[發明專利]一種含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池及其制備方法有效
| 申請號: | 201210218156.8 | 申請日: | 2012-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN103515462A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發明(設計)人: | 夏偉;于軍;吳德華;蘇來發;張新 | 申請(專利權)人: | 山東浪潮華光光電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;H01L31/18 |
| 代理公司: | 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219 | 代理人: | 呂利敏 |
| 地址: | 261061 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 復合 dbr ge gaas 薄膜 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
1.一種含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,包括采用MOCVD法制得外延結構,該太陽能電池的外延結構依次包括Ge襯底、GaAs緩沖層,AlGaAs/AlAs?DBR,AlInP/AlGaInP?DBR,AlGaAs背場層,GaAs?n-基層,GaAs發射層,AlGaAs窗口層,GaAs電極接觸層;其中,AlGaAs/AlAsDBR依次是可反射600nm、650nm、700nm三個波段光譜的反射層構成的復合結構。
2.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于Ge襯底厚度為150~200μm。
3.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于GaAs緩沖層厚度為0.3~1.5μm,載流子濃度為1E18cm-3~6E19cm-3。
4.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于AlGaAs/AlAs?DBR依次是反射600nm光譜的5~10對AlGaAs/AlAs?DBR、反射650nm光譜的5~10對AlGaAs/AlAs?DBR、反射700nm光譜的5~10對AlGaAs/AlAs?DBR,載流子濃度為1E18cm-3~9E18cm-3。
5.如權利要求4所述的含復合DBR的Ge基單結太陽能電池,,其特征在于反射600nm、650nm、700nm三個波段光的三種反射層的厚度分別是0.2~0.3μm、0.2~0.3μm、0.2~0.4μm。
6.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于AlInP/AlGaInP?DBR厚度為0.2~0.4μm,載流子濃度為2E18cm-3~1E19cm-3。
7.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于AlGaAs背場層厚度為0.1~0.5μm,載流子濃度1E18cm-3~4E19cm-3。
8.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于GaAsn-基層厚度為2~5μm,載流子濃度為1E17cm-3~5E18cm-3;GaAs發射層厚度為0.05~0.5μm,載流子濃度為1E18cm-3~8E19cm-3。
9.如權利要求1所述的含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池,其特征在于AlGaAs窗口層厚度為20~100nm,載流子濃度為1E18cm-3~2E19cm-3;GaAs電極接觸層厚度為0.2~1μm,載流子濃度8E18cm-3~5E19cm-3。
10.一種含復合DBR的Ge基GaAs薄膜單結太陽能電池的制備方法,包括采用MOCVD法制備外延結構,包括以下步驟:
(1)將Ge襯底放入反應室,在350-600℃的溫度范圍內生長一層0.3~1.5μm厚的GaAs材料的緩沖層,載流子濃度為1E18cm-3~6E19cm-3;
(2)在緩沖層上面于400~750℃的溫度先生長復合結構AlGaAs/AlAs?DBR:首先生長反射600nm光譜的5-10對AlGaAs/AlAs?DBR,然后調整生長厚度生長反射650nm光譜的5~10對AlGaAs/AlAsDBR,再調整生長厚度生長反射700nm光譜的5~10對AlGaAs/AlAs?DBR用來反射大部分的光子,其載流子濃度為1E18cm-3~9E18cm-3;復合結構中反射600nm、650nm、700nm三個波段光譜的反射層厚度分別是0.2~0.3μm、0.2~0.3μm、0.2~0.4μm;
(3)在生長好的AlGaAs/AlAs?DBR上面再次生長2~5對Al?InP/AlGaInP作為第二布拉格反射層,厚度0.2~0.4μm,用來反射低能態的光子,提高轉化效率,載流子濃度為2E18cm-3~1E19cm-3;
(4)在500-800℃的溫度范圍內,繼續生長一層0.1~0.5μm厚的AlGaAs材料作為背場層,載流子濃度1E18cm-3~4E19cm-3;
(5)繼續在背場層上生長,在500-700℃范圍內,生長一層n-基層,n-基層的材料是GaAs,厚度在2~5μm,其載流子濃度為1E17cm-3~5E18cm-3;
(6)在550-800℃的溫度條件下,繼續生長一層發射層,發射層材料是GaAs,厚度在0.05~0.5μm,其載流子濃度為1E18cm-3~8E19cm-3;
(7)在500-700℃的條件下,在發射層上面繼續生長一層窗口層,窗口層材料為AlGaAs,厚度為20~100nm,載流子濃度為1E18cm-3~2E19cm-3;
(8)最上面一層,在溫度500-800℃范圍內生長電極接觸層,電極接觸層材料為GaAs,厚度為0.2~1μm,載流子濃度8E18cm-3~5E19cm-3。
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