[發明專利]測試裝置

無效

• 申請號: 201210187285.5
• 申請日: 2012-06-08
• 公開（公告）號: CN103472321A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 周海清
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測試裝置，用于測試一焊接到電路板上的MOS管是否存在虛焊和假焊，所述測試裝置包括一發光二極管、第一及第二開關、第一及第二電阻及第一至第三接觸元件，所述發光二極管的陽極與一電源相連，所述發光二極管的陰極通過所述第一電阻與所述第一接觸元件相連，所述第一開關的一端通過所述第二電阻與所述電源相連，所述第一開關的另一端與所述第二接觸元件相連，所述第二開關的一端與所述第一開關的另一端相連，所述第二開關的另一端接地，并與所述第三接觸元件相連，測試時，所述第一接觸元件接觸所述MOS管的漏極與所述電路板上一第一電子元件之間的節點，所述第二接觸元件接觸所述MOS管的柵極與所述電路板上一第二電子元件之間的節點，所述第三接觸元件接觸所述MOS管的源極與所述電路板上一第三電子元件之間的節點，當所述MOS管為NMOS管時，閉合所述第一開關，當所述MOS管為PMOS管時，閉合所述第二開關，若所述發光二極管不發光，則表明所述MOS管存在虛焊和假焊；若所述發光二極管發光，則表明所述MOS管不存在虛焊和假焊。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述第一至第三接觸元件為探針。

3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述第一電阻通過一線纜與所述第一接觸元件相連，所述第一開關的另一端通過一線纜與所述第二接觸元件相連，所述第二開關的另一端通過一線纜與所述第三接觸元件。