[發明專利]測試設備自動校準儀、校準系統及校準方法

有效

• 申請號: 201210217050.6
• 申請日: 2012-06-27
• 公開（公告）號: CN102749604A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 陳強;葉川;唐亮
• 申請（專利權）人: 北京泛華恒興科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京市惠誠律師事務所 11353
• 代理人: 雷志剛;潘士霖

技術領域

本發明涉及一種儀器校準技術，尤其涉及一種測試設備自動校準儀、校準系統及校準方法。

背景技術

隨著社會經濟的發展，測試設備在科研、軍工、電力及制造等行業中得到廣泛應用。在所有的測試設備中，信號發生器和示波器是使用最為廣泛的兩種測試設備，由于測試設備本身就是一個復雜的電子系統，其受時間、溫度環境等多個因素的影響，測試精度會有所改變，因此為了保證產品性能，必須對測試設備進行定期的校準，按照國家計量檢定規程的規定，信號發生器需要校準的指標包括頻率準確度、電平準確度等三十多個，示波器需要校準的指標多達十多項。

圖1為現有技術中信號發生器校準系統的連接示意圖，標準信號發生器包括頻譜分析儀2、測量接收機3、微波頻率計4和音頻分析儀5，以校準諧波指標為例，待校準信號發生器1通過信號電纜與頻譜分析儀2相連，手動設置信號發生器1的輸出電平、載波頻率以及頻譜分析儀2的參考電平、中心頻率和帶寬等，校準過程中還需手動更改待校準信號發生器1的載波頻率和頻譜分析儀的中心頻率，以測試所有要求的諧波峰值，如果需要校準其他指標，則需要重新設置相關參數，還需手動插拔信號電纜將待校準信號發生器1與其他校準設備相連。

圖2為現有技術中示波器校準系統的連接示意圖，待校準示波器7與標準示波器6相連，之后手動恢復待校準示波器7的出廠設置，并手動設置待校準示波器7的采樣模式、測量模式、垂直偏轉系數、翻轉設置和帶寬等，根據不同的設置在待校準示波器7上讀出不同的測量值，并記錄下來，由于待校準示波器7具有很多通道，每個通道還針對不同的測試參數，因此當一個通道的所有校準完成后，需要手動的跟換連線將標準示波器6的輸出連接到待校準示波器7的另一個通道。

通過以上描述可以看出，現有技術中的測試設備的校準存在以下缺點：

第一，操作復雜：需要手動連接線纜和設置參數；

第二，誤差大：頻繁的插拔接插件對測試信號有較大影響，人工記錄數據會引入誤差。

發明內容

本發明提供一種測試設備自動校準儀、校準系統及校準方法，用于解決現有技術對于信號發生器和示波器校準誤差大、操作復雜的問題。

一種測試設備自動校準儀，包括：

控制器以及與控制器相連的選通模塊；

控制器用于根據預定設置信息發送選通命令，并控制外部的待校準測試設備相對外部相應的標準測試設備進行校準；

選通模塊用于根據選通命令，自動選通控制器與相應的標準測試設備和待校準測試設備之間特定測試通道的電連接。

一種測試設備自動校準系統，包括上述的測試設備自動校準儀，還包括待校準測試設備和相應的標準測試設備，待校準測試設備和相應的標準測試設備均與選通模塊相連。

一種測試設備自動校準方法，包括：

步驟S10、控制器根據預定設置生成選通命令，并將選通命令發送給選通模塊；

步驟S20、選通模塊根據選通命令，自動選通控制器與相應的標準測試設備和待校準測試設備之間特定測試通道的電連接；

步驟S30、基于已建立的電連接，所述控制器控制相應的待校準測試設備相對相應的標準測試設備進行校準。

本發明提供的一種測試設備自動校準儀、校準系統及校準方法，控制器通過選通模塊控制外部的待校準測試設備相對外部的相應標準測試設備的自動校準；解決了現有技術中需要手動插拔線纜導致的操作復雜和誤差大等問題。

附圖說明

圖1為現有技術中信號發生器校準系統的連接示意圖。

圖2為現有技術中示波器校準系統的連接示意圖。

圖3為本發明提供的測試設備自動校準儀一種實施例的結構示意圖。

圖4為本發明提供的測試設備自動校準系統第一種實施例的結構示意圖。

圖5為本發明提供的測試設備自動校準系統第二種實施例的結構示意圖。

圖6為本發明提供的測試設備自動校準系統第三種實施例的結構示意圖。

圖7為本發明提供的測試設備自動校準系統第四種實施例的結構示意圖。

圖8為本發明提供的測試設備自動校準系統第五種實施例的結構示意圖。

圖9為本發明提供的測試設備自動校準方法的流程圖。

具體實施方式

下面參照附圖來說明本發明的實施例。在本發明的一個附圖或一種實施方式中描述的元素和特征可以與一個或者更多個其他附圖或實施方式中示出的元素和特征相結合。應當注意，為了清楚目的，附圖和說明中省略了與本發明無關的、本領域普通技術人員已知的部件和處理的表示和描述。