[發(fā)明專利]測(cè)試分立器件三極管芯片正向與飽和壓降的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210147751.7
• 申請(qǐng)日: 2012-05-14
• 公開（公告）號(hào): CN102707214A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王新潮;馮東明;葉新民;樂海波;孫巖;陳曉倫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江陰新順微電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 江陰市同盛專利事務(wù)所 32210
• 代理人: 唐紉蘭;曾丹

1.一種測(cè)試分立器件三極管芯片正向與飽和壓降的方法，所述方法是在三極管芯片（1）正面的基區(qū)（2）扎一根基區(qū)輸入電流探針（21）與一根基區(qū)反饋電壓探針（22），所述基區(qū)輸入電流探針（21）與基區(qū)反饋電壓探針（22）分別連接測(cè)試儀的基區(qū)輸入電流線（23）和基區(qū)反饋電壓線（24）；在三極管芯片（1）正面的發(fā)射區(qū)（3）扎一根發(fā)射區(qū)輸入電流探針（31）與一根發(fā)射區(qū)反饋電壓探針（32），所述發(fā)射區(qū)輸入電流探針（31）與發(fā)射區(qū)反饋電壓探針（32）分別連接測(cè)試儀的發(fā)射區(qū)輸入電流線（33）和發(fā)射區(qū)反饋電壓線（34）；其特征在于在三極管芯片（1）下面的金屬承片臺(tái)盤（4）上連接測(cè)試儀的集電極輸入電流線（41），在三極管芯片（1）外圍的劃片槽（5）扎一根集電極反饋電壓探針（51），所述集電極反饋電壓探針（51）連接測(cè)試儀的集電極反饋電壓線（52），打開測(cè)試儀對(duì)分立器件三極管芯片正向與飽和壓降進(jìn)行測(cè)試。