[發明專利]光度計和操作方法

在審

• 申請號: 201210164527.9
• 申請日: 2007-07-26
• 公開（公告）號: CN102768185A
• 公開（公告）日: 2012-11-07
• 發明（設計）人: G·弗里曼;T·阿爾梅特
• 申請（專利權）人: 阿瓦尼斯實驗室科技公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/76
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 周心志;譚祐祥

1.一種光度計，其包括：

光子測量探測系統，

校準系統，其包括參考光源和光探測器，所述光探測器被定位以測量從所述參考光源所發射的光，其中所述探測系統產生參考光信號且所述參考光信號與隨后從同一參考光源所探測的光做比較，以便允許生成用于在所述參考光源的當前測量值和所述參考光信號之間的任何探測誤差的校準因數。

2.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于還包括擴散器，且所述參考光源被定位成把光發射到所述擴散器中，并且所述光探測器測量從所述擴散器所發射的光。

3.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述參考光由隔離電路控制，所述隔離電路沿著預定軸線發射受控和預定的光，所述受控和預定的光然后能經由所述探測系統被探測到。

4.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述參考光源發射預定波長的光。

5.根據權利要求2所述的光度計，其特征在于，所述光探測器包括光電二極管用來監測穿過所述光擴散器所發射的光，且所測量的光提供信號用來調節到所述參考光源的輸入電壓，以便產生調節從所述參考光源所發射的光的強度的閉環系統。

6.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述參考光源鄰近光軌系統定位，其中在測量位置定位多個井以從那里測量光子，并且來自所述參考光源的光穿過所述光軌中的孔發射并且與同所述探測系統關聯的光纖電纜的輸入側下方直接對準，以便核實井被正確地定位在所述測量位置。

7.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，在使用所述光度計時所述校準系統自動測定參考LED的讀數，并且如果新的讀數不在所述參考光信號的預定的范圍中，那么計算因數以因此調節所有的今后讀數。

8.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于還包括具有測量位置的軌道系統，具有多個井的多個帶的承載器，以及驅動系統，所述驅動系統用以允許所述承載器相對于所述驅動系統的Y軸線運動，以便將所述多個井中的每一個定位成位于所述測量位置。

9.一種校準光度計的方法，所述方法包括步驟：

提供參考光源，

聯合光探測器利用所述參考光源初始地產生參考測量值，

存儲所述參考測量值，

隨后打開所述參考光源且測量所發射的光，以由此生成當前測量值，

把所述當前測量值與所述參考測量值作比較，且

如果所述當前測量值與所述參考測量值相差達預定量，那么生成校準因數，且如果生成所述校準因數，那么利用所述光度計把所述校準因數應用到當前測量值上。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述參考光定位成將光發射到擴散器中，并且光電二極管監測從所述光擴散器所發射的光，且所測量的光提供信號用來調節到所述參考光源的輸入電壓，以便產生調節從所述參考光源所發射的光的強度的閉環系統。