[發(fā)明專利]一種危害性分析中風險優(yōu)先數(shù)門限值的確定方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210122985.6
• 申請日: 2012-04-24
• 公開（公告）號: CN102622531A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發(fā)明（設計）人: 趙幼虎;付桂翠;萬博;陳政平
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京慧泉知識產(chǎn)權代理有限公司 11232
• 代理人: 王順榮;唐愛華

(一)技術領域

本發(fā)明涉及一種危害性分析中風險優(yōu)先數(shù)門限值的確定方法，它致力于保證危害性分析在產(chǎn)品上的有效應用，精確判斷出風險較高的工藝故障，屬于工藝可靠性工程技術領域。

(二)背景技術

危害性分析是指對產(chǎn)品中的每個故障模式發(fā)生的概率及其危害程度所產(chǎn)生的綜合影響進行分析，以全面評價產(chǎn)品各種可能出現(xiàn)的故障模式的影響。

目前工程實際中，產(chǎn)品的危害性分析工作主要依據(jù)GJB/Z?1391-2006《故障模式、影響及危害性分析指南》進行。標準中提出的危害性分析方法包括兩種：風險優(yōu)先數(shù)(RPN)法和危害性矩陣法。其中，風險優(yōu)先數(shù)法需要對每一個故障模式的嚴酷度(S)、發(fā)生概率(O)、被檢測難度(D)三個等級進行評價，三者相乘得到對應的RPN值，RPN值較高的故障模式確定為關鍵故障模式；危害性矩陣法則是利用失效率、工作時間等參數(shù)計算出每一個故障模式的危害度，通過作圖的方法確定關鍵故障模式。

本專利申請所針對是風險優(yōu)先數(shù)法的不足，該方法在分析的過程中主觀的因素較多，尤其是方法中需要確定的RPN門限值主要通過專家討論的方式來實現(xiàn)，依據(jù)不明確，且具有一定的隨機性。在危害性分析方法中，RPN門限值決定了哪些故障需要作為關鍵故障采取改進措施，門限值確定的準確與否對整個危害性分析方法的有效實施起到舉足輕重的作用。

(三)發(fā)明內(nèi)容

1、目的；本發(fā)明的目的是提供一種危害性分析中風險優(yōu)先數(shù)門限值的確定方法，該方法可操作性強，能夠客觀準確的確定RPN門限值，進而明確關鍵故障模式，提出改進措施，提高產(chǎn)品的工藝可靠性。

2、技術方案：

本發(fā)明一種危害性分析中風險優(yōu)先數(shù)門限值的確定方法，該方法具體步驟如下：

步驟1：針對開展危害性分析的產(chǎn)品具體工藝過程，在前期工作的基礎上，計算所有工藝故障模式的RPN值。

步驟2：利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖。

步驟3：利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉(zhuǎn)折點，即確定RPN門限值。

其中，步驟1中所述的“前期工作”指的是危害性分析中的工藝故障模式分析、工藝故障原因分析、工藝故障影響分析，再針對每個工藝故障模式評定對應的嚴酷度等級、發(fā)生概率等級和被檢測難度等級。

其中，在步驟1中所述的“計算所有工藝故障模式的RPN值”，其計算公式如下：

RPN＝S×O×D

式中，RPN為某個工藝故障模式的風險優(yōu)先數(shù)，S為某個工藝故障模式的嚴酷度等級，O為某個工藝故障模式的發(fā)生概率等級，D為某個工藝故障模式的被檢測難度等級。

其中，步驟2中所述的“利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖”，是將工藝故障模式對應的不同的RPN值(相同RPN值的故障模式進行合并)按照從小到大的順序進行排列，其對應排列序號(從1開始的自然數(shù))為某一RPN值順序序數(shù)。以RPN順序序數(shù)為橫軸，RPN值本身作為縱軸，做出散點圖，即為RPN順序散點圖。

其中，步驟3中所述的“利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉(zhuǎn)折點，即確定RPN門限值”是指從最小i個RPN順序序數(shù)區(qū)域(一般可選擇i＝5～10)開始，進行線性回歸并計算下一RPN數(shù)值在某一置信度下的預測區(qū)間。若第i+1個RPN數(shù)值落在預測區(qū)間以內(nèi)，則將其與已回歸的數(shù)值合并再次進行線性回歸并計算第i+2個RPN數(shù)值的預測區(qū)間；第i+1個RPN數(shù)值落在預測區(qū)間以外，則停止計算并判斷第i+1個點為線性增長趨勢喪失的轉(zhuǎn)折點。最終可將增長趨勢喪失的轉(zhuǎn)折點作為RPN門限值，即大于或等于此數(shù)值的所有故障模式都應當進行改進。

3、優(yōu)點及功效：本發(fā)明提供了一種危害性分析中風險優(yōu)先數(shù)門限值的確定方法，其優(yōu)點主要有：

1)本方法在已有的工藝危害性分析方法的基礎上，解決了RPN門限值難以確定或確定依據(jù)不明確的問題；

2)本方法所采取的是散點圖及線性回歸的方法，可以利用現(xiàn)有成熟方法實現(xiàn)，操作簡單方便，利于推廣。

(四)附圖說明

圖1為本發(fā)明實施方案流程框圖。

圖2為某組件工藝故障模式RPN順序散點圖。

(五)具體實施方式

下面結(jié)合具體的實施案例，對本發(fā)明所述的一種危害性分析中風險優(yōu)先數(shù)門限值的確定方法進行詳細說明。

案例：應用于某組件工藝過程