[發(fā)明專利]液晶顯示面板的修復(fù)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210138144.4
• 申請日: 2012-05-04
• 公開（公告）號: CN102654661A
• 公開（公告）日: 2012-09-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳濤;鈕曼萍
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 羅建民;陳源

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)，尤其涉及一種液晶顯示面板的修復(fù)方法。

背景技術(shù)

液晶顯示器是目前常用的平板顯示器，其中薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display，簡稱：TFT-LCD)是液晶顯示器中的主流產(chǎn)品。

液晶顯示面板是液晶顯示器的重要部件，液晶顯示面板由陣列基板和彩膜基板對盒而成。在液晶顯示面板的制造過程中，亮點(Bright?Pixel)是最常見的不良，亮點可發(fā)生于彩膜基板的彩色矩陣圖形上。造成液晶顯示面板出現(xiàn)亮點的原因可以包括：TFT工程上產(chǎn)生異物、TFT無法正常驅(qū)動或者進(jìn)行TFT工程時人為注入的異物質(zhì)引起的短路(short)等。當(dāng)彩膜基板的彩色矩陣圖形上出現(xiàn)亮點時，該彩色矩陣圖形僅能顯示本身的固有顏色而無法隨驅(qū)動電壓變化而改變顯示顏色。在將陣列基板和彩膜基板對盒形成液晶顯示面板之后，需要對液晶顯示面板進(jìn)行測試。當(dāng)測試出液晶顯示面板出現(xiàn)亮點后，可通過修復(fù)工藝(cell?repair)對液晶顯示面板上亮點的修復(fù)。

現(xiàn)有技術(shù)中，通過持續(xù)向液晶顯示面板施加高電壓以實現(xiàn)對亮點的修復(fù)。但是，由于液晶顯示面板內(nèi)部容易產(chǎn)生異物，異物會導(dǎo)致液晶顯示面板出現(xiàn)亮點不良，在持續(xù)施加高電壓的過程中，產(chǎn)生的異物會使液晶顯示面板發(fā)生線不良，從而增加了產(chǎn)品的不良率以及降低了產(chǎn)品活用度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種液晶顯示面板的修復(fù)方法，用以降低產(chǎn)品的不良率以及增加產(chǎn)品活用度。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種液晶顯示面板的修復(fù)方法，所述液晶顯示面板的彩膜基板包括襯底基板以及形成于所述襯底基板上的黑矩陣圖形和彩色矩陣圖形；所述修復(fù)方法包括：

在所述液晶顯示面板出現(xiàn)亮點不良時，通過將所述亮點轉(zhuǎn)化成暗點來對所述亮點不良進(jìn)行初次修復(fù)；

檢測初次修復(fù)后的像素點的光參數(shù)；

若判斷出某一像素點的光參數(shù)大于或者等于特定數(shù)值，確定所述光參數(shù)大于或者等于所述特定數(shù)值的像素點為剩余亮點，對所述液晶顯示面板的彩膜基板上與所述剩余亮點對應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行碳化處理。

可選地，所述光參數(shù)包括：光透過率。

進(jìn)一步地，若所述亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形為紅色矩陣圖形，所述特定數(shù)值為16％；

若所述亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形為綠色矩陣圖形，所述特定數(shù)值為8％；

若所述亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形為藍(lán)色矩陣圖形，所述特定數(shù)值為24％。

可選地，所述光參數(shù)包括：光透過面積。

進(jìn)一步地，所述特定數(shù)值為所述亮點對應(yīng)的像素開口面積的三分之

可選地，所述將所述亮點轉(zhuǎn)化成暗點包括：

利用激光照射亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形，使襯底基板與亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形之間形成縫隙；

利用激光照射所述亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形周邊的黑矩陣圖形，使所述亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形周邊的黑矩陣圖形顆粒化并通過所述縫隙擴(kuò)散以覆蓋所述亮點，以使所述亮點轉(zhuǎn)化成暗點。

可選地，激光照射所述亮點對應(yīng)的彩色矩陣圖形周邊的黑矩陣圖形時對黑矩陣圖形的滲透深度由所述激光的強(qiáng)度決定。

可選地，所述激光的強(qiáng)度越強(qiáng)，所述滲透深度越大。

可選地，所述對所述液晶顯示面板的彩膜基板上與所述剩余亮點對應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行碳化處理，包括：利用激光照射所述剩余亮點在彩膜基板上對應(yīng)的區(qū)域，使該區(qū)域的彩色矩陣圖形分解為碳和氣體化合物，以使所述剩余亮點轉(zhuǎn)化成暗點。

可選地，所述液晶顯示面板出現(xiàn)亮點的原因包括如下之一或其任意組合：薄膜晶體管TFT的過孔缺失、TFT的柵極開路、跨柵線的像素間短路、像素與數(shù)據(jù)線間短路、像素下存在數(shù)據(jù)線殘留物、像素下存在a-Si殘留物、跨數(shù)據(jù)線的像素間短路、像素與柵線間短路、TFT器件關(guān)閉電流過高、TFT器件打開電流過小、液晶層出現(xiàn)異物、接觸面不良、源漏極開路。

本發(fā)明具有以下有益效果：

本發(fā)明提供的液晶顯示面板的修復(fù)方法包括將亮點轉(zhuǎn)化成暗點的初次修復(fù)，并對初次修復(fù)后的像素點進(jìn)行檢測；若檢測結(jié)果表明仍存在亮點不良，則對剩余亮點在彩色矩陣圖形上對應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行碳化處理；利用本發(fā)明提供的方案，不僅可以提高亮點不良的修復(fù)率，而且避免了持續(xù)施加高電壓過程中產(chǎn)生的異物使液晶顯示面板發(fā)生線不良的情況，從而降低了產(chǎn)品的不良率以及提高了產(chǎn)品活用度。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例一提供的一種液晶顯示面板的修復(fù)方法的流程圖；

圖2為本實施例中引發(fā)亮點的一種示意圖；