[發明專利]一種電路可靠性的測試方法和相關裝置

有效

• 申請號: 201210239194.1
• 申請日: 2012-07-11
• 公開（公告）號: CN102759703A
• 公開（公告）日: 2012-10-31
• 發明（設計）人: 蔡元坤;葉許;陳國強
• 申請（專利權）人: 深圳珈偉光伏照明股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 唐華明

1.一種電路可靠性的測試方法，其特征在于，包括：

將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上，所述電路包括:第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳，所述電路在所述第一引腳和所述第二引腳通過所述第一聯刀片連通且同時所述第三引腳和所述第四引腳通過第二聯刀片連通時工作在第一模式；

對所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路進行可靠性測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上之后，將所述第二聯刀片置于所述電路的所述第三引腳和所述第四引腳上；

對先將所述第一聯刀片連通所述第一引腳和所述第二引腳之后再將所述第二聯刀片連通所述第三引腳和所述第四引腳的所述電路進行可靠性測試。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述電路還包括第五引腳和第六引腳時，將所述第二聯刀片置于所述電路的所述第三引腳和所述第四引腳上之后，將所述第一聯刀片置于所述電路的所述第二引腳和所述第五引腳上，其中，所述電路在所述第四引腳和所述第六引腳通過所述第二聯刀片連通、且同時所述第二引腳和所述第五引腳通過所述第一聯刀片連通時工作在第二模式；

對已經將所述第二聯刀片連通所述第三引腳和所述第四引腳之后再將所述第一聯刀片連通所述第二引腳和所述第五引腳的所述電路進行可靠性測試。

4.根據權利2所述的方法，其特征在于，在將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上之后的預置時間內將所述第二聯刀片置于所述電路的所述第三引腳和所述第四引腳上，所述預置時間為1毫秒ms至5秒s之間的任一時刻。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路進行可靠性測試，包括：

判斷所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路是否產生不正常發熱，或，判斷所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路是否損壞。

6.根據權利5所述的方法，其特征在于，所述判斷所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路是否損壞，包括：

將所述第一聯刀片連通所述第一引腳和所述第二引腳且同時將所述第二聯刀片連通所述第三引腳和所述第四引腳；

判斷所述電路是否正常工作在第一模式，若不是，表示所述電路已經損壞。

7.一種電路可靠性測試裝置，其特征在于，包括：

第一連通單元，用于將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上，所述電路包括:第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳，所述電路在所述第一引腳和所述第二引腳通過所述第一聯刀片連通且同時所述第三引腳和所述第四引腳通過第二聯刀片連通時工作在第一模式；

第一測試單元，用于對所述第一聯刀片已經連通所述第一引腳和所述第二引腳的所述電路進行可靠性測試。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述電路可靠性測試裝置還包括：

第二連通單元，用于在將第一聯刀片置于電路的第一引腳和第二引腳上之后，將所述第二聯刀片置于所述電路的所述第三引腳和所述第四引腳上；

第二測試單元，用于對先將所述第一聯刀片連通所述第一引腳和所述第二引腳之后再將所述第二聯刀片連通所述第三引腳和所述第四引腳的所述電路進行可靠性測試。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述電路可靠性測試裝置還包括：

第三連通單元，用于當所述電路還包括第五引腳和第六引腳時，將所述第二聯刀片置于所述電路的所述第三引腳和所述第四引腳上之后，將所述第一聯刀片置于所述電路的所述第二引腳和所述第五引腳上，其中，所述電路在所述第四引腳和所述第六引腳通過所述第二聯刀片連通、且同時所述第二引腳和所述第五引腳通過所述第一聯刀片連通時工作在第二模式；

第三測試單元，用于對已經將所述第二聯刀片連通所述第三引腳和所述第四引腳之后再將所述第一聯刀片連通所述第二引腳和所述第五引腳的所述電路進行可靠性測試。