[發明專利]多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法

有效

• 申請號: 201210250669.7
• 申請日: 2012-07-19
• 公開（公告）號: CN103576009A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發明（設計）人: 彭磊;劉泓;熊盛陽;杜紅焱;孫淑英;官巖;趙彥飛;汪翔;吳立強;鄔文浩;張愛學;高憬楠;林德建
• 申請（專利權）人: 中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 高尚梅

技術領域

本發明屬于元器件可靠性技術領域，具體涉及一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法。

背景技術

電子元器件一般具有性能退化的特點，退化軌跡可以利用以下幾種線性模型來進行有效的擬合：（1）y_i＝α_i+β_it；（2）log(y_i)＝α_i+β_it；（3）log(y_i)＝α_i+β_ilogt；其中，y_i為產品的性能參數指標，i為受試樣本數，t為試驗時間，α_i、β_i為未知參數，其值可以通過退化數據獲得。退化軌跡曲線是單個試驗樣本性能退化相對時間的軌跡。對于k個試驗產品，存在表現退化過程的k個退化軌跡曲線。

在樣本的退化軌跡滿足上述幾組退化模型的基礎上，可以外推求出不同樣本達到失效閾值的時間。由于這些事件并不是樣本的實際失效時間，我們又要用它們來評估產品可靠度，因此稱之為偽失效壽命時間。利用偽失效壽命時間的定義可以對每個樣本的壽命時間進行預計，可以得到產品的壽命分布。

假設n個受試樣本進行退化試驗，t₁，t₂，……，t_m時刻對其進行性能退化量紀錄，共測m次；現有的基于退化軌跡的可靠性評估算法步驟如下：第一步、收集試驗產品在時間t₁，t₂，t₃，……，t_m的性能退化數據，依據性能退化曲線趨勢，選擇適當的退化模型；第二步、根據記錄的性能退化數據估計各個樣本性能退化模型的參數。第三步、假設失效閾值為D_f，根據求得的樣本退化模型，外推求出各個樣本的偽壽命T₁，T₂，……，T_n；第四步、對偽失效壽命數據進行分布假設檢驗，選擇偽壽命數據可能服從的分布，高可靠長壽命的失效壽命一般服從Weibull分布、對數正態分布或正態分布；第五步將上面得到的偽失效壽命數據視為完全壽命數據，根據選定壽命分布的可靠性評估方法對產品進行評估。而偽失效壽命的提出僅僅是通過假設一個閾值來獲得，這給研究結果帶來不確定性，實際應用效果差。

發明內容

本發明的目的在于提供一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，解決貯存壽命試驗準確度的問題，可根據常溫貯存試驗數據對加速貯存壽命試驗進行修正，提供試驗結果準確性，并使加速貯存壽命試驗更具有可操作性。

本發明的技術方案如下：一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，該方法具體包括如下步驟：

步驟1、對多層瓷介電容器在多個高溫點下進行貯存試驗，并根據測試數據獲得該多層瓷介電容器電容量退化線性曲線；

步驟2、根據常溫下多層瓷介電容器電容量的退化數據，獲得該多層瓷介電容器在預設時間內電容量的退化量；

步驟3、根據常溫下多層瓷介電容器電容量的退化線性方程，獲得多個高溫點下，電容量達到步驟2中多層瓷介電容器在規定時間內電容量的退化量時的時間，并擬合獲得時間-溫度曲線；

步驟4、利用步驟3中獲得的時間-溫度曲線線性方程，獲得常溫下多層瓷介電容器電容量達到步驟2中多層瓷介電容器在規定時間內電容量的退化量時的時間，從而判斷步驟2中所獲得該多層瓷介電容器電容量退化量所需時間的合理性。

所述的步驟1具體包括：

步驟1.1、在已知多層瓷介電容器電容量的退化數據情況下，設定多個高溫點T₁,T₂....T_n進行高溫貯存試驗，其中T₁＜T₂＜....＜T_n，且最低溫度T₁高于常溫25℃，在預先設定的時間段內進行電容量退化測試，其中，多層瓷介電容器的測量需要在恢復到常溫下進行，恢復時間為24小時，恢復時間不計入高溫貯存試驗時間內；