[發明專利]半導體器件及其制造方法有效
| 申請號: | 201210239365.0 | 申請日: | 2012-07-10 |
| 公開(公告)號: | CN102881680A | 公開(公告)日: | 2013-01-16 |
| 發明(設計)人: | 松木浩久;作間正雄 | 申請(專利權)人: | 富士通半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/552 | 分類號: | H01L23/552;H01Q1/22 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 柳春雷 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導體器件,包括:
電路板;
半導體元件,其安裝在所述電路板上;
屏蔽層,其設置在所述半導體元件的上表面上;
天線元件,其設置在所述屏蔽層的上方;以及
連接部分,其經過所述屏蔽層,并電連接所述半導體元件和所述天線元件。
2.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,所述連接部分包括硅通孔。
3.根據權利要求1所述的半導體器件,其中
所述連接部分具有柱狀形狀,并經過所述屏蔽層以電連接到所述半導體元件,并且
所述天線元件電連接到所述連接部分。
4.根據權利要求1所述的半導體元件,還包括:
密封樹脂,其密封所述半導體元件,其中
所述天線元件設置在所述密封樹脂上,
所述連接部分具有柱狀形狀,并經過所述密封樹脂以電連接到所述電路板,并且
所述天線元件電連接到所述連接部分。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的半導體器件,其中
所述天線元件包括
第一天線層,其設置在所述屏蔽層的上方,
第二天線層,其設置在所述第一天線層的上方,和
介質層,其設置在所述第一天線層和所述第二天線層之間。
6.根據權利要求1至3中任一項所述的半導體器件,其中
所述天線元件包括
天線層,其設置在所述屏蔽層的上方,和
介質層,其設置在所述屏蔽層和所述天線層之間。
7.根據權利要求5所述的半導體器件,其中,所述天線元件包括經過所述介質層的導電部分。
8.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,所述屏蔽層包括包含磁性顆粒的樹脂層。
9.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,所述屏蔽層包括由磁性材料組成的磁性層。
10.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,所述屏蔽層包括由金屬材料組成的金屬層。
11.一種制造半導體器件的方法,所述方法包括:
在半導體元件的上表面形成屏蔽層;
形成柱狀連接部分,以經過所述屏蔽層,并電連接到所述半導體元件;
在所述屏蔽層的上方形成天線元件,以電連接到所述連接部分;以及
在形成所述天線元件之后將所述半導體元件安裝在電路板上。
12.根據權利要求11所述的方法,其中,所述柱狀連接部分包括經過所述半導體元件的硅通孔。
13.一種制造半導體器件的方法,所述方法包括:
在半導體元件的上表面形成屏蔽層;
在形成所述屏蔽層之后將所述半導體元件安裝在電路板上;
將柱狀連接部分電連接到所述電路板;
用密封樹脂密封所述半導體元件和所述連接部分;并且
在所述密封樹脂的上方形成天線元件,以電連接到所述連接部分。
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