[發明專利]一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法

無效

• 申請號: 201210122985.6
• 申請日: 2012-04-24
• 公開（公告）號: CN102622531A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 趙幼虎;付桂翠;萬博;陳政平
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京慧泉知識產權代理有限公司 11232
• 代理人: 王順榮;唐愛華

1.一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于：該方法具體步驟如下：

步驟1：針對開展危害性分析的產品具體工藝過程，在前期工作的基礎上，計算所有工藝故障模式的RPN值；

步驟2：利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖；

步驟3：利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值。

2.根據權利要求1所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于：步驟1中所述的“前期工作”指的是危害性分析中的工藝故障模式分析、工藝故障原因分析、工藝故障影響分析，再針對每個工藝故障模式評定對應的嚴酷度等級、發生概率等級和被檢測難度等級。

3.根據權利要求1所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于：

步驟1中所述的“計算所有工藝故障模式的RPN值”，其計算公式如下：

RPN＝S×O×D

式中，RPN為某個工藝故障模式的風險優先數，S為某個工藝故障模式的嚴酷度等級，O為某個工藝故障模式的發生概率等級，D為某個工藝故障模式的被檢測難度等級。

4.根據權利要求1所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于：

步驟2中所述的“利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖”，是將工藝故障模式對應的不同的RPN值，按照從小到大的順序進行排列，其對應排列序號為某一RPN值順序序數，以RPN順序序數為橫軸，RPN值本身作為縱軸，做出散點圖，即為RPN順序散點圖。

5.根據權利要求1所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于：

步驟3中所述的“利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值”是指從最小i個RPN順序序數區域開始，進行線性回歸并計算下一RPN數值在某一置信度下的預測區間；若第i+1個RPN數值落在預測區間以內，則將其與已回歸的數值合并再次進行線性回歸并計算第i+2個RPN數值的預測區間；第i+1個RPN數值落在預測區間以外，則停止計算并判斷第i+1個點為線性增長趨勢喪失的轉折點；最終將增長趨勢喪失的轉折點作為RPN門限值，即大于或等于此數值的所有故障模式都應當進行改進。