[發(fā)明專利]防電磁干擾的過壓保護裝置

無效

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• 申請日: 2012-06-08
• 公開（公告）號: CN103474405A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張小平
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇晟芯微電子有限公司
• 主分類號: H01L23/488
• 分類號: H01L23/488;H02H9/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種過壓保護裝置，尤其涉及一種防電磁干擾的過壓保護裝置。

背景技術(shù)

在通訊領(lǐng)域中，由于電感性和電容性瞬變、靜電放電、雷電等原因形成的意外電壓浪涌會造成整機系統(tǒng)的性能下降，出現(xiàn)誤動作甚至損壞，因此對電壓瞬變和浪涌的防護成為提高整機系統(tǒng)可靠性的一個重要組成部分。?

現(xiàn)有技術(shù)中，采用幾個電壓瞬變和浪涌的保護器件的組合形式，構(gòu)成多極保護器件的方式得到較廣泛的利用，其中，構(gòu)成半導(dǎo)體保護器件最常用的過壓保護裝置是由封裝框架及設(shè)于其上的半導(dǎo)體保護芯片組成，半導(dǎo)體保護芯片與封裝框架的聯(lián)接，是將芯片用導(dǎo)電膠粘接在框架的底座上；此方式存在有由于粘接過程的擠壓，導(dǎo)電膠液被壓出，出現(xiàn)芯片正面，反面短路現(xiàn)象，成品率低，產(chǎn)品質(zhì)量不可靠。此外，此類裝置往往不具有浪涌保護功能和防電磁干擾功能，從而限制了該裝置的使用。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡單，使用可靠且具有浪涌保護和防電磁干擾功能的新型過壓保護裝置。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種防電磁干擾的過壓保護裝置，包括有半導(dǎo)體封裝框架及設(shè)于其上的過壓保護芯片，所述過壓保護芯片為三個P-N結(jié)組成雙端四層雙向?qū)ΨQ結(jié)構(gòu)，每一組自上而下依次分別摻雜為N2、P2、N1、P1四層過壓保護電路，并與一個低電容浪涌保護器和一個電磁干擾抑制電路相串連串連。

作為改進，所述半導(dǎo)體框架的載體上設(shè)有與底座相互電連接的凸點座，在凸點座上連接半導(dǎo)體過壓保護芯片，保護芯片的正面用引線與半導(dǎo)體框架上的引腳相連。?

作為進一步改進，所述設(shè)于半導(dǎo)體框架載體上的凸點座與載體直接相連或是相互粘接或焊接而成。?

采用上述技術(shù)方案，使得本發(fā)明具有如下優(yōu)點：由于過壓保護芯片與一個低電容浪涌保護器相串連，可以起來良好的浪涌保護作用。同時該芯片設(shè)于導(dǎo)電凸點座上，不是傳統(tǒng)的壓在整個框架載體上，在用導(dǎo)電膠粘接過程中，不易出現(xiàn)導(dǎo)電膠使芯片正反面短路現(xiàn)象，使得工藝簡單，同時芯片的承受電流功率能力增大，由此可靠性提高，生產(chǎn)成本也低。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步詳細說明：

圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

????如圖1所示，一種防電磁干擾的過壓保護裝置，包括有封裝框架1及設(shè)于其上的半導(dǎo)體過壓保護芯片2，所述過壓保護芯片為三個P-N結(jié)組成雙端四層雙向?qū)ΨQ結(jié)構(gòu)，每一組自上而下依次分別摻雜為N2、P2、N1、P1四層過壓保護電路，并與一個低電容浪涌保護器和一個電磁干擾抑制電路相串連。在封裝框架1的底座10上設(shè)有相互電連接的凸點3，凸點3上電聯(lián)接有半導(dǎo)體過壓保護芯片2。保護芯片2的正面及框架1的底座10上分別設(shè)有引腳20及11。在實際生產(chǎn)過程中，所述設(shè)于封裝框架載體上的凸點3是在底座10上沖壓而成。根據(jù)生產(chǎn)工藝，所述設(shè)于封裝框架載體上的凸點3也可以是與載體相互粘

接或焊接而成。半導(dǎo)體過壓保護裝置中設(shè)于封裝框架載體上的凸點座3與半導(dǎo)體過壓保護芯片2之間的連接通過焊接或粘接而成。

本結(jié)構(gòu)的過壓保護芯片2與凸點座3的連接為固定連接，可以有多種方式，較好的方式為焊接。為了增加過壓保護芯片2與凸點座3導(dǎo)電性，過壓保護芯片2與凸點座3的焊接可以采用導(dǎo)電性好的金屬焊接，如銀、銅等。凸點座3的形狀可以有多種形狀，如為半球形、柱形等。

需要指出的是，上述實施例雖對本發(fā)明作了比較詳細的文字描述，但這些文字描述只是對本發(fā)明設(shè)計思路的簡單描述，而不是對本發(fā)明思路的限制。任何不超過本發(fā)明設(shè)計思路的組合、增加或修改，均落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。