[發明專利]用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置

有效

• 申請號: 201210254607.3
• 申請日: 2012-07-23
• 公開（公告）號: CN102818679A
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發明（設計）人: 師立俠;馮琪;韓琰;竇仁超;劉興悅;楊定魁;劉勝
• 申請（專利權）人: 北京衛星環境工程研究所
• 主分類號: G01M3/02
• 分類號: G01M3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置，特別涉及一種能完成檢漏儀的電動取樣過程，并與標準氦質譜檢漏儀共同完成總漏率測試工作的取樣裝置，最終實現總漏率測試過程的自動化工作。

背景技術

隨著航天技術的不斷發展，對自動化的需求越來越高，以前的手動測試工作需要改善，衛星總漏率測試也需要實現自動化，總漏率測試的關鍵裝置取樣系統制約著測試的自動化，迫切需要開發出一種便于實現自動化的取樣裝置。

現有檢漏儀的取樣裝置結構示意圖如圖1所示。

其中，接檢漏口的部分1與氦質譜檢漏儀的檢漏口連接，頂針2的錐面部分有一道人為地劃痕，在衛星總漏率測試時，通過頂針2后部的螺紋可以調節進入檢漏儀檢漏口的流量。測試過程需要有兩個標氣口3，一進一出，提供標準氣體的；有兩個樣氣口4，一進一出，提供需要測試的氣體，通過對比來測試之間的差值。測試過程中需要間隔對標氣和樣氣進行取樣，圖1所示位置為標氣的取樣過程，如果需要對樣氣進行取樣，則手動將活動套5沿著固定套6推至樣氣口與取樣口7對齊即可，重復以上過程3次，完成衛星的總漏率測試取樣過程。

這種裝置能實現衛星總漏率測試過程中的取樣工作，但是需要靠手動操作，特別繁瑣，很難實現自動化，在其它環節都實現自動化后，取樣裝置成為衛星總漏率測試自動化過程中的瓶頸，迫切需要研制新的取樣裝置來實現總漏率測試過程的全自動化。另外，進入檢漏儀的氣體的流量是通過圖1中頂針2后面錐面部分人為劃痕的擠壓來實現，此限流裝置流量不穩定，不容易做成系列標準產品。因此，研制一種能夠實現自動化的取樣裝置非常必要。

發明內容

本發明的目的是提供一種用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置，其通過電磁閥來實現總漏率測試過程中的取樣過程，從而便于實現衛星總漏率測試過程的自動化。

為了實現上述目的，本發明采用了如下的技術方案：

用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置，包括閥體、固定尺寸小孔及標氣電磁閥和樣氣電磁閥，閥體中間設置有接檢漏口的部分，接檢漏口的部分由上部的主通道以及下部的兩個取樣口通道構成，主通道上方與標準氦質譜檢漏儀的檢漏口連接并在其通道內設置固定尺寸小孔，兩個取樣口通道分別對應連接到標氣電磁閥和樣氣電磁閥上，閥體兩側分別設置有一進一出的兩個標氣口和兩個樣氣口，它們分別會集到一通道并連通到相應的標氣電磁閥和樣氣電磁閥上，標氣電磁閥的閥芯向上移動，切斷標氣口與取樣口的通路，反之開通標氣口與取樣口的通路，完成標氣的取樣過程；樣氣電磁閥的閥芯向上移動，切斷樣氣口與取樣口的通路，反之開通樣氣口與取樣口的通路，完成樣氣的取樣過程。

其中，兩個標氣口設置用來提供標準氣體的進出。兩個樣氣口設置用來提供待測試氣體的進出。

其中，固定尺寸小孔的直徑為10μm～20μm。

其中，兩個電磁閥均為12V的低壓直流電磁閥，閥門的漏率指標小于1×10-7Pa.m3/s。

本發明用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置，能夠實現總漏率測試過程的自動取樣，與現有的技術相比，取樣過程由手動改為自動，便于能實現測試過程的自動化。采用固定直徑的小孔來限制流量，與原有限流裝置相比，尺寸更加容易控制，可以做成標準產品系列，供實際操作過程中選用，減少了原有限流裝置產生流量的不確定度。

附圖說明

圖1是現有檢漏儀的取樣裝置結構示意圖。

其中，1、接檢漏口的部分；2、頂針；3、標氣口；4、樣氣口；5、活動套；6、固定套；7、取樣口。

圖2是本發明用于衛星總漏率測試檢漏儀的取樣裝置結構示意圖。

其中，1、接檢漏口的部分；11、閥體；12、固定尺寸小孔；3、標氣口；4、樣氣口；15、標氣電磁閥；16、樣氣電磁閥；17、取樣口的通路。

具體實施方式

以下介紹的是作為本發明所述內容的具體實施方式，下面通過具體實施方式對本發明的所述內容作進一步的闡明。當然，描述下列具體實施方式只為示例本發明的不同方面的內容，而不應理解為限制本發明范圍。