[發明專利]低軌等離子體環境高壓太陽電池陣弧光放電抑制方法

有效

• 申請號: 201210177257.5
• 申請日: 2012-06-01
• 公開（公告）號: CN103456831A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 楊華星;王治易;陳建祥;路火平;董毅;蔣松
• 申請（專利權）人: 上海宇航系統工程研究所
• 主分類號: H01L31/18
• 分類號: H01L31/18
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 金家山

1.一種適用于低軌等離子體環境高壓太陽電池陣弧光放電抑制方法，其特征在于：

采用太陽電池電路裸露導體涂覆RTV硅膠的方法，或將電路預埋在基板內，隔離導體與等離子體的接觸，提高放電閾值，減少弧光放電的發生；

優化布片設計，使電池電路最大串間電壓小于55V，小于二次弧光放電閾值；

優化電池電路串間距離設計，提高二次弧光放電閾值，設計串間距離2mm；

單串電池模塊電路輸出電流小于0.8A并加隔離二極管進行隔離，以此減小二次弧光放電的維持電流，提高二次弧光放電的電壓閾值；

滿足玻璃蓋片邊緣超過電池邊緣0.1mm，完全覆蓋太陽電池，阻斷電池與等離子體的接觸，減少弧光放電的發生；

采用真空罐模擬低軌真空環境，采用ECR型等離子體源產生等離子體，模擬低軌等離子體環境，將太陽電池陣小試件放在真空罐中，進行一次弧光放電和二次弧光放電模擬試驗，得到高壓太陽電池陣一次弧光放電和二次弧光放電電壓電流閾值，完成高壓太陽電池陣低軌等離子體環境放電的驗證。