[發(fā)明專利]一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置及其制備方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210141949.4 | 申請日: | 2012-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN103378170A | 公開(公告)日: | 2013-10-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱江 | 申請(專利權(quán))人: | 朱江 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329 |
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| 地址: | 113200 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 超級 結(jié)肖特基 半導(dǎo)體 裝置 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及到一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置,本發(fā)明還涉及一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置的制備方法。本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置是制造功率整流器件的基本結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
功率半導(dǎo)體器件被大量使用在電源管理和電源應(yīng)用上,特別涉及到肖特基結(jié)的半導(dǎo)體器件已成為器件發(fā)展的重要趨勢,肖特基器件具有正向開啟電壓低開啟關(guān)斷速度快等優(yōu)點,同時肖特基器件也具有反向漏電流大,不能被應(yīng)用于高壓環(huán)境等缺點。
肖特基二極管可以通過多種不同的布局技術(shù)制造,最常用的為平面布局,傳統(tǒng)的平面肖特基二極管在漂移區(qū)具有突變的電場分布曲線,影響了器件的反向擊穿特性,同時傳統(tǒng)的平面肖特基二極管具有較高的導(dǎo)通電阻。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對上述問題提出,提供一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置及其制備方法。
一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置,其特征在于:包括:襯底層,為半導(dǎo)體材料構(gòu)成;超級結(jié)結(jié)構(gòu),位于襯底層之上,為第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料和第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料相互排列構(gòu)成;絕緣材料,位于第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料和第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料交匯處上表面;肖特基勢壘結(jié),位于半導(dǎo)體材料表面。
所述的一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置的制備方法,其特征在于:包括如下步驟:在襯底層表面形成第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料層,然后表面形成一種絕緣介質(zhì);進行光刻腐蝕工藝去除表面部分絕緣介質(zhì),然后刻蝕去除部分裸露半導(dǎo)體材料形成溝槽;在溝槽內(nèi)形成第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料,進行表面平整化;在半導(dǎo)體材料表面形成一種絕緣介質(zhì),進行光刻腐蝕工藝去表面除部分絕緣介質(zhì);淀積勢壘金屬,進行燒結(jié)形成肖特基勢壘結(jié)。
當(dāng)半導(dǎo)體裝置接一定的反向偏壓時,第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料與第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料可以形成電荷補償,形成超結(jié)結(jié)構(gòu),提高器件的反向擊穿電壓。
因為超級結(jié)結(jié)構(gòu)的存在,從而可以提高漂移區(qū)的雜質(zhì)摻雜濃度,也可以降低器件的正向?qū)娮瑁纳破骷恼驅(qū)ㄌ匦浴?/p>
本發(fā)明還提供了一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置的制備方法。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置剖面示意圖;
圖2為本發(fā)明的一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置剖面示意圖。
其中,
1、襯底層;
2、二氧化硅
3、第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料;
4、第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料;
5、N型肖特基勢壘結(jié);
6、P型肖特基勢壘結(jié);
7、歐姆接觸區(qū);
8、超級結(jié)結(jié)構(gòu);
10、上表面金屬層;
11、下表面金屬層。
具體實施方式
實施例1
圖1為本發(fā)明的一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置剖面圖,下面結(jié)合圖1詳細說明本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置。
一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置,包括:襯底層1,為N導(dǎo)電類型半導(dǎo)體硅材料,磷原子的摻雜濃度為1E19/CM3,在襯底層1下表面,通過下表面金屬層11引出電極;第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料3,位于襯底層1之上,為N傳導(dǎo)類型的半導(dǎo)體硅材料,磷原子的摻雜濃度為1E16/CM3;第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料4,位于襯底層1之上,為P傳導(dǎo)類型的半導(dǎo)體硅材料,硼原子的摻雜濃度為1E16/CM3;N型肖特基勢壘結(jié)5,位于第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料3的表面,為半導(dǎo)體硅材料與勢壘金屬形成的硅化物;歐姆接觸區(qū)7,位于第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料4的表面;二氧化硅2,位于第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料3和第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料4交匯處上表面;器件上表面附有上表面金屬層10,為器件引出另一電極。
其制作工藝包括如下步驟:
第一步,在襯底層1表面形成第一導(dǎo)電半導(dǎo)體材料層,然后表面熱氧化,形成二氧化硅2;
第二步,進行光刻腐蝕工藝,半導(dǎo)體材料表面去除部分二氧化硅2,然后刻蝕去除部分裸露半導(dǎo)體硅材料形成溝槽;
第三步,在溝槽內(nèi)形成第二導(dǎo)電半導(dǎo)體材料4,進行P型雜質(zhì)注入和退火工藝,然后進行表面平整化工藝;
第四步,表面熱氧化,形成二氧化硅2,進行光刻腐蝕工藝,半導(dǎo)體材料表面去除部分二氧化硅2;
第五步,在半導(dǎo)體材料表面淀積勢壘金屬,進行燒結(jié)形成N型肖特基勢壘結(jié)5,然后在表面淀積金屬形成上表面金屬層10;
第六步,進行背面金屬化工藝,在背面形成下表面金屬層11,如圖1所示。
實施例2
圖2為本發(fā)明的一種具有超級結(jié)肖特基半導(dǎo)體裝置剖面圖,下面結(jié)合圖2詳細說明本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置。
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H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





