[發明專利]測試設備自動校準儀、校準系統及校準方法

有效

• 申請號: 201210217050.6
• 申請日: 2012-06-27
• 公開（公告）號: CN102749604A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 陳強;葉川;唐亮
• 申請（專利權）人: 北京泛華恒興科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京市惠誠律師事務所 11353
• 代理人: 雷志剛;潘士霖

1.一種測試設備自動校準儀，其特征在于，所述測試設備自動校準儀包括：

控制器以及與所述控制器相連的選通模塊；

所述控制器用于根據預定設置信息發送選通命令，并控制外部的待校準測試設備相對外部相應的標準測試設備進行校準；

所述選通模塊用于根據所述選通命令，自動選通所述控制器與所述相應的標準測試設備和所述待校準測試設備之間特定測試通道的電連接。

2.根據權利要求1所述的測試設備自動校準儀，其特征在于，所述選通模塊為通用PXI模塊化儀器平臺。

3.根據權利要求2所述的測試設備自動校準儀，其特征在于，所述通用PXI模塊化儀器平臺包括：至少一個PXI功能模塊板卡，每個所述PXI功能模塊板卡用于選通連接一類所述相應的標準測試設備和一類所述待校準測試設備與所述控制器的電連接。

4.根據權利要求2所述的測試設備自動校準儀，其特征在于，所述控制器為工控機，或為與所述通用PXI模塊化儀器平臺適配的PXI控制板卡。

5.根據權利要求1-4任一所述的測試設備自動校準儀，其特征在于，所述控制器通過MXI總線與所述選通模塊相連。

6.一種測試設備自動校準系統，其特征在于，包括如權利要求1—5任一所述的測試設備自動校準儀，還包括待校準測試設備和相應的標準測試設備，所述待校準測試設備和相應的標準測試設備均與所述選通模塊相連。

7.根據權利要求6所述的測試設備自動校準系統，其特征在于，所述待校準測試設備為至少一臺待校準信號發生器，與所述待校準信號發生器相應的標準測試設備為至少一臺標準信號發生器；

和/或，

所述待校準測試設備為至少一臺待校準示波器，與所述待校準示波器相應的標準測試設備為至少一臺標準示波器。

8.根據權利要求7所述的測試設備自動校準系統，其特征在于，所述標準信號發生器為微波頻率計、測量接收機、頻譜分析儀或音頻分析儀。

9.根據權利要求7所述的測試設備自動校準系統，其特征在于，所述測試設備自動校準系統還包括通用計數器，所述通用計數器與所述待校準示波器以及所述標準示波器相連。

10.根據權利要求7所述的測試設備自動校準系統，其特征在于，所述待校準信號發生器和標準信號發生器通過GPIB總線與選通模塊相連。

11.根據權利要求7所述的測試設備自動校準系統，其特征在于，所述待校準示波器和標準示波器通過GPIB總線與選通模塊相連。

12.根據權利要求6所述的測試設備自動校準系統，其特征在于，所述自動校準儀還包括用于輸出校準結果報告的打印機，所述打印機與所述控制器相連。

13.一種測試設備自動校準方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟S10、控制器根據預定設置信息生成選通命令，并將選通命令發送給選通模塊；

步驟S20、選通模塊根據選通命令，自動選通控制器與相應的標準測試設備和待校準測試設備之間特定測試通道的電連接；

步驟S30、基于已建立的電連接，所述控制器控制相應的待校準測試設備相對相應的標準測試設備進行校準。

14.根據權利要求13所述的測試設備自動校準方法，其特征在于，所述選通命令包括待校準測試設備ID及其通信通道ID、待校準測試設備ID及其通信通道ID。

15.根據權利要求13所述的測試設備自動校準方法，其特征在于，校準完成之后，所述測試設備自動校準方法還包括：

步驟S40、通過打印機輸出校準結果報告；所述校準結果報告包括：校準過程數據和/或校準結果。

16.根據權利要求13所述的測試設備自動校準方法，其特征在于，生成選通命令之前，所述測試設備自動校準方法還包括：獲取所述預定設置信息，所述預定設置信息包括：選擇的待校準測試設備以及校準項目。