[發(fā)明專利]半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試中的冷卻系統(tǒng)及冷卻方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210199510.7
• 申請(qǐng)日: 2012-06-18
• 公開（公告）號(hào): CN103514893B
• 公開（公告）日: 2017-11-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 藤井隆司;王全保;張振飛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 新科實(shí)業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G11B5/455
• 分類號(hào): G11B5/455
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試中的冷卻系統(tǒng)及冷卻方法，尤其涉及一種用于熱輔助磁記錄（heat assist magnetic recording，HAMR）裝置的激光二極管條在老化測(cè)試中的冷卻系統(tǒng)及冷卻方法。

背景技術(shù)

磁盤驅(qū)動(dòng)單元是常見(jiàn)的信息存儲(chǔ)設(shè)備。圖1a為一典型磁盤驅(qū)動(dòng)單元100的示意圖。其包括安裝于一主軸馬達(dá)102上的一系列可旋轉(zhuǎn)磁盤101，磁頭懸臂組合（head stack assembly，HSA）130。HSA 130包括至少一馬達(dá)臂104和一HGA 150。典型地，設(shè)置一音圈馬達(dá)（spindling voice-coil motor,VCM）(圖未示)以控制馬達(dá)臂104的動(dòng)作。

參考圖1b，HGA 150包括具有HAMR頭（圖未示）的磁頭103以及支撐該磁頭103的懸臂件190。該懸臂件190包括負(fù)載桿106、基板108、絞接件107以及撓性件105，以上元件均裝配在一起。在磁頭103的極尖上埋植一寫傳感器和讀傳感器（圖未示）以寫入或讀取數(shù)據(jù)。當(dāng)磁盤驅(qū)動(dòng)單元100運(yùn)作時(shí)，主軸馬達(dá)102使得磁盤101高速旋轉(zhuǎn)，而磁頭103因磁盤101旋轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的氣壓而在磁盤101上方飛行。該磁頭103在音圈馬達(dá)的控制下，在磁盤101的表面以半徑方向移動(dòng)。對(duì)于不同的磁軌，磁頭103能夠從磁盤101表面上讀取數(shù)據(jù)或?qū)?shù)據(jù)寫進(jìn)磁盤101。

該種HAMR頭在寫傳感器的位置上或附近位置上設(shè)置熱能源（通常為半導(dǎo)體光源），例如激光二極管。該種熱能源向記錄媒介提供能量，從而降低媒介的矯頑力以便于寫操作。具體地，由于矯頑力降低，因此記錄媒介的磁化方向會(huì)在磁頭的磁場(chǎng)下發(fā)生改變，因此數(shù)據(jù)得以記錄。該HAMR頭能使用更小的磁微粒，并能在室溫下獲得更大的磁各向異性，因此當(dāng)在高密度磁表面上進(jìn)行記錄時(shí)能保證充分的熱穩(wěn)定性。因此，此種HAMR頭變得越來(lái)越受消費(fèi)者喜愛(ài)。

通常地，在半導(dǎo)體光源安裝在磁頭上之前會(huì)進(jìn)行若干測(cè)試，例如向其施加熱能而進(jìn)行的老化測(cè)試。傳統(tǒng)地，老化測(cè)試通常在芯片層面上進(jìn)行，即，半導(dǎo)體光源條首先被切割成多個(gè)獨(dú)立的半導(dǎo)體光源芯片，繼而對(duì)這些芯片逐一進(jìn)行測(cè)試。然而，此種測(cè)試效率十分低，不符合工業(yè)的要求。鑒于此，一種有效的測(cè)試方法被開發(fā)出來(lái)：在條料層面上進(jìn)行老化測(cè)試，即，在半導(dǎo)體光源條切割之前直接進(jìn)行老化測(cè)試。這種測(cè)試方法的測(cè)試效率大大提高。然而，此方法會(huì)帶來(lái)溫度不均的問(wèn)題。由于在老化測(cè)試過(guò)程中，局部熱量會(huì)在半導(dǎo)體光源條上產(chǎn)生并在其內(nèi)積聚，從而使得半導(dǎo)體光源條中的溫度不均，而且熱量無(wú)法恰當(dāng)散退。當(dāng)半導(dǎo)體光源條，例如激光二極管的局部溫度升高時(shí)，一方面，電輸入到光輸出的換能效率降低，因此對(duì)固定的電輸入而言，其激光輸出則降低；另一方面，由于激光二極管的局部溫度升高，有可能超出老化測(cè)試所需的溫度，從而影響或破壞激光二極管的測(cè)試結(jié)果，進(jìn)而影響HAMR頭的性能。

因此，亟待一種改進(jìn)的半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試中的冷卻系統(tǒng)及冷卻方法以以克服上述缺陷。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試中的冷卻系統(tǒng)，其能將半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的熱量散退，并將其局部溫度均勻化，從而保持老化測(cè)試所需的溫度并提高HAMR頭的熱穩(wěn)定性。

本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試中的冷卻方法，其能將半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的熱量散退，并將其局部溫度均勻化，從而保持老化測(cè)試所需的溫度并提高HAMR頭的熱穩(wěn)定性。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體光源條在老化測(cè)試中的冷卻系統(tǒng)，包括：用于夾持半導(dǎo)體光源條的夾具，所述夾具包括一殼體，所述殼體具有相互連通的進(jìn)水通道和出水通道；與所述進(jìn)水通道相連的第一水槽，所述水槽中裝有冷卻液;與所述出水通道相連的第二水槽；以及與所述出水通道相連的抽吸裝置，所述抽吸裝置至少將所述第一水槽中的冷卻液抽吸至所述第二水槽，從而沖刷所述半導(dǎo)體光源條的底部以降低其溫度。

作為一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例，所述夾具的殼體上形成一通孔，所述通孔與所述出水通道相連通；所述殼體上還包括一支柱，所述支柱從所述出水通道向上延伸并正對(duì)所述通孔，所述半導(dǎo)體光源條由所述支柱支撐。

較佳地，所述半導(dǎo)體光源條的底部面向所述支柱，所述半導(dǎo)體光源條的頂部與一探針相連從而進(jìn)行老化測(cè)試。