[發(fā)明專利]用于操作存儲(chǔ)器以及處理存儲(chǔ)單元的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210193022.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102820064B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-07-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | S·K·奇拉帕加里;G·伯德;陳振鋼 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 馬維爾國(guó)際貿(mào)易有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/42 | 分類號(hào): | G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所11256 | 代理人: | 酆迅,楊移 |
| 地址: | 巴巴多斯*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 識(shí)別 減輕 存儲(chǔ)器 系統(tǒng) 中的 錯(cuò)誤 | ||
1.一種用于操作存儲(chǔ)器的方法,包括:
估計(jì)用于存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的第一組對(duì)數(shù)似然比LLR值,其中所述第一組LLR值中的每個(gè)LLR值被分配給所述多個(gè)存儲(chǔ)單元中的相應(yīng)存儲(chǔ)單元;
基于所述第一組LLR值,執(zhí)行第一糾錯(cuò)碼ECC解碼操作;
響應(yīng)于確定第一ECC解碼操作失敗,通過(guò)調(diào)整所述第一組LLR值生成用于所述多個(gè)存儲(chǔ)單元的第二組LLR值,其中所述第二組LLR值中的每個(gè)LLR值被分配給所述多個(gè)存儲(chǔ)單元中的相應(yīng)存儲(chǔ)單元,其中所述第二組LLR值中的每個(gè)LLR值通過(guò)將所述第一組LLR值中的對(duì)應(yīng)的LLR值的大小減小對(duì)應(yīng)量而被生成;以及
基于所述第二組LLR值,執(zhí)行第二ECC解碼操作,
其中所述第一組LLR值至少包括第一LLR值和第二LLR值,其中所述第一LLR值的大小大于所述第二LLR值的大小,并且其中生成所述第二組LLR值進(jìn)一步包括:
生成所述第二組LLR值使得所述第二組LLR值至少包括:(i)通過(guò)將所述第一LLR值的大小減小第一值而生成的第三LLR值,以及(ii)通過(guò)將所述第二LLR值的大小減小第二值而生成的第四LLR值,
其中基于所述第一LLR值的大小大于所述第二LLR值的大小,(i)所述第一值大于所述第二值,以及(ii)所述第三LLR值的大小大于所述第四LLR值的大小。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
所述第一組LLR值具有第一范圍;
所述第二組LLR值具有第二范圍;以及
生成所述第二組LLR值,使得所述第一范圍大于所述第二范圍。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中生成所述第二組LLR值進(jìn)一步包括:
確定所述第一ECC解碼操作已經(jīng)失敗;以及
生成所述第二組LLR值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
所述第一組LLR值包括多個(gè)LLR值;以及
所述多個(gè)LLR值中的每一個(gè)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)存儲(chǔ)單元中的相應(yīng)存儲(chǔ)單元。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中生成所述第二組LLR值進(jìn)一步包括:
使用非線性映射從所述第一組LLR值生成所述第二組LLR值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括:
響應(yīng)于確定所述第二ECC解碼操作失敗,通過(guò)調(diào)整所述第二組LLR值生成用于所述多個(gè)存儲(chǔ)單元的第三組LLR值;以及
基于所述第三組LLR值,執(zhí)行第三ECC解碼操作,
其中所述第二組LLR值具有第一范圍,所述第三組LLR值具有第二范圍,并且其中所述第一范圍大于所述第二范圍。
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G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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