[發明專利]電壓調節器有效
| 申請號: | 201210143180.X | 申請日: | 2012-05-10 |
| 公開(公告)號: | CN102778914A | 公開(公告)日: | 2012-11-14 |
| 發明(設計)人: | 坂口薰;井村多加志 | 申請(專利權)人: | 精工電子有限公司 |
| 主分類號: | G05F1/569 | 分類號: | G05F1/569 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;王忠忠 |
| 地址: | 日本千葉*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電壓 調節器 | ||
技術領域
本發明涉及具備過電流保護電路的電壓調節器。
背景技術
對現有的電壓調節器進行說明。圖9是示出現有的電壓調節器的圖。
現有的電壓調節器具備接地端子100、電源端子101、輸出端子102、基準電壓電路103、差分放大電路104、輸出晶體管105、分壓電路106以及過電流保護電路107。
對現有的電壓調節器的動作進行說明。
當輸出端子102的輸出電壓Vout比既定電壓高時,即,分壓電路106的分壓電壓Vfb比基準電壓Vref高時,差分放大電路104的輸出信號變高。由于輸出晶體管105的柵極電壓變高,所以輸出晶體管105截止,輸出電壓Vout變低。另外,當輸出電壓Vout比既定電壓低時,如上所述,輸出電壓Vout變高。即,電壓調節器的輸出電壓Vout在既定電壓保持固定。
在此,使電壓調節器的輸出電壓Vout因負荷的增大而下降時,輸出電流Iout變多,成為最大輸出電流Im。于是,與該最大輸出電流Im對應,流動到與輸出晶體管105電流反射鏡連接的感測晶體管(sense?transistor)121的電流變多。此時,在電阻154產生的電壓變高,NMOS晶體管123導通,在電阻153產生的電壓變高。而且,PMOS晶體管124導通,輸出晶體管105的柵極/源極間電壓變低,輸出晶體管105截止。因此,輸出電流Iout沒有變得比最大輸出電流Im多,而固定于最大輸出電流Im,輸出電壓Vout變低。在此,輸出晶體管105的柵極/源極間電壓因在電阻154產生的電壓而變低,輸出晶體管105截止,輸出電流Iout固定于最大輸出電流Im,所以最大輸出電流Im由電阻154的電阻值及晶體管123的閾值決定(參照專利文獻1)。
為了使最大輸出電流Im精度良好,需要精度良好地調整電阻154的電阻值及晶體管123的閾值。為了進行調整,在評價電阻154、晶體管123的特性后進行微調(トリミング)。針對與電阻154及晶體管123具有相同特性的代替元件進行評價。
圖10是示出具備現有的測試電路的電壓調節器的圖。具備現有的測試電路的電壓調節器還具備電壓檢測器111、第1開關191、第2開關192以及評價對象的代替元件112。
當分壓電路106的輸出被輸入到電壓檢測器111時,第1開關191受電壓檢測器111的輸出控制而成為短路狀態時,電流從輸出端子102流動到評價對象的代替元件112。受電壓檢測器111的輸出控制的第2開關192成為短路狀態時,PMOS晶體管129截止,電流不從輸出端子102流動到內部電路元件113。因此,使用圖10的結構時,能夠對評價對象的代替元件112的電特性精度良好地進行評價(參照專利文獻2)。
專利文獻1:日本特開2005-293067號公報
專利文獻2:日本特開2008-140113號公報。
發明內容
然而,在現有技術中,為了進行正確地設定電壓調節器的最大輸出電流Im的過電流保護微調,需要用于評價決定Im的元件的特有的測試電路。當電壓調節器作為制品而起作用時不需要測試電路,由于存在測試電路,電壓調節器IC的芯片面積變大,當芯片面積較大時,每1塊晶圓的芯片數變少,所以在成本方面是不利的。另外,對評價對象的代替元件的電特性進行評價的測試工序的存在提高了IC的制造費用,所以在成本方面是不利的。
在本發明中,鑒于上述課題,提供省略了用于精度良好地設定最大輸出電流的測試電路及測試工序的電壓調節器。
為了解決現有的課題,在本發明的電壓調節器中,構成為:對決定基準電壓電路中的基準電壓Vref的元件和在過電流保護電路中決定最大輸出電流Im的元件使用具有相同的特性的元件。
在本發明的電壓調節器中,不用在測試電路中評價過電流保護電路的評價對象的代替元件,就能夠推定最大輸出電流Im。微調前的輸出電壓Vout由決定基準電壓電路中的基準電壓Vref的元件的特性值決定。另一方面,因為決定最大輸出電流Im的過電流保護電路中的元件與決定基準電壓Vref的元件特性相同,所以在輸出電壓Vout和最大輸出電流Im的制造上的偏差產生相關,無需決定最大輸出電流Im的元件的測試電路及測試工序就能夠掌握Im。因此,本發明的電壓調節器不使用測試電路,所以能夠縮小芯片面積,由于能夠省略測試工序,所以存在降低制造成本這一效果。
附圖說明
圖1是示出本實施方式的電壓調節器的電路圖。
圖2是示出本實施方式的電壓調節器的一個例子的電路圖。
圖3是示出本實施方式的電壓調節器的其他例子的電路圖。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于精工電子有限公司,未經精工電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210143180.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種平板無損檢測的超聲導波換能器
- 下一篇:促進多年生蘋果增產提質的施肥方法





