[發明專利]半導體光源條在老化測試中的冷卻系統及冷卻方法

有效

• 申請號: 201210199510.7
• 申請日: 2012-06-18
• 公開（公告）號: CN103514893B
• 公開（公告）日: 2017-11-10
• 發明（設計）人: 藤井隆司;王全保;張振飛
• 申請（專利權）人: 新科實業有限公司
• 主分類號: G11B5/455
• 分類號: G11B5/455
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫

1.一種半導體光源條在老化測試中的冷卻系統，包括：

用于夾持半導體光源條的夾具，所述夾具包括一殼體，所述殼體具有相互連通的進水通道和出水通道，所述半導體光源條的底部位于所述出水通道內；

與所述進水通道相連且位于所述殼體之外的第一水槽，所述第一水槽中裝有冷卻液；

與所述出水通道相連的第二水槽；以及

與所述出水通道相連的抽吸裝置，所述抽吸裝置至少將所述第一水槽中的冷卻液抽吸至所述第二水槽，從而沖刷所述半導體光源條的底部以降低其溫度。

2.如權利要求1所述的冷卻系統，其特征在于：所述夾具的殼體上形成一通孔，所述通孔與所述出水通道相連通；所述殼體上還包括一支柱，所述支柱從所述出水通道向上延伸并正對所述通孔，所述半導體光源條由所述支柱支撐。

3.如權利要求2所述的冷卻系統，其特征在于：所述半導體光源條的底部面向所述支柱，所述半導體光源條的頂部與一探針相連從而進行老化測試。

4.如權利要求1所述的冷卻系統，其特征在于：所述抽吸裝置包括分別與所述出水通道以及所述第二水槽相連的第一抽吸裝置，以將冷卻液從所述第一水槽抽吸至所述第二水槽；所述抽吸裝置還包括設置于所述第一水槽和所述第二水槽之間的第二抽吸裝置，以將所述冷卻液從所述第二水槽抽吸至所述第一水槽。

5.如權利要求4所述的冷卻系統，其特征在于：還包括至少一控制開關，以控制所述第一抽吸裝置和所述第二抽吸裝置之間的交替使用。

6.如權利要求1所述的冷卻系統，其特征在于：所述半導體光源條為激光二極管條或紫外光源條。

7.一種半導體光源條在老化測試中的冷卻方法，包括：

提供一夾具，所述夾具包括一殼體，所述殼體具有相互連通的進水通道和出水通道；

提供裝有冷卻液、與所述進水通道相連且位于所述殼體之外的第一水槽，提供與所述出水通道相連的第二水槽；

將半導體光源條夾持在所述夾具上，所述半導體光源條與所述出水通道相連通且所述半導體光源條的底部位于所述出水通道內；以及

抽吸所述夾具中的空氣，從而將所述第一水槽中的冷卻液抽吸至所述第二水槽，從而沖刷所述半導體光源條的底部以降低其溫度。

8.如權利要求7所述的冷卻方法，其特征在于：還包括將所述冷卻液從所述第二水槽抽吸至所述第一水槽。

9.如權利要求7所述的冷卻方法，其特征在于：所述半導體光源條為激光二極管條或紫外光源條。