[發(fā)明專利]液晶顯示面板的修復(fù)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210138144.4
• 申請(qǐng)日: 2012-05-04
• 公開（公告）號(hào): CN102654661A
• 公開（公告）日: 2012-09-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳濤;鈕曼萍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 羅建民;陳源

1.一種液晶顯示面板的修復(fù)方法，所述液晶顯示面板的彩膜基板包括襯底基板以及形成于所述襯底基板上的黑矩陣圖形和彩色矩陣圖形；其特征在于，所述修復(fù)方法包括：

在所述液晶顯示面板出現(xiàn)亮點(diǎn)不良時(shí)，通過將所述亮點(diǎn)轉(zhuǎn)化成暗點(diǎn)來對(duì)所述亮點(diǎn)不良進(jìn)行初次修復(fù)；

檢測(cè)初次修復(fù)后的像素點(diǎn)的光參數(shù)；

若判斷出某一像素點(diǎn)的光參數(shù)大于或者等于特定數(shù)值，確定所述光參數(shù)大于或者等于所述特定數(shù)值的像素點(diǎn)為剩余亮點(diǎn)，對(duì)所述液晶顯示面板的彩膜基板上與所述剩余亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行碳化處理。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述光參數(shù)包括：光透過率。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，

若所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形為紅色矩陣圖形，所述特定數(shù)值為16％；

若所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形為綠色矩陣圖形，所述特定數(shù)值為8％；

若所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形為藍(lán)色矩陣圖形，所述特定數(shù)值為24％。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述光參數(shù)包括：光透過面積。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述特定數(shù)值為所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的像素開口面積的三分之一。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述將所述亮點(diǎn)轉(zhuǎn)化成暗點(diǎn)包括：

利用激光照射所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形，使襯底基板與亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形之間形成縫隙；

利用激光照射所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形周邊的黑矩陣圖形，使所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形周邊的黑矩陣圖形顆?；⑼ㄟ^所述縫隙擴(kuò)散以覆蓋所述亮點(diǎn)，以使所述亮點(diǎn)轉(zhuǎn)化成暗點(diǎn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，激光照射所述亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的彩色矩陣圖形周邊的黑矩陣圖形時(shí)對(duì)黑矩陣圖形的滲透深度由所述激光的強(qiáng)度決定。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述激光的強(qiáng)度越強(qiáng)，所述滲透深度越大。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述對(duì)所述液晶顯示面板的彩膜基板上與所述剩余亮點(diǎn)對(duì)應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行碳化處理，包括：

利用激光照射所述剩余亮點(diǎn)在彩膜基板上對(duì)應(yīng)的區(qū)域，使該區(qū)域的彩色矩陣圖形分解為碳和氣體化合物，以使所述剩余亮點(diǎn)轉(zhuǎn)化成暗點(diǎn)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至9任一所述的液晶顯示面板的修復(fù)方法，其特征在于，所述液晶顯示面板出現(xiàn)亮點(diǎn)的原因包括如下之一或其任意組合：薄膜晶體管TFT的過孔缺失、TFT的柵極開路、跨柵線的像素間短路、像素與數(shù)據(jù)線間短路、像素下存在數(shù)據(jù)線殘留物、像素下存在a-Si殘留物、跨數(shù)據(jù)線的像素間短路、像素與柵線間短路、TFT器件關(guān)閉電流過高、TFT器件打開電流過小、液晶層出現(xiàn)異物、接觸面不良、源漏極開路。