3
• 申請日: 2012-07-23
• 公開（公告）號: CN102818679A
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發明（設計）人: 師立俠;馮琪;韓琰;竇仁超;劉興悅;楊定魁;劉勝
• 申請（專利權）人: 北京衛星環境工程研究所
• 主分類號: G01M3/02
• 分類號: G01M3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置，包括閥體、固定尺寸小孔及標氣電磁閥和樣氣電磁閥，閥體中間設置有接檢漏口的部分，接檢漏口的部分由上部的主通道以及下部的兩個取樣口通道構成，主通道上方與標準氦質譜檢漏儀的檢漏口連接并在其通道內設置固定尺寸小孔，兩個取樣口通道分別對應連接到標氣電磁閥和樣氣電磁閥上，閥體兩側分別設置有一進一出的兩個標氣口和兩個樣氣口，它們分別會集到一通道上并連通到相應的標氣電磁閥和樣氣電磁閥上，標氣電磁閥的閥芯向上移動，切斷標氣口與取樣口的通路，反之開通標氣口與取樣口的通路，完成標氣的取樣過程；樣氣電磁閥的閥芯向上移動，切斷樣氣口與取樣口的通路，反之開通樣氣口與取樣口的通路，完成樣氣的取樣過程。

2.如權利要求1所述的取樣裝置，兩個標氣口設置用來提供標準氣體的進出。

3.如權利要求1所述的取樣裝置，兩個樣氣口設置用來提供待測試氣體的進出。

4.如權利要求1-3任一項所述的取樣裝置，其中，固定尺寸小孔的直徑為10μm～20μm。

5.如權利要求1-3任一項所述的取樣裝置，其中，兩個電磁閥均為12V的低壓直流電磁閥，閥門的漏率指標小于1×10-7Pa.m3/s。