[發明專利]一種電度表自動校驗方法

無效

• 申請號: 201210112720.8
• 申請日: 2012-04-17
• 公開（公告）號: CN102621518A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 何文波;孫娟
• 申請（專利權）人: 青島乾程電子科技有限公司
• 主分類號: G01R35/04
• 分類號: G01R35/04
• 代理公司: 青島高曉專利事務所 37104
• 代理人: 張世功

技術領域：

本發明屬于電子技術中的電表制備技術領域，涉及一種電表生產過程中利用計算機系統對電表進行自動校驗的工藝步驟，特別是一種電度表自動校驗方法。

背景技術：

電度表的校驗工序是電子電能表生產中的一道重要的工序，簡稱校表，校表即調試電表使其與標準表的相對精度誤差在規定的范圍內。電度表校表分為硬件校表與軟件校表兩種方法，硬件校表是利用一個電阻網絡，通過修改電阻網絡中的電阻值來達到校表目的；軟件校表是根據計量芯片的功能，按照一定的校表方法，通過改變芯片寄存器值，即改變有功增益、相位、有功功率偏移等方法來達到校表的目的，目前普遍使用計算機系統并通過軟件校表技術進行調校。在軟件校表中，使用校表臺對電表進行電壓、電流、功率因數控制，一架校表臺同時懸掛多塊電表，可同時對多塊電表進行調校，校表過程可分為多個校表步驟，一般過程為：啟動表臺，人為或軟件控制表臺電壓、電流、功率因數，等待表臺讀數穩定，讀取表臺電壓、電流、功率因數，讀取各表位電表電壓、電流、功率因數及誤差，然后按照校表公式對各表位電表進行調校，等待電表誤差讀數穩定，比對電表誤差是否合格，將不合格者做一標記；然后設定表臺其它電壓、電流、功率因數值，重復上述調校比對過程，直至全部結束。提高校表工序生產效率，減少電表校表過程中的人為控制因素，降低校表過程的人工操作復雜度，減少校表過程中的人工用量，加強校表過程的可追溯性，已成為電度表生產過程中校表工序的重要目標。

發明內容：

本發明的目的在于克服現有技術存在的缺點，尋求設計肯提供一種借助于計算機系統，采用軟件控制程序對電表生產過程中的成品電表進行自動校驗，以提高生產效率和電度表的精確度。

為了實現上述目的，本發明的具體工藝方法包括選擇校驗物料、選擇校驗表位、探測表地址、判斷組裝測試、電表調校和精度檢驗六個過程，具體步驟是：

(1)選擇校驗物料：對被校驗的成批待校電表進行物料編碼或信息的選擇，物料編碼的信息包括電表的校正方案、額定電流、最大電流和誤差上下限；選擇物料編碼后再進行表位選擇，并跳過沒有做出選擇的表位；

(2)選擇校驗表位：對待校電表完成物料編碼的選擇和表位選擇后，系統自動對待校電表進行表位的探測和選擇，對確定表位的待校電表進行下一步驟，對沒有確定表位的待校電表進行跳過；

(3)探測電表地址：電表地址是電表校驗的唯一編碼，系統在完成表位選擇后對待校電表地址進行探測和選擇，并依據所選電表地址對照待校電表的物料編碼或信息，判斷待校電表的物料編碼與實際物料編碼是否相符，如果相符則進行下一步，如果不符，則更換此表位電表或取消此表位校表，并重新探測電表地址；

(4)判斷組裝測試：對進入本步驟的待校電表進行組裝測試判斷，如果組裝測試合格，則進行下一步驟，如果組裝測試不合格，則更換此表位電表或取消此表位校表，然后重新探測電表地址；

(5)電表調校：對通過組裝測試的電表，系統自動調取校表方案對待校電表的電壓、電流和功率數據進行調校，并計算出待校電表的調整參數，再進行比對確定參數誤差值并圖形或列表顯示或打??；

(6)精度檢驗：對調校過的電表，依據顯示參數進行精度檢驗，對合格的待校電表則進入成品庫，對不合格的待校電表則返回重新調校。