[發(fā)明專利]薄膜晶體管陣列基板制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210196506.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102779784A | 公開(公告)日: | 2012-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李喜峰;陳龍龍;張建華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/77 | 分類號(hào): | H01L21/77 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
| 地址: | 200444*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜晶體管 陣列 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
????本發(fā)明涉及一種有源顯示技術(shù)的制造方法,特別是涉及到一種薄膜晶體管陣列基板制造方法。
背景技術(shù)
薄膜晶體管的英文全稱為Thin?Film?Transistor,縮寫為TFT。?
????現(xiàn)有基于氧化物的薄膜晶體管有源矩陣采用如下的工藝制造流程制作:首先在清洗潔凈的TFT玻璃基板上濺射底柵金屬層,通過(guò)光刻工藝將底柵金屬層圖形化處理,得到底柵電極的圖形;接著在圖形化后的底柵金屬層之上淀積絕緣層;接著濺射金屬源漏電極層,圖形化處理后得到薄膜晶體管有源矩陣的源、漏電極;接著沉積氧化物有源電極層,圖形化處理得到有源層島結(jié)構(gòu);接著沉積鈍化保護(hù)層,圖形化后干刻形成引線過(guò)孔;再沉積一層像素電極層,圖形化制作成像素電極結(jié)構(gòu),薄膜晶體管有源矩陣制作工藝結(jié)束。現(xiàn)有基于氧化物的薄膜晶體管有源矩陣制作工藝,薄膜晶體管制程采用的是五層掩摸對(duì)準(zhǔn)工藝,制造工藝周期長(zhǎng),同時(shí)光刻用掩摸加工、工藝材料等制造成本比較大。
????本發(fā)明采用的一種薄膜晶體管陣列基板制造方法,通過(guò)制造工藝的改善,實(shí)現(xiàn)了四掩摸對(duì)準(zhǔn)工藝來(lái)完成薄膜晶體管制程,利用此種方法不僅減少了工藝步驟縮短工藝制程時(shí)間,另一方面大量節(jié)約了生產(chǎn)制造成本,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了薄膜晶體管陣列基板的透明顯示制造。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)己有技術(shù)存在的缺陷,提供一種薄膜晶體管陣列基板制造方法,該工藝中薄膜晶體管有源矩陣層采用氧化物作為有源層,通過(guò)對(duì)工藝步驟的改善,可減少工藝步驟縮短工藝制程時(shí)間,同時(shí)大量節(jié)約生產(chǎn)制造成本。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種薄膜晶體管陣列基板制造方法,其特征在于,采用四層掩摸對(duì)準(zhǔn)工藝實(shí)現(xiàn)工藝制程,具體可分別采用第一制造方法與第二制造方法兩種工藝來(lái)實(shí)現(xiàn)。
其中第一制造方法情況下,其制造工藝步驟如下:
1)?在清洗潔凈的玻璃基板之上濺射柵極金屬層,之后利用mask1曝光工藝,刻蝕得到柵極電極圖形;
2)?生長(zhǎng)絕緣層;
3)?濺射源漏電極層,利用mask2曝光工藝,濕法刻蝕后制得源漏電極圖形,同時(shí),與源電極相連接的像素電極圖形同時(shí)制造完成;
4)?濺射氧化物有源層,利用mask3曝光工藝,采用濕法刻蝕制得有源層結(jié)構(gòu)圖形;
5)?CVD沉積鈍化保護(hù)層,利用mask4曝光工藝,用干法刻蝕方法刻蝕鈍化層結(jié)構(gòu)圖形。
至此,此種方法涉及的制造工藝步驟完成。
采用第二制造方法情況下,其制造工藝步驟如下:
1)?在清洗潔凈的玻璃基板之上濺射柵極金屬層,之后利用mask1曝光工藝,刻蝕之后得到柵極電極圖形;
2)?生長(zhǎng)絕緣層;
3)?濺射氧化物有源層,再用CVD沉積刻蝕阻擋層,利用mask3曝光工藝,首先用干法刻蝕刻蝕刻蝕阻擋層,再采用濕法刻蝕氧化物有源層制得有源層結(jié)構(gòu)圖形;
4)?濺射源漏電極層,利用mask2曝光工藝,濕法刻蝕后制得源漏電極圖形,同時(shí),與源電極相連接的像素電極同時(shí)制造完成;
5)?CVD沉積鈍化保護(hù)層,利用mask4曝光工藝之后,用干法刻蝕方法刻蝕鈍化層結(jié)構(gòu)圖形。
至此,此種方法涉及的制造工藝步驟完成。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比較,具有如下顯而易見的突出實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和顯著優(yōu)點(diǎn):
與現(xiàn)有基于氧化物的薄膜晶體管陣列基板相比,采用四層掩摸對(duì)準(zhǔn)工藝制造可明顯提高制程效率,并且可大量節(jié)省制造成本。
附圖說(shuō)明
圖1?薄膜晶體管陣列基板第一制造方法與第二制造方法工藝流程框圖
圖2A-圖2I??薄膜晶體管陣列基板第一制造方法工藝流程圖
圖3A-圖3J??薄膜晶體管陣列基板第二制造方法工藝流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明:
實(shí)施例1:
參見圖1、圖2A-圖2I,本基于氧化物的薄膜晶體管陣列基板四層掩摸對(duì)準(zhǔn)工藝第一制造方法制造工藝如下:
玻璃基板11選用TFT玻璃基板,首先對(duì)TFT玻璃基板進(jìn)行清洗,為后續(xù)膜結(jié)構(gòu)沉積質(zhì)量提供保證。玻璃基板清洗準(zhǔn)備完成之后,在玻璃基板11之上淀積多層膜層結(jié)構(gòu)。工藝步驟如下:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海大學(xué),未經(jīng)上海大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210196506.5/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種利用粉煤灰加工玻璃纖維的工藝
- 下一篇:一種防燙手杯墊
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





