[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件、具有半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體系統(tǒng)及其操作方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210187657.4
• 申請(qǐng)日: 2012-06-08
• 公開（公告）號(hào): CN103093833B
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李政勛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海力士半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/50
• 分類號(hào): G11C29/50
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11363
• 代理人: 俞波,郭放

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

本申請(qǐng)要求2011年11月8日提交的韓國專利申請(qǐng)No.10-2011-0116017的優(yōu)先權(quán)，其全部?jī)?nèi)容通過引用合并于此。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明的示例性實(shí)施例涉及一種半導(dǎo)體設(shè)計(jì)技術(shù)，且更具體而言涉及一種用于在半導(dǎo)體器件中產(chǎn)生數(shù)據(jù)參考電壓的半導(dǎo)體器件、包括該半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體系統(tǒng)及其操作方法。

背景技術(shù)

在諸如雙數(shù)據(jù)速率類型四(double data rate type four，DDR4)存儲(chǔ)器件的低功率和高速半導(dǎo)體器件中，在半導(dǎo)體器件中執(zhí)行限定數(shù)據(jù)輸入緩沖器的參考電壓電平的數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ的訓(xùn)練測(cè)試。

為了執(zhí)行訓(xùn)練測(cè)試，半導(dǎo)體控制器向半導(dǎo)體器件提供6比特電平訓(xùn)練碼，且半導(dǎo)體器件通過響應(yīng)于6比特電平訓(xùn)練碼調(diào)整數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ的電平來在半導(dǎo)體器件中產(chǎn)生數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ。

在現(xiàn)有的半導(dǎo)體器件中，半導(dǎo)體控制器產(chǎn)生數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ且將所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ提供給半導(dǎo)體器件。然而，在上述配置中，數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ產(chǎn)生于半導(dǎo)體器件中，且因而要感測(cè)半導(dǎo)體器件外部的參數(shù)以便能獲得訓(xùn)練測(cè)試的結(jié)果。例如，訓(xùn)練測(cè)試的結(jié)果可為直至數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ達(dá)到目標(biāo)電平所花費(fèi)的時(shí)間。

當(dāng)直接感測(cè)參數(shù)時(shí)，歸因于監(jiān)控焊盤和感測(cè)設(shè)備的電容性元件和負(fù)載元件，所測(cè)量的參數(shù)可能并非準(zhǔn)確。

更具體而言，盡管使用諸如納秒的小單位來測(cè)量參數(shù)，但感測(cè)不在半導(dǎo)體器件中的參數(shù)難以準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)量。

因此，當(dāng)數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ沒有正常地產(chǎn)生于半導(dǎo)體器件中時(shí)，可能不能準(zhǔn)確地感測(cè)數(shù)據(jù)參考電壓VREF_DQ。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種半導(dǎo)體器件、具有該半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體系統(tǒng)及其操作方法，所述半導(dǎo)體器件操作以準(zhǔn)確測(cè)量參數(shù)，諸如數(shù)據(jù)參考電壓達(dá)到目標(biāo)電平的時(shí)間。

本發(fā)明的另一實(shí)施例涉及一種半導(dǎo)體器件、具有該半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體系統(tǒng)及其操作方法，所述半導(dǎo)體器件在半導(dǎo)體器件的操作頻率很高時(shí)仍能使穩(wěn)定的感測(cè)操作得到執(zhí)行。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，一種半導(dǎo)體器件包括：數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元，所述數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元被配置成接收輸入數(shù)據(jù)，以邏輯電平之間的第一電壓電平差輸出所述輸入數(shù)據(jù)，且輸出邏輯電平與所述輸入數(shù)據(jù)的邏輯電平有所差別的比較數(shù)據(jù)；測(cè)試操作單元，所述測(cè)試操作單元被配置成在由測(cè)試進(jìn)入命令和測(cè)試退出命令所限定的測(cè)試操作時(shí)段期間響應(yīng)于電壓電平是響應(yīng)于電平測(cè)試碼判定的數(shù)據(jù)參考電壓而周期性地判定測(cè)試數(shù)據(jù)的邏輯電平，且通過比較所述比較數(shù)據(jù)的邏輯電平與所述測(cè)試數(shù)據(jù)的邏輯電平而產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)；以及測(cè)試操作感測(cè)信號(hào)發(fā)生單元，所述測(cè)試操作感測(cè)信號(hào)發(fā)生單元被配置成產(chǎn)生測(cè)試操作感測(cè)信號(hào)，所述測(cè)試操作感測(cè)信號(hào)響應(yīng)于測(cè)試進(jìn)入命令被激活而響應(yīng)于測(cè)試結(jié)果信號(hào)被去激活。

