[發明專利]一種基于雙針孔的超分辨顯微方法和裝置

有效

• 申請號: 201210226309.3
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN102735670A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 匡翠方;王軼凡;顧兆泰;李帥
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N21/21;G02B21/06
• 代理公司: 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224
• 代理人: 胡紅娟

1.一種基于雙針孔的超分辨顯微方法，包括激光器發射出的光束聚焦到樣品的表面形成信號光，將該信號光分為強度相等的兩束光，這兩束光分別通過第一針孔和第二針孔后進入相應探測器并進行對應的處理，其特征在于，所述第一針孔面積為0.5～2個愛里斑，所述第二針孔面積為2～5個愛里斑。

2.如權利要求1所述的基于雙針孔的超分辨顯微方法，其特征在于，所述第一針孔面積為1.5個愛里斑，所述第二針孔面積為4.5個愛里斑。

3.如權利要求2所述的基于雙針孔的超分辨顯微方法，其特征在于，所述第二針孔為環形孔，所述環形孔的中心不透光面積為1.5個愛里斑，所述環形孔的透光部分與中心不透光部分面積之和為4.5個愛里斑。

4.一種基于雙針孔的超分辨顯微裝置，包括用于發出光束的激光器，沿所述光束的光路依次布置的偏振片、偏振分束器、四分之一波片、第一透鏡和用于承載待測樣品的納米平移臺，依次布置在所述偏振分束器的反射光路上的第二透鏡和分束器，分別用于對所述分束器射出的第一測量光和第二測量光進行濾波的第一針孔和第二針孔，以及收集通過所述第一針孔和第二針孔的光強信號的探測系統，其特征在于，所述第一針孔面積為0.5～2個愛里斑，所述第二針孔面積為2～5個愛里斑。

5.如權利要求4所述的基于雙針孔的超分辨顯微裝置，其特征在于，所述第一針孔面積為1.5個愛里斑，所述第二針孔面積為4.5個愛里斑。

6.如權利要求5所述的基于雙針孔的超分辨顯微裝置，其特征在于，所述第二針孔為環形孔，所述環形孔的中心不透光面積為1.5個愛里斑，所述環形孔的透光部分與中心不透光部分面積之和為4.5個愛里斑。

7.如權利要求4所述的基于雙針孔的超分辨顯微裝置，其特征在于，所述激光器與偏振片之間依次設有用于對光束進行耦合的單模光纖和對光束進行準直的準直透鏡。

8.一種基于雙針孔的超分辨顯微裝置，包括：用于發出光束的激光器，沿所述光束的光路依次布置的第一透鏡和用于承載待測樣品的納米平移臺，用于將所述樣品表面發出的信號光分為第一測量光和第二測量光的分束器，分別用于對所述分束器射出的第一測量光和第二測量光進行濾波的第一針孔和第二針孔，以及收集通過所述第一針孔和第二針孔的光強信號的探測系統，其特征在于，所述第一透鏡和激光器之間設有用于反射所述樣品表面發出的信號光的二向色鏡，所述二向色鏡與所述分束器之間設有帶通濾光片。

9.如權利要求8所述的基于雙針孔的超分辨顯微裝置，其特征在于，所述激光器與二向色鏡之間依次設有用于對光束進行耦合的單模光纖和對光束進行準直的準直透鏡。