[發明專利]導電薄膜、其制備方法及應用無效
| 申請號: | 201210148691.0 | 申請日: | 2012-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN103422056A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發明(設計)人: | 周明杰;王平;陳吉星;張振華 | 申請(專利權)人: | 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明技術有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/08 | 分類號: | C23C14/08;C23C14/35;H05B33/10;H05B33/28 |
| 代理公司: | 廣州三環專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 導電 薄膜 制備 方法 應用 | ||
技術領域
本發明涉及半導體光電材料,特別是涉及導電薄膜、其制備方法、使用該導電薄膜的有機電致發光器件的基底、其制備方法及有機電致發光器件。?
背景技術
導電薄膜電極是有機電致發光器件(OLED)的基礎構件,其性能的優劣直接影響著整個器件的發光效率。其中,摻鋁的氧化鋅(AZO)是近年來研究最廣泛的透明導電薄膜材料,具有較高的可見光透光率和低的電阻率。但要提高器件的發光效率,要求透明導電薄膜陽極具有較高的表面功函數。而鋁摻雜的氧化鋅的功函數一般只有4.3eV,經過UV光輻射或臭氧等處理之后也只能達到4.5~5.1eV,與一般的有機發光層的HOMO能級(典型的為5.7~6.3eV)還有比較大的能級差距,造成載流子注入勢壘的增加,妨礙發光效率的提高。?
發明內容
基于此,有必要針對導電薄膜功函數較低的問題,提供一種功函數較高的導電薄膜、其制備方法、使用該導電薄膜的有機電致發光器件的基底、其制備方法及有機電致發光器件。?
一種導電薄膜,包括層疊的AZO層,金層及ReO3層,其中AZO為摻鋁的氧化鋅。?
一種導電薄膜的制備方法,包括以下步驟:?
將AZO靶材、金和ReO3及襯底裝入磁控濺射鍍膜設備的真空腔體,其中,真空腔體的真空度為1.0×10-3Pa~1.0×10-6Pa,AZO為摻鋁的氧化鋅靶材;?
在所述襯底表面濺鍍AZO層,濺鍍所述AZO層的工藝參數為:基靶間距為35mm~90mm,濺射功率為60W~160W,磁控濺射工作壓強0.2Pa~2Pa,工作氣體的流量為10sccm~35sccm,襯底溫度為250℃~750℃;?
在所述AZO層表面濺鍍金層,濺鍍所述金層的工藝參數為:基靶間距為45mm~95mm,濺射功率為30W~150W,磁控濺射工作壓強0.2Pa~4Pa,工作氣體的流量為10sccm~35sccm,襯底溫度為250℃~750℃;?
在所述金層表面濺鍍ReO3層,濺鍍所述金層的工藝參數為:基靶間距為45mm~95mm,濺射功率為30W~150W,磁控濺射工作壓強0.2Pa~4Pa,工作氣體的流量為10sccm~35sccm,襯底溫度為250℃~750℃;及?
剝離所述襯底,得到所述導電薄膜。?
在其中一個實施例中,AZO層的厚度為50nm~150nm,所述金層的厚度為5nm~35nm,所述ReO3層的厚度為0.5nm~5nm。?
在其中一個實施例中,所述AZO靶材由以下步驟得到:將ZnO和Al2O3粉體混合均勻,其中Al2O3的質量百分數為0.1%~3%,余量為ZnO,將混合均勻的粉體在900℃~1350℃下燒結制成靶材。?
在其中一個實施例中,所述AZO層的厚度為80nm,所述金層的厚度為25nm,所述ReO3層的厚度為2nm。?
一種有機電致發光器件的基底,包括依次層疊的襯底、AZO層,金層及ReO3層,其中,所述AZO為摻鋁的氧化鋅。?
一種有機電致發光器件的基底的制備方法,包括以下步驟:?
將AZO靶材、金和ReO3及襯底裝入磁控濺射鍍膜設備的真空腔體,其中,真空腔體的真空度為1.0×10-3Pa~1.0×10-6Pa,AZO為摻鋁的氧化鋅靶材;?
在所述襯底表面濺鍍AZO層,濺鍍所述AZO層的工藝參數為:基靶間距為35mm~90mm,濺射功率為60W~160W,磁控濺射工作壓強0.2Pa~2Pa,工作氣體的流量為10sccm~35sccm,襯底溫度為250℃~750℃;?
在所述AZO層表面濺鍍金層,濺鍍所述金層的工藝參數為:基靶間距為45mm~95mm,濺射功率為30W~150W,磁控濺射工作壓強0.2Pa~4Pa,工作氣體的流量為10sccm~35sccm,襯底溫度為250℃~750℃;?
在所述金層表面濺鍍ReO3層,濺鍍所述金層的工藝參數為:基靶間距為45mm~95mm,濺射功率為30W~150W,磁控濺射工作壓強0.2Pa~4Pa,工作氣體的流量為10sccm~35sccm,襯底溫度為250℃~750℃。?
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