[發明專利]產生集成電路模型的方法有效
| 申請號: | 201210235529.2 | 申請日: | 2012-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN103207925A | 公開(公告)日: | 2013-07-17 |
| 發明(設計)人: | 李孟蓉;王鼎雄;羅幼嵐;高淑怡 | 申請(專利權)人: | 瑞昱半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 馮志云;呂俊清 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 產生 集成電路 模型 方法 | ||
1.一種產生集成電路模型的方法,包含:
根據一電路連接布局與一隔離單元拓樸產生一電路隔離節點文件;
根據該電路連接布局與一端口電壓規格文件,產生一界面節點電壓布局;及
根據該電路隔離節點文件與該界面節點電壓布局,產生一集成電路電壓模型。
2.如權利要求1所述的方法,其中根據該電路連接布局與該隔離單元拓樸產生該電路隔離節點文件包含:
執行一指令集程序中包含的至少一第一指令,并以該電路連接布局與該隔離單元拓樸作為該至少一第一指令的輸入參數,以產生該電路隔離節點文件;及
其中根據該電路連接布局與該端口電壓規格文件,產生該界面節點電壓布局包含:
執行該指令集程序中包含的至少一第二指令,并以該電路連接布局與該端口電壓規格文件作為該至少一第二指令的輸入參數,以產生該界面節點電壓布局。
3.如權利要求1所述的方法,其中根據該電路連接布局與該端口電壓規格文件,產生該界面節點電壓布局包含:
追蹤該電路連接布局所包含的一節點在該電路連接布局中的電流路徑,并根據該端口電壓規格文件中所記錄該電路連接布局所包含的各節點的電壓規格,決定該節點對應的一電源節點與一接地節點;及
記錄該節點以及其所對應的該電源節點與該接地節點,以產生該界面節點電壓布局。
4.如權利要求3所述的方法,其中追蹤該電路連接布局所包含的該節點在該電路連接布局中的電流路徑,并根據該端口電壓規格文件中所記錄該電路連接布局所包含的各節點的電壓規格,決定該節點對應的該電源節點與該接地節點包含:
當該節點被設定為一輸入節點時,禁止追蹤該節點的電流路徑在該電路連接布局中所經的金氧半晶體管的源極或漏極。
5.如權利要求3所述的方法,其中追蹤該電路連接布局所包含的該節點在該電路連接布局中的電流路徑,并根據該端口電壓規格文件中所記錄該電路連接布局所包含的各節點的電壓規格,決定該節點對應的該電源節點與該接地節點包含:
當該節點被設定為一輸出節點時,禁止追蹤該節點的電流路徑在該電路連接布局中所經的金氧半晶體管的柵極。
6.如權利要求3所述的方法,其中追蹤該電路連接布局所包含的該節點在該電路連接布局中的電流路徑,并根據該端口電壓規格文件中所記錄該電路連接布局所包含的各節點的電壓規格,決定該節點對應的該電源節點與該接地節點包含:
當該節點的電流路徑在該電路連接布局中經在該電路連接布局中的一低壓降線性穩壓器時,將該低壓降線性穩壓器的一輸入端或一輸出端設定為該節點的該電源節點;及
追蹤該低壓降線性穩壓器的該輸入端或該輸出端在該電路連接布局中的電流路徑。
7.如權利要求1所述的方法,其中根據該電路連接布局與該隔離單元拓樸產生該電路隔離節點文件包含:
追蹤該電路連接布局所包含的一節點在該電路連接布局中的電流路徑,并根據該隔離單元拓樸所記錄的隔離元件的元件連結特征以及至少一個隔離點,確認該節點在該電路連接布局中的電流路徑是否經一隔離元件;及
當確認該節點在該電路流經布局中的電流路徑流經一隔離元件時,記錄該隔離元件,以產生該電路隔離節點文件。
8.如權利要求7所述的方法,其中追蹤該電路連接布局所包含的該節點在該電路連接布局中的電流路徑,并根據該隔離單元拓樸中所記錄的隔離元件的元件連結特征以及該至少一個隔離點,確認該節點在該電路連接布局中的電流路徑是否經一隔離元件包含:
當該節點在該電路連接布局中的電流路徑所經的一元件具有連接至該至少一個隔離點的其中的一隔離點的一輸入端時,判斷該元件符合該隔離單元拓樸所記錄的隔離元件的元件連結特征而為一隔離元件。
9.如權利要求1所述的方法,另包含:
根據該界面節點電壓布局與該端口電壓規格文件,決定該界面節點電壓布局包含的多組節點群集的模擬電壓,其中該多組節點群集的每一節點群集包含一節點及該節點對應的一電源節點與一接地節點;及
根據該多組節點群集的模擬電壓,產生一集成電路功能方塊測試模型。
10.如權利要求1所述的方法,其中根據該電路隔離節點文件與該界面節點電壓布局,產生該集成電路電壓測試模型包含:
以一電源關閉節點文件更新該界面節點電壓布局,以產生已更新的一界面節點電壓布局;及
根據該電路隔離節點文件與已更新的該界面節點電壓布局,產生該集成電路電壓測試模型。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于瑞昱半導體股份有限公司,未經瑞昱半導體股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210235529.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





