[發明專利]光度計和操作方法在審
| 申請號: | 201210164527.9 | 申請日: | 2007-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN102768185A | 公開(公告)日: | 2012-11-07 |
| 發明(設計)人: | G·弗里曼;T·阿爾梅特 | 申請(專利權)人: | 阿瓦尼斯實驗室科技公司 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01N21/76 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周心志;譚祐祥 |
| 地址: | 美國佛*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光度計 操作方法 | ||
本申請是申請號為200780037055.8、申請日為2007年7月26日、發明名稱為“光度計和操作方法”的發明專利申請的分案申請。
技術領域
本發明關于一種光度計,該光度計適合于快速分析多個小容量樣本,尤其是在醫療分析領域中。本發明還涉及操作的方法,以使用光度計獲得多個分析測量值。
背景技術
公知的光度計允許測量在包含于盤中的樣本的化學反應期間所發射的光,該盤被稱為微量滴定井或盤。已經開發了系統來檢驗樣本實例,比如血樣,例如在試管盤或微孔板中把試劑添加到樣本中。試劑分子與樣本中的某些成分反應且聯接到該某些成分上。通常移去樣本的剩余部分且進一步添加比如基質的試劑以引起束縛分子的部分發冷光。試劑的反應時間通常是試驗的重要參數,且在反應樣本為發光探測做好準備之前需要在嚴格的時限中孵化。所發射光的強度和光譜分布表示用于試驗的樣本成分的濃度。在應用到探測器之前光發射可以穿過光譜過濾器被供給。因此,知道樣本實例類型、試劑類型和因此產生的譜圖,就可以確定某些化學物質的在樣本實例中的存在。可以在分離室中用不同的試劑進行分離試驗以試驗樣本中的其它組分。在化學反應中的最后步驟處光度計探測且量化光發射。測量值與分析物是成比例的,因此能夠使用該測量值做定量分析。使用光(也稱為化學發光)的優點在于增加靈敏度。當在尋找腫瘤標記物、某種荷爾蒙和毒素、污染物或藥物的存在時,這種方法尤其有益。
還公知的是,希望最小化進入光度計的測量區域中的背景光的量。通過最小化背景光的來自描述樣本的組分濃度的發冷光信號的量,可以精煉分析結果。
在許多環境中,需要高效進行樣本試驗以每小時處理許多樣本。已經研發了用于處理大量樣本的復雜系統,但是這些系統昂貴、巨大、難于使用,且對許多環境不適用。正確校準系統在獲得正確結果方面也是重要的,并且希望提供一種系統,該系統提供自校準以確保正確操作。希望提供可以克服在現有技術的裝置中的這些限制的系統。
發明內容
本發明的一個方面在于通過提供一種系統來克服現有技術的光度計的缺點,為了以簡單且有效的方式檢驗多個樣本該系統提供了一種簡單布置。本發明提供了增加的范圍和靈敏度,特別地,本發明在CLIA(化學發光免疫分析法)中是有用的。光度計允許CLIA微帶讀取,并且對任何規模的實驗室(不只是大規模的實驗室)都是有用的。光度計以每帶多個井的方式讀取打散(break-apart)井,且立刻和自動地計算結果。系統可以允許使用者編程許多種的輝光型CLIA,其中能夠存儲試驗以易于喚回。系統的處理能力可以提供點對點、線性和對數回歸以及對數分對數(log?logit)模式。而且,本發明的一個方面在于提供具有校準系統的光度計,以用于維持系統在隨之的測量中的正確操作。此外,本發明的方面涉及提供允許緊湊和有效的系統設計的光發射系統。進一步,本發明的方面涉及在裝置的操作中消除光的交叉污染的能力。本發明的光度計是獨立的(self-contained)3帶CLIA(化學發光免疫分析法)儀器。微帶包含指定用于坯料(blank)、校準器、控制器和樣本的井。光度計測定度數(一個井接一個井地),然后基于校準器表達分析物的濃度。
根據本發明的光度計包括具有內部的殼體,穿過保護蓋可以接近內部。把光子測量和探測系統提供在殼體中。光軌設置在殼體中的支撐件上,承載器與該殼體成接口連接。承載器具有隨其提供的多個井,其中為了從那里測量光子選擇性地把每一個井都定位在與探測系統關聯的預定測量位置處。提供驅動系統以選擇性地沿著光軌移位承載器,這是選擇性地在X方向和Y方向上移動承載器的軌道凹槽的系統,以選擇性地把每一個井都定位在測量位置中的承載器中。光度計可以包括用于放大和數字化數據以及用于處理數據的適當處理系統。光度計可以進一步包括用于自動校準探測系統的參考光源。還可以提供用于確保承載器的在光軌系統中的正確定位的承載器位置探測系統。
根據本發明的一個方面,提供了一種校準系統,該校準系統包括被定位的參考光源以把光發射到擴散器(diffuser)中。定位光探測器以測量從擴散器所發射的光,由此產生與探測系統關聯的參考光信號。此后,把參考光信號與隨后從相同的參考光源所探測的光做比較,以便允許生成用于在參考光源的當前測量值和參考光信號之間的任何探測誤差的校準因數。
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