[發明專利]一種低引腳數的晶體管測試電路無效
| 申請號： | 201210217438.6 | 申請日： | 2012-06-28 |
| 公開（公告）號： | CN103513172A | 公開（公告）日： | 2014-01-15 |
| 發明（設計）人： | 李煜文;陳效軍 | 申請（專利權）人： | 上海摩晶電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;H01L23/544 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 200235 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 引腳 晶體管 測試 電路 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試電路的設計，用于集成電路的生產和測試，采用低引腳數的測試電路結構。
2.一種符合權利要求1所述的設計，其特征在于，將大批待測除柵(G)晶體管并聯起來，采用對柵極采取反向偏置的辦法關閉不想測試的晶體管。
3.一種符合權利要求1及權利要求2所述的設計，其特征在于，上述開關由脈沖計數器控制，用一個輸入引腳即可完成。
4.一種符合權利要求1所述的設計，其特征在于，電路主要包括計數器和PASSPAGE陣列兩部分。
5.一種符合權利要求4所述的設計，其特征在于，計數器將輸入后的串行計數信號（可以也不一定是脈沖數）轉換成對應一個晶體管的柵極的并行高低（0或1）信號；此計數器通常應能識別串行輸入內嵌入的復位信號，除非允許另設一個復位引腳。
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