[發(fā)明專利]測(cè)試裝置及對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210122338.5
• 申請(qǐng)日: 2012-04-24
• 公開（公告）號(hào): CN102638263A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 索鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司
• 主分類號(hào): H03M1/10
• 分類號(hào): H03M1/10
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

1.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

信號(hào)輸入裝置、存儲(chǔ)器測(cè)試裝置、D/A轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器、測(cè)試單元，所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置包括第一存儲(chǔ)器單元和第二存儲(chǔ)器單元，所述D/A轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器其中一個(gè)為標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)換器，另一個(gè)為待測(cè)試轉(zhuǎn)換器；

所述信號(hào)輸入裝置用于產(chǎn)生數(shù)字向量，并將所述數(shù)字向量存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器測(cè)試裝置中的第一存儲(chǔ)器單元中；

所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置將所述第一存儲(chǔ)器單元中的數(shù)字向量通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，并將所述模擬信號(hào)發(fā)送給A/D轉(zhuǎn)換器；

所述A/D轉(zhuǎn)換器將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，并存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的第二存儲(chǔ)器單元中；

所述測(cè)試單元對(duì)第二存儲(chǔ)器單元中的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理測(cè)試出待測(cè)試轉(zhuǎn)換器的性能參數(shù)，將所述待測(cè)試轉(zhuǎn)換器的性能參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)進(jìn)行比較，判斷待測(cè)試轉(zhuǎn)換器是否符合技術(shù)要求。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，當(dāng)所述D/A轉(zhuǎn)換器為標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)換器，所述A/D轉(zhuǎn)換器為待測(cè)試轉(zhuǎn)換器，所述D/A轉(zhuǎn)換器的精度高于所述A/D轉(zhuǎn)換器的精度。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，當(dāng)所述A/D轉(zhuǎn)換器為標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)換器，所述D/A轉(zhuǎn)換器為待測(cè)試轉(zhuǎn)換器，所述A/D轉(zhuǎn)換器的精度高于所述D/A轉(zhuǎn)換器的精度。

4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括：位于所述D/A轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器之間的低通濾波器，將所述D/A轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換后的模擬信號(hào)進(jìn)行濾波。

5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括：位于所述D/A轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器之間的運(yùn)算放大電路，提高D/A轉(zhuǎn)換器的增益。

6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)輸入裝置為任意波形產(chǎn)生器，所述任意波形產(chǎn)生器包括信號(hào)圖形產(chǎn)生模塊和直接數(shù)字頻率合成模塊。

7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)輸入裝置還包括信號(hào)格式轉(zhuǎn)換模塊，用于將直接數(shù)字頻率合成模塊產(chǎn)生的數(shù)字信號(hào)的格式轉(zhuǎn)換成存儲(chǔ)器測(cè)試裝置內(nèi)部的數(shù)據(jù)格式。

8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置為卡羅斯存儲(chǔ)器測(cè)試裝置。

9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述性能參數(shù)包括靜態(tài)性能參數(shù)和動(dòng)態(tài)性能參數(shù)，當(dāng)所述靜態(tài)性能參數(shù)和動(dòng)態(tài)性能參數(shù)滿足技術(shù)要求，表明所述待測(cè)試轉(zhuǎn)換器符合技術(shù)要求；當(dāng)所述靜態(tài)性能參數(shù)或動(dòng)態(tài)性能參數(shù)不滿足技術(shù)要求，表明所述待測(cè)試轉(zhuǎn)換器不符合技術(shù)要求。

10.如權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述動(dòng)態(tài)性能參數(shù)包括信號(hào)-噪聲比，信號(hào)-噪聲加失真，總諧波失真，以及無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍。

11.如權(quán)利要求10所述的測(cè)試裝置，其特征在于，當(dāng)待測(cè)試轉(zhuǎn)換器為12位，所述待測(cè)試轉(zhuǎn)換器的信號(hào)-噪聲比，信號(hào)-噪聲加失真比的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)范圍為大于60dB，所述總諧波失真的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)范圍為小于等于-70dB，所述無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)范圍為大于等于55dB。

12.如權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述靜態(tài)性能參數(shù)包括積分非線性誤差、微分非線性誤差、失調(diào)誤差、增益誤差。

13.如權(quán)利要求12所述的測(cè)試裝置，其特征在于，當(dāng)待檢測(cè)轉(zhuǎn)換器為12位，所述待測(cè)試轉(zhuǎn)換器的積分非線性誤差、微分非線性誤差的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)范圍為小于等于1LSB，所述增益誤差、失調(diào)誤差的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)范圍為小于等于2mV。

14.一種采用如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置的測(cè)試方法，其特征在于，包括：

利用信號(hào)輸入裝置產(chǎn)生數(shù)字向量，并將所述數(shù)字向量存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器測(cè)試裝置中的第一存儲(chǔ)器單元中；

將所述第一存儲(chǔ)器單元中的數(shù)字向量通過(guò)所述D/A轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，并將所述模擬信號(hào)發(fā)送給A/D轉(zhuǎn)換器；

利用所述A/D轉(zhuǎn)換器將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，并存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的第二存儲(chǔ)器單元中；

利用所述測(cè)試單元對(duì)第二存儲(chǔ)器單元中的數(shù)字信息進(jìn)行處理測(cè)試出器件待測(cè)試轉(zhuǎn)換器的性能參數(shù)，將所述待測(cè)試轉(zhuǎn)換器的性能參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)進(jìn)行比較，判斷待測(cè)試轉(zhuǎn)換器是否符合技術(shù)要求。