[發明專利]金標免疫層析試紙條檢測系統的性能校正方法

有效

• 申請號: 201210185414.7
• 申請日: 2012-06-07
• 公開（公告）號: CN102707051A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 黃立華;陳貝特;郭凱;黃惠杰
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01N33/558
• 分類號: G01N33/558
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

技術領域

本發明屬于免疫檢測技術領域，特別是一種金標免疫層析試紙條檢測系統的性能校正方法。

背景技術

金標免疫層析技術是一種將膠體金標記技術與免疫層析技術相結合的快速現場檢測技術。近年來已在各個生物學領域中得到廣泛應用，如醫學診斷、環境及食品安全監測及科學研究等領域。在臨床使用的免疫印跡技術幾乎都使用膠體金做標記。

膠體金免疫層析試紙條（以下簡稱為金標試紙條）是免疫層析反應發生的載體，金標試紙條檢測帶上聚集著與目標被檢物相結合的納米金顆粒，納米金顆粒具有吸光特性，在大量納米金顆粒聚集時，會顯示出紅色。隨著附著在金標試紙條檢測帶上納米金顆粒的數量越多，表示被檢物的濃度越高，金標試紙條上檢測帶的顏色也就越深。

利用金標試紙條檢測系統可對金標試紙條進行即時判讀，實現對目標被檢物定量檢測。在先技術1“一種金標條的測量方法和檢測系統”（申請號：200910078816.5）中，使用LED條形光源在金標試紙條表面形成大范圍高強度矩形光斑，使用光電二極管陣列接收金標試紙條表面的散射光，通過對納米金顆粒的定量測量，實現對目標金標試紙條的快速定量檢測。上述在先技術1的主要缺點為：①沒有考慮系統老化（如發光部件LED，接收部件光電二極管及電子元器件等的老化）所引入的測量誤差。②由于采用多個獨立的光電二極管像元，致使數據獲取的條件沒有達到一致，可能會引入測量誤差。特別是當光電二極管陣列中的光電二極管像元老化后，由于各個光電二極管像元老化的情況不同而將導致檢測系統會產生更大的測量誤差。③雖然系統的光闌部件是為阻擋其它區域的散射光而設置的，但不可能完全消除這些散射光的影響。

在先技術2“金標試條定量測試方法及系統”（申請號：02108693.1）中，先用動態背景補償電路對金標試條的背景進行補償，并將該補償背景值輸入單片機；接著，采集金標試條測試線值，并輸入單片機；最后，用單片機對其接受的信息進行處理運算，得出被測試液濃度值。上述在先技術2的主要缺點為：①在采集測試數據之前，并沒有考慮系統各部件因老化等問題，所引入的測量誤差。②采用大量附加電路，必將影響儀器的穩定性。

在先技術3“無創定量HCG檢測方法”（申請號：200610092968.7）中，將體液滴入HCG試劑盒，經反應顯現特定顏色；將反應后的試劑盒顏色作為被檢測對象，由配有HCG濃度轉換軟件的檢測裝置檢測獲取HCG濃度值。上述在先技術3的主要缺點為：①忽略了系統各部件因老化等問題所引入的測量誤差。進而在采集測試數據的時候，使結果較難反應真實情況。②沒有任何校正措施，不能保證測試條件的一致性。③數據不能實時處理，需要上位機的協助，給操作帶來不便。

發明內容

本發明的目的在于克服上述在先技術存在的缺點，提供一種金標免疫層析試紙條檢測系統的性能校正方法。該性能校正方法通過獲取并比對金標免疫層析專用比色卡的數據信息，實施金標試紙條檢測系統的性能校正，使金標試紙條檢測系統的數據采集控制條件與最佳狀態相一致，從而能保證金標試紙條檢測系統在長時間使用過程準確的定量測量，且具有操作簡便、快速快的優點。

我們知道：金標免疫層析專用比色卡（以下簡稱金標條比色卡）是根據金標免疫層析反應的特點而篩選出來的。金標條比色卡上的顏色深淺與相應的滴加在金標試紙條上的被檢物的濃度具有對應關系。首先使用梯度濃度的標準品滴加在不同的空白金標試紙條上，待反應結束后，將其T帶的顏色與標準色卡進行比較，從標準色卡中選出與T帶顏色近似相同的顏色，然后再將這些選出的色卡打印、過塑，即形成了金標免疫層析專用比色卡。

為使用方便，可將金標條比色卡做成與金標試紙條相同的形式，即金標條比色卡尺寸與金標試紙條的尺寸相同。并將所有對應于不同濃度的顏色梯度全部封裝在一個金標條比色卡內。金標條比色卡梯度越多則做出來的金標條比色卡越準確,代表金標檢測系統能進行更精確的標定。

金標免疫層析試紙條檢測系統的性能校正方法的基本思想是：通過金標試紙條檢測系統的光電探測器記錄檢測系統出廠時金標條比色卡的數據信息，根據此數據信息建立與檢測物濃度相對應的最佳響應曲線。將該最佳響應曲線作為金標試紙條檢測系統的校正標準，并儲存在金標試紙條檢測系統的數據存儲單元中。在金標試紙條檢測系統使用一段時間后，再次獲取比色卡對應的數據信息。通過與校正標準進行比較，調整光電探測器的相關設定參數或調整金標試紙條檢測系統的內置算法，使金標試紙條檢測系統的數據采集控制條件達到最佳狀態，實現性能校正的目的。

本發明的技術方案如下：