[發明專利]半導體器件、具有半導體器件的半導體系統及其操作方法

有效

• 申請號: 201210187657.4
• 申請日: 2012-06-08
• 公開（公告）號: CN103093833B
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發明（設計）人: 李政勛
• 申請（專利權）人: 海力士半導體有限公司
• 主分類號: G11C29/50
• 分類號: G11C29/50
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙)11363
• 代理人: 俞波,郭放

1.一種半導體器件，包括：

數據儲存單元，所述數據儲存單元被配置成接收輸入數據，且以邏輯電平之間的第一電壓電平差來輸出所述輸入數據作為比較數據，比較數據的邏輯電平與所述輸入數據的邏輯電平有所差別；

測試操作單元，所述測試操作單元被配置成在由測試進入命令和測試退出命令所限定的測試操作時段期間響應于數據參考電壓來周期性地判定測試數據的邏輯電平，且通過比較所述比較數據的邏輯電平與所述測試數據的邏輯電平來產生測試結果信號，其中，所述數據參考電壓的電壓電平是響應于電平測試碼而決定的；以及

測試操作感測信號發生單元，所述測試操作感測信號發生單元被配置成產生測試操作感測信號，所述測試操作感測信號響應于所述測試進入命令被激活而響應于所述測試結果信號被去激活。

2.如權利要求1所述的半導體器件，還包括輸出焊盤，所述輸出焊盤被配置成輸出所述測試操作感測信號。

3.如權利要求1所述的半導體器件，還包括：

激活時段計數器，所述激活時段計數器被配置成對源時鐘在所述測試操作感測信號的激活時段期間觸發的次數進行計數；以及

輸出焊盤，所述輸出焊盤被配置成輸出由所述激活時段計數器所計數的值。

4.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述數據儲存單元包括：

多用途寄存器，所述多用途寄存器被配置成儲存在測試準備操作時段中所施加的所述輸入數據；以及

數據鎖存器，所述數據鎖存器被配置成將儲存在所述多用途寄存器中的所述輸入數據鎖存在電源電壓與接地電壓之間且輸出所述比較數據。

5.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述測試操作單元包括：

數據參考電壓輸出單元，所述數據參考電壓輸出單元被配置成響應于所述電平測試碼而判定在最小電壓電平與最大電壓電平之間的所述數據參考電壓的電壓電平；

邏輯電平決定單元，所述邏輯電平決定單元被配置成響應于所述數據參考電壓的電壓電平而判定在所述測試操作時段中周期性地施加的所述測試數據的邏輯電平；以及

測試結果信號發生單元，所述測試結果信號發生單元被配置成產生在所述邏輯電平決定單元的輸出的邏輯電平與所述比較數據的邏輯電平相同時被激活的所述測試結果信號。

6.如權利要求5所述的半導體器件，其中，所述最小電壓電平高于接地電壓，且所述最大電壓電平低于電源電壓。

7.一種半導體系統，包括：

半導體控制器，所述半導體控制器被配置成在測試準備操作時段期間輸出比較數據，在測試操作時段期間輸出測試數據以及電平測試碼，且響應于半導體器件的輸出信號而感測所述電平測試碼達到目標值所花費的時間，其中，所述電平測試碼的值周期性地改變；以及

所述半導體器件，所述半導體器件被配置成在所述測試準備操作時段期間儲存所述比較數據的邏輯電平，在所述測試操作時段期間響應于所述電平測試碼而判定數據參考電壓的電壓電平，響應于所述數據參考電壓而決定所述測試數據的邏輯電平，且通過比較所述測試數據的邏輯電平與所述比較數據的邏輯電平而產生所述輸出信號。

8.如權利要求7所述的半導體系統，其中，所述半導體控制器通過產生測試準備進入/退出命令和將所述所產生的測試準備進入/退出命令提供至所述半導體器件來限定所述測試準備操作時段，且

所述半導體控制器通過產生測試進入/退出命令和將所述所產生的測試進入/退出命令提供至所述半導體器件來限定所述測試操作時段。

9.如權利要求7所述的半導體系統，其中，所述半導體器件包括：

數據儲存單元，所述數據儲存單元被配置成接收在所述測試準備操作時段中所施加的所述比較數據，以邏輯電平之間的第一電壓電平差輸出輸入的數據，且輸出邏輯電平與所述所接收的比較數據有所差別的比較數據；

測試操作單元，所述測試操作單元被配置成在所述測試操作時段期間響應于所述電平測試碼而判定所述數據參考電壓的電壓電平，響應于所述數據參考電壓而決定所述測試數據的邏輯電平，且通過比較所述測試數據的邏輯電平與所述比較數據的邏輯電平而產生測試結果信號；以及

測試操作感測信號發生單元，所述測試操作感測信號發生單元被配置成產生測試操作感測信號作為所述輸出信號，所述測試操作感測信號響應于測試進入命令被激活而響應于所述測試結果信號被去激活。