[發(fā)明專利]多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210250669.7
• 申請日: 2012-07-19
• 公開（公告）號: CN103576009A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 彭磊;劉泓;熊盛陽;杜紅焱;孫淑英;官巖;趙彥飛;汪翔;吳立強;鄔文浩;張愛學(xué);高憬楠;林德建
• 申請（專利權(quán)）人: 中國運載火箭技術(shù)研究院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 高尚梅

1.一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，其特征在于：該方法具體包括如下步驟：

步驟1、對多層瓷介電容器在多個高溫點下進行貯存試驗，并根據(jù)測試數(shù)據(jù)獲得該多層瓷介電容器電容量退化線性曲線；

步驟2、根據(jù)常溫下多層瓷介電容器電容量的退化數(shù)據(jù)，獲得該多層瓷介電容器在預(yù)設(shè)時間內(nèi)電容量的退化量；

步驟3、根據(jù)常溫下多層瓷介電容器電容量的退化線性方程，獲得多個高溫點下，電容量達到步驟2中多層瓷介電容器在規(guī)定時間內(nèi)電容量的退化量時的時間，并擬合獲得時間-溫度曲線；

步驟4、利用步驟3中獲得的時間曲線線性方程，獲得常溫下多層瓷介電容器電容量達到步驟2中多層瓷介電容器在規(guī)定時間內(nèi)電容量的退化量時的時間，從而判斷步驟2中所獲得該多層瓷介電容器電容量退化量所需時間的合理性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，其特征在于：所述的步驟1具體包括：

步驟1.1、在已知多層瓷介電容器電容量的退化數(shù)據(jù)情況下，設(shè)定多個高溫點T₁,T₂....T_n進行高溫貯存試驗，其中T₁＜T₂＜....＜T_n，且最低溫度T₁高于常溫25℃，在預(yù)先設(shè)定的時間段內(nèi)進行電容量退化測試，其中，多層瓷介電容器的測量需要在恢復(fù)到常溫下進行，恢復(fù)時間為24小時，恢復(fù)時間不計入高溫貯存試驗時間內(nèi)；

步驟1.2、根據(jù)T₁,T₂....T_n溫度下獲得的多層瓷介電容器電容量的退化數(shù)據(jù)建立加速模型，具體為：取每個測試點的數(shù)據(jù)平均值作為該點的測試數(shù)據(jù)，以該點的測試數(shù)據(jù)為縱軸，以時間為橫軸，對測試數(shù)據(jù)進行最小二乘法擬合，獲得T₁,T₂....T_n溫度下形如y＝α₁x+β₁的線性方程的電容量退化曲線。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，其特征在于：所述的步驟2具體為：

根據(jù)常溫下多層瓷介電容器電容量的退化數(shù)據(jù)，進行最小二乘法擬合，獲得常溫下多層瓷介電容器電容量的退化線性方程y＝α₂x+β₂；預(yù)設(shè)多層瓷介電容器的貯存壽命t，根據(jù)常溫下多層瓷介電容器電容量的退化線性方程y＝α₂x+β₂，可獲得常溫貯存時間為t時，多層瓷介電容器電容量的退化量Δy。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，其特征在于：所述的步驟3具體為：

根據(jù)T₁,T₂....T_n溫度下y＝α₁x+β₁的線性方程的電容量退化曲線，獲得電容量退化量達到步驟2中常溫貯存時間為T時，多層瓷介電容器電容量的退化量為Δy時所需的時間t₁,t₂....t_n；依據(jù)lnt與成正比關(guān)系，以為橫坐標，lnt為縱坐標，將T₁,T₂....T_n溫度下多層瓷介電容器電容量的退化量為Δy時所需的時間t₁,t₂....t_n在直角坐標系中擬合出lnt與的時間-溫度曲線線性方程其中，T為絕對溫度。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種多層瓷介電容器加速貯存壽命試驗方法，其特征在于：所述的步驟3中l(wèi)nt與成正比關(guān)系獲得具體為：通過Arrhenius公式dMdt=Aexp(-EakT)]]>推導(dǎo)可得，lnΔM=lnt-lnA+ΔEkT,]]>其中，Ea為激活能；K為玻爾茲曼常數(shù)；T為絕對溫度；A為指前因子；M為考核的變量；t為試驗時間；上式可變換為式中a＝lnΔM+lnA，因此，在參數(shù)變化量相同的條件下，lnt與成正比關(guān)系，斜率為b。