[發明專利]一種低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置

有效

• 申請號: 201210206441.8
• 申請日: 2012-06-21
• 公開（公告）號: CN102706778A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 張睿;金鳴林;徐耀民
• 申請（專利權）人: 上海應用技術學院
• 主分類號: G01N13/04
• 分類號: G01N13/04;G01N7/10
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 吳寶根

1.一種低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置，其特征在于所述的低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置由真空容器系統、溫度控制和測定系統、動態壓力測定系統、數據采集系統和供氣瓶組成；?

所述的真空容器系統由樣品池、供氣池、參比池、標定池、緩沖罐和真空泵組成，供氣池與樣品池的體積比為2-3：1；

所述的樣品池通過管道經閥門后與供氣池連接，供氣池上設有一路管道通過閥門與參比池連接，供氣池上還設有一路管道經四通后分別經閥門與標定池、緩沖罐及真空泵相連；

所述的緩沖罐上還設有一管道經閥門與供氣瓶相連，另外，緩沖罐池上還設有一實現放空的閥門；

所述的動態壓力測定系統即包括參比池上設有的絕壓計、參比池與供氣池間設有的差壓計及樣品池與參比池間設有的差壓計；?

所述的溫度控制和測定系統包括恒溫箱、供氣池測溫傳感器和樣品池測溫傳感器及樣品池恒溫爐；

上述的供氣池，參比池，標定池，緩沖罐及附屬管道、閥門和和測量儀表均放置在恒溫箱內；

???????所述的數據采集系統包括數據采集器及與其相連的計算機，數據采集器將參比池上的絕壓計、參比池與供氣池間的差壓計、參比池與樣品池間的差壓計、供氣池測溫傳感器和樣品池測溫傳感器發送的數據采集過來后送入與其相連的計算機。

2.如權利要求1所述的一種低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置，其特征在于所述的參比池與供氣池間的差壓計和參比池與樣品池間的差壓計的最大量程均為±10?torr，精度均為讀數的0.15%，響應時間小于50ms。

3.如權利要求2所述的一種低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置，其特征在于所述的數據采集器采集各參數的采集速度為2-4個/秒。

4.如權利要求3所述的一種低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置，其特征在于所述的數據采集器采集各參數，即參比池絕對壓力、參比池與供氣池間的差壓、參比池與樣品池間的差壓、供氣池溫度和樣品池溫度的記錄時間間隔為250-500ms。

5.如權利要求1、2?、3或4所述的一種低氣壓下弱吸附氣體在大塊體納米孔材料中有效擴散系數的測定裝置，其特征在于所述的供氣池上設有的一路管道經四通后分別經閥門與標定池、緩沖罐及真空泵相連；

其中所述的與緩沖罐及真空泵相連的閥門分別為3個串級相連閥門。