[發明專利]一種電路可靠性的測試方法和相關裝置有效
| 申請號: | 201210239194.1 | 申請日: | 2012-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN102759703A | 公開(公告)日: | 2012-10-31 |
| 發明(設計)人: | 蔡元坤;葉許;陳國強 | 申請(專利權)人: | 深圳珈偉光伏照明股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 唐華明 |
| 地址: | 518117 廣東省深圳市龍崗*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電路 可靠性 測試 方法 相關 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及電路領域,尤其涉及一種電路可靠性的測試方法和相關裝置。
背景技術
草坪燈系列產品通常設置有兩種工作模式:6小時模式(6h)和10小時模式(10h),并且這兩種模式之間可以自由轉換,其主要通過在該產品的電路上分別設置連接兩種模式的引腳以及連接各個引腳進行轉換控制的開關實現,當該開關連接在6小時模式的引腳上時該電路工作在6小時模式下,當該開關從6小時模式的引腳轉換到10小時模式的引腳上時該電路就工作在10小時模式下,當該開關關閉時,整個電路處于關閉(OFF)模式。電路工作的兩種模式以及電源的開和關也通過此開關來同步控制,因此,該開關又通常稱之為三檔雙聯開關,能夠實現“6h-OFF-10h”功能轉換的。
為了測試此類產品的電路在這三種模式之間轉換時電路的可靠性如何,即需要測試在這三種模式之間轉換是否會引起電路發熱、損壞等多種不良現象,現有技術的做法是用大量的三檔雙聯開關一一連接到該電路上,然后讓三檔雙聯開關在三個模式之間轉換,觀察電路是否出現不良現象,本發明的發明人發現:這種通過大量的三檔雙聯開關進行逐一測試的方法每使用一個三檔雙聯開關都需要單獨連接到該電路上,測試過程相當繁雜,也不能夠快速的發現電路可能存在的隱患,且三檔雙聯開關是連接在電路中的元件,使用三檔雙聯開關做測試的方法能夠測試出電路存在隱患的可能性也很小。由于需要大量的三檔雙聯開關且多次測試也同樣影響三檔雙聯開關的壽命,使得測試成本也較高。
發明內容
本發明實施例提供了一種電路可靠性的測試方法和相關裝置,用于簡化電路的測試過程,能夠快速發現電路的隱患,降低測試成本。
為解決上述技術問題,本發明實施例提供以下技術方案:
一方面,本發明實施例提供一種電路可靠性的測試方法,包括:
將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上,所述電路包括:第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳,所述電路在所述第一引腳和所述第二引腳通過所述第一聯刀片連通且同時所述第三引腳和所述第四引腳通過第二聯刀片連通時工作在第一模式;
對所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路進行可靠性測試。
另一方面,本發明實施例還提供電路可靠性的測試裝置,包括:
第一連通單元,用于將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上,所述電路包括:第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳,所述電路在所述第一引腳和所述第二引腳通過所述第一聯刀片連通且同時所述第三引腳和所述第四引腳通過第二聯刀片連通時工作在第一模式;
第一測試單元,用于對所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路進行可靠性測試。
從以上技術方案可以看出,本發明實施例具有以下優點:
在本發明實施例中,對于包括有四個引腳的電路,只通過第一聯刀片連通了第一引腳和第二引腳,此時由于電路的四個引腳并沒有同時被連通故電路不會進入工作,此時對只連通了第一引腳和第二引腳的電路進行可靠性測試,由于此種情況通常是電路能夠容忍的極限,故可以判斷出該電路的可靠性能,能夠快速發現電路的隱患,本發明實施例的方法不需要大量三檔雙聯開關,測試過程簡單易行,測試成本較低。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域的技術人員來講,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明實施例提供的一種電路可靠性的測試方法的流程示意圖;
圖2為本發明實施例提供的一種電路與第一聯刀片、第二聯刀片的結構關系示意圖;
圖3為本發明實施例提供的另一種電路可靠性的測試方法的流程示意圖;
圖4為本發明實施例提供的另一種電路可靠性的測試方法的流程示意圖;
圖5為本發明實施例提供的另一種電路與第一聯刀片、第二聯刀片的結構關系示意圖;
圖6為本發明實施例提供的另一種電路與第一聯刀片、第二聯刀片的結構關系示意圖;
圖7為本發明實施例提供的電路可靠性的測試裝置的結構示意圖。
具體實施方式
本發明實施例提供了一種電路可靠性的測試方法和相關裝置,用于簡化電路的測試過程,降低測試成本。
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