[發明專利]金標免疫層析試紙條檢測系統的性能校正方法

有效

• 申請號: 201210185414.7
• 申請日: 2012-06-07
• 公開（公告）號: CN102707051A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 黃立華;陳貝特;郭凱;黃惠杰
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01N33/558
• 分類號: G01N33/558
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

1.一種金標免疫層析試紙條檢測系統的性能校正方法，其特征在于該方法包括下列步驟：

①使用金標試紙條檢測系統的光電探測器記錄金標試紙條檢測系統出廠時金標條比色卡對應的數據信息為y_最佳；

②根據金標條比色卡標識的顏色與檢測物濃度的對應關系，確定金標條比色卡數據與檢測物濃度的最佳響應曲線為y_最佳＝k_最佳x+a_最佳，其中x為金標條比色卡的色度梯度的序號的數值，k_最佳為最佳狀態曲線的斜率，a_最佳為最佳響應曲線與y軸的截距，并將該最佳響應曲線信息儲存在金標試紙條檢測系統的數據存儲單元中；

③需要對所述的金標試紙條檢測系統的性能進行校正時，使用所述的金標條比色卡對所述的金標試紙條檢測系統的當前狀態進行測試，確定金標試紙條檢測系統的當前響應曲線，以該色度梯度的采集值為y_n并以相鄰色度梯度的采集值y_n+1確定一系列直線段：y_n＝k_nx+a_n，n＝1、2、3、……；并將該當前響應曲線信息儲存在金標試紙條檢測系統的數據存儲單元中；

④分段逐個比較所述的最佳響應曲線和當前響應曲線各直線段，按下列公式計算當前響應曲線的各直線段對應的映射函數G_n和A_n并存入數據存儲單元中：

y_n修正=G_n×y_n+A_n，其中，

取出所述的金標條比色卡，校正完畢。