[發明專利]循跡控制裝置和循跡控制方法

無效

• 申請號: 201210113314.3
• 申請日: 2012-04-17
• 公開（公告）號: CN102750960A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 堀田徹;林善雄
• 申請（專利權）人: 三洋電機株式會社;三洋光學設計株式會社
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

技術領域

本發明涉及一種使用激光對記錄在光盤中的信號進行讀取動作的光拾取裝置的循跡(トラツキング)控制方法。

背景技術

通過向光盤的信號記錄層照射從光拾取裝置照射的激光來能夠進行信號的讀取動作的光盤裝置已經普及。

通過使從激光二極管發射的激光照射到信號記錄層，并通過光檢測器檢測從該信號記錄層反射的激光的變化，從而實現通過光拾取裝置對記錄在信號記錄層中的信號進行的讀取動作。

為了使用激光對記錄在信號記錄層中的信號進行讀取，必須正確地進行循跡控制動作，該循跡控制動作為使激光跟蹤以漩渦狀設置在信號記錄層中的信號軌道。

作為這樣的循跡控制方法有各種方法，除了使用主光束的推挽法或相位差法以外，一般采用如下的被稱為差動推挽法的循跡控制方法：設置光檢測器，根據從該光檢測器得到的信號生成循跡誤差信號，其中，該光檢測器中組裝有分別被照射兩個子光束的兩個子光束用受光部以及被照射主光束的主光束用受光部(參照專利文獻1)。

而且，最近，設置有多層例如四層信號記錄層而非一層信號記錄層的光盤已經產品化，能夠對記錄在這樣的設置有多個信號記錄層的光盤的各信號記錄層中的信號進行讀取動作的光拾取裝置也已經產品化。

專利文獻1：日本特開2008-84415號公報

發明內容

發明要解決的問題

基于差動推挽法的循跡控制由于利用從對兩個子光束進行受光的子光束用受光部和對主光束進行受光的主光束用受光部得到的信號來生成循跡誤差信號，因此具有如下優點：能夠解決利用只從主光束用受光部得到的信號進行循跡控制動作的推挽法中產生的偏移問題。

但是，這樣的差動推挽法必須設置使激光光束分離為主光束和子光束的衍射光柵，因此有不僅價格高、而且光學結構復雜的問題。

另外，會產生如下問題：在對記錄在上述的設置有多個信號記錄層的光盤中的信號進行再現動作的情況下，從與進行信號的再現動作的信號記錄層不同的信號記錄層反射的反射光即雜散光照射到子光束用受光部而對子光束的檢測動作產生惡劣影響。

作為解決這樣的因雜散光引起的問題的方法，提出了使子光束用受光部的形狀成為八角形等的很多技術，但有價格高并且對精度有要求的問題。

為了解決上述問題，可考慮采用僅使用主光束的推挽方式的循跡控制方法，但是這樣的循跡控制方式存在由于物鏡在徑向上的偏倚動作而產生偏移這種問題。

本發明要提供一種能夠解決上述問題的循跡控制方法。

用于解決問題的方案

本發明的循跡控制方法是光拾取裝置的循跡控制方法，該光拾取裝置具備對從設置在光盤上的信號記錄層反射的返回光進行受光的四分割傳感器，并且具備使物鏡在光盤的徑向上位移的循跡線圈，該循跡控制方法的特征在于，通過推挽信號生成電路根據從上述四分割傳感器得到的信號生成在推挽方式中使用的循跡誤差信號；通過物鏡偏倚電壓檢測電路對為了使物鏡偏倚而提供給上述循跡線圈的直流電壓進行檢測，通過偏移校正信號生成電路根據通過該物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓來生成偏移校正信號，其中，利用從上述偏移校正信號生成電路輸出的偏移校正信號對從上述推挽信號生成電路輸出的循跡誤差信號的偏移進行校正。

另外，本發明的循跡控制方法的特征在于，通過偏移校正信號生成電路生成大小與通過物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓的大小對應的偏移校正信號。

并且，本發明的循跡控制方法的特征在于，當通過物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓的大小大于規定值時，從偏移校正信號生成電路輸出偏移校正信號。

另外，本發明的循跡控制方法的特征在于，上述規定值的大小為產生對循跡控制動作帶來障礙的偏移量的大小。

本發明的循跡控制裝置是光拾取裝置的循跡控制裝置，該光拾取裝置具備對從設置在光盤上的信號記錄層反射的返回光進行受光的四分割傳感器，并且具備使物鏡在光盤的徑向上位移的循跡線圈，該循跡控制裝置的特征在于，具備：推挽信號生成電路，其根據從上述四分割傳感器得到的信號生成在推挽方式中使用的循跡誤差信號；物鏡偏倚電壓檢測電路，其對為了使物鏡偏倚而提供給上述循跡線圈的直流電壓進行檢測；以及偏移校正信號生成電路，其根據通過該物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓來生成偏移校正信號，其中，利用從上述偏移校正信號生成電路輸出的偏移校正信號對從上述推挽信號生成電路輸出的循跡誤差信號的偏移進行校正。