根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，一種半導(dǎo)體系統(tǒng)包括：半導(dǎo)體控制器，所述半導(dǎo)體控制器被配置成在測(cè)試準(zhǔn)備操作時(shí)段期間輸出比較數(shù)據(jù)，在測(cè)試操作時(shí)段期間輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和具有周期性地改變的值的電平測(cè)試碼，且響應(yīng)于半導(dǎo)體器件的輸出信號(hào)而感測(cè)電平測(cè)試碼達(dá)到目標(biāo)值所花費(fèi)的時(shí)間；以及半導(dǎo)體器件，所述半導(dǎo)體器件被配置成在測(cè)試準(zhǔn)備操作時(shí)段期間儲(chǔ)存比較數(shù)據(jù)的邏輯電平，在測(cè)試操作時(shí)段期間響應(yīng)于電平測(cè)試碼而判定數(shù)據(jù)參考電壓的電壓電平，響應(yīng)于數(shù)據(jù)參考電壓而決定測(cè)試數(shù)據(jù)的邏輯電平，且通過比較測(cè)試數(shù)據(jù)的邏輯電平與比較數(shù)據(jù)的邏輯電平而產(chǎn)生輸出信號(hào)。

根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例，一種用于操作半導(dǎo)體系統(tǒng)的方法包括以下步驟：響應(yīng)于來自半導(dǎo)體控制器的測(cè)試準(zhǔn)備進(jìn)入命令、比較數(shù)據(jù)和測(cè)試準(zhǔn)備退出命令而進(jìn)入半導(dǎo)體器件的測(cè)試準(zhǔn)備周期，通過控制半導(dǎo)體器件中的比較數(shù)據(jù)的邏輯電平而儲(chǔ)存比較數(shù)據(jù)，且從半導(dǎo)體器件的測(cè)試準(zhǔn)備操作時(shí)段退出；從半導(dǎo)體控制器輸出測(cè)試進(jìn)入命令，從半導(dǎo)體控制器輸出具有周期性地改變的值的電平測(cè)試碼和對(duì)應(yīng)于周期的數(shù)目的測(cè)試數(shù)據(jù)，且在輸出測(cè)試進(jìn)入命令的測(cè)試操作之后從半導(dǎo)體控制器輸出測(cè)試退出命令；在響應(yīng)于測(cè)試進(jìn)入命令和測(cè)試退出命令所限定的測(cè)試操作時(shí)段中響應(yīng)于電平測(cè)試碼和測(cè)試數(shù)據(jù)而周期性地判定半導(dǎo)體器件中的數(shù)據(jù)參考電壓的電壓電平，基于半導(dǎo)體器件中的數(shù)據(jù)參考電壓而決定測(cè)試數(shù)據(jù)的邏輯電平，且通過比較測(cè)試數(shù)據(jù)的邏輯電平與比較數(shù)據(jù)而從半導(dǎo)體器件輸出測(cè)試操作感測(cè)信號(hào)；以及響應(yīng)于測(cè)試操作感測(cè)信號(hào)而判定直至電平測(cè)試碼的值在半導(dǎo)體控制器中達(dá)到目標(biāo)值所花費(fèi)的時(shí)間。

附圖說明

圖1A和圖1B是說明根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的配置的框圖。