[發明專利]發光二極管晶粒測試裝置及其測試方法

無效

• 申請號: 201210147116.9
• 申請日: 2012-05-14
• 公開（公告）號: CN103424677A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 曾國峰
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種發光二極管晶粒測試裝置及測試方法。

背景技術

發光二極管由發光二極管晶粒封裝而成，其質量是否合格主要取決于發光二極管晶粒，封裝對發光二極管晶粒的質量影響較小。然而，目前發光二極管晶粒往往需在封裝完后利用光纖等裝置輔助才能測量光電特性以判斷質量是否合格，常常在發光二極管晶粒不合格的情況下還進行封裝，造成浪費，提高發光二極管的成本。

另外，現有的發光二極管測試主要靠人工，由操作員設定并為發光二極管提供不同的電源，然后測量發光二極管發出的對應光功率，從而得到發光二極管的光電特性。測試效率低。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種可降低成本且提高效率的發光二極管晶粒的測試裝置及測試方法。

一種發光二極管晶粒測試裝置，用于測試一個發光二極管晶粒是否滿足預定的光電特性，該發光二極管晶粒用于在滿足該預定的光電特性后被封裝成發光二極管，該發光二極管晶粒測試裝置包括：

一個輸出電源用于輸出電源至該發光二極管晶粒，以使該發光二極管晶粒發光；

一個光譜分析儀用于測量該發光二極管晶粒發出的光的波長；

及

一個處理器，其包括

一個控制單元，用于控制該輸出電源依據設定的電功率值向該發光二極管晶粒輸入電源并控制該光譜分析儀測量該發光二極管晶粒發出的光的波長；

一個存儲單元，該存儲單元內存儲有該發光二極管晶粒對應不同的輸入電功率所應發出的光的波長的標準范圍值；

一個用戶接口用于接收用戶輸入以確定的該輸出電源的電源輸出功率及該光譜分析儀測量到的該光電轉換芯片發出的光的波長；及

一個分析單元，用于分析該發光二極管晶粒在該輸出電源輸出的一電功率時，該發光二極管晶粒發出的光的波長是否落入該電功率下該發光二極管晶粒所應發出的光的波長的標準范圍值內，以供判斷該發光二極管晶粒的光電特性是否滿足預定的光電特性。

一種發光二極管晶粒測試方法，用于測試一個發光二極管晶粒是否滿足預定的光電特性，該發光二極管晶粒用于在滿足該預定的光電特性后被封裝成發光二極管，該發光二極管晶粒測試測試方法包括以下步驟：

承載該發光二極管晶粒；

設定輸出電源功率值；

根據該輸出電源功率值向該發光二極管晶粒提供輸入電源，以使發光二極管晶粒發光；

測量該發光二極管晶粒發出的光的波長；

根據該輸出電源功率值、測量到的該發光二極管晶粒的發出的光的波長判斷該發光二極管晶粒的光電特性是否滿足該預定的光電特性，從而判斷該發光二極管晶粒是否合格。

相對于現有技術，采用該發光二極管晶粒測試裝置及測試方法可以在發光二極管晶粒制造過程中直接對發光二極管晶粒進行測試，并僅封裝測試合格的發光二極管晶粒，避免封裝不合格的發光二極管晶粒，造成浪費，從而降低發光二極管晶粒的成本。另外，該測試裝置及測試方法可以實現自動測試，達到提高效率的效果。

附圖說明

圖1為本發明較佳實施方式的發光二極管晶粒測試方法的流程圖。

圖2為本發明較佳實施方式的發光二極管晶粒測試裝置的示意圖。

圖3為圖2的測試裝置的處理器的示意圖。

主要元件符號說明