[發明專利]循跡控制裝置和循跡控制方法無效
| 申請號： | 201210113314.3 | 申請日： | 2012-04-17 |
| 公開（公告）號： | CN102750960A | 公開（公告）日： | 2012-10-24 |
| 發明（設計）人： | 堀田徹;林善雄 | 申請（專利權）人： | 三洋電機株式會社;三洋光學設計株式會社 |
| 主分類號： | G11B7/09 | 分類號： | G11B7/09 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 控制 裝置 方法 | ||
1.一種循跡控制方法，是光拾取裝置的循跡控制方法，該光拾取裝置具備對從設置在光盤上的信號記錄層反射的返回光進行受光的四分割傳感器，并且具備使物鏡在光盤的徑向上位移的循跡線圈，該循跡控制方法的特征在于，
通過推挽信號生成電路根據從上述四分割傳感器得到的信號生成在推挽方式中使用的循跡誤差信號；
通過物鏡偏倚電壓檢測電路對為了使物鏡偏倚而提供給上述循跡線圈的直流電壓進行檢測，
通過偏移校正信號生成電路根據通過該物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓來生成偏移校正信號，
其中，利用從上述偏移校正信號生成電路輸出的偏移校正信號對從上述推挽信號生成電路輸出的循跡誤差信號的偏移進行校正。
2.根據權利要求1所述的循跡控制方法，其特征在于，
通過偏移校正信號生成電路生成大小與通過物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓的大小對應的偏移校正信號。
3.根據權利要求1所述的循跡控制方法，其特征在于，
當通過物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓的大小大于規定值時，從偏移校正信號生成電路輸出偏移校正信號。
4.根據權利要求3所述的循跡控制方法，其特征在于，
上述規定值的大小為產生對循跡控制動作帶來障礙的偏移量的大小。
5.一種循跡控制裝置，是光拾取裝置的循跡控制裝置，該光拾取裝置具備對從設置在光盤上的信號記錄層反射的返回光進行受光的四分割傳感器，并且具備使物鏡在光盤的徑向上位移的循跡線圈，該循跡控制裝置的特征在于，具備：
推挽信號生成電路，其根據從上述四分割傳感器得到的信號生成在推挽方式中使用的循跡誤差信號；
物鏡偏倚電壓檢測電路，其對為了使物鏡偏倚而提供給上述循跡線圈的直流電壓進行檢測；以及
偏移校正信號生成電路，其根據通過該物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓來生成偏移校正信號，
其中，利用從上述偏移校正信號生成電路輸出的偏移校正信號對從上述推挽信號生成電路輸出的循跡誤差信號的偏移進行校正。
6.根據權利要求5所述的循跡控制裝置，其特征在于，
通過偏移校正信號生成電路生成大小與通過物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓的大小對應的偏移校正信號。
7.根據權利要求5所述的循跡控制裝置，其特征在于，
當通過物鏡偏倚電壓檢測電路檢測出的直流電壓的大小大于規定值時，從偏移校正信號生成電路輸出偏移校正信號。
8.根據權利要求7所述的循跡控制裝置，其特征在于，
上述規定值的大小為產生對循跡控制動作帶來障礙的偏移量的大小。
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