[發明專利]一種電度表自動校驗方法

無效

• 申請號: 201210112720.8
• 申請日: 2012-04-17
• 公開（公告）號: CN102621518A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 何文波;孫娟
• 申請（專利權）人: 青島乾程電子科技有限公司
• 主分類號: G01R35/04
• 分類號: G01R35/04
• 代理公司: 青島高曉專利事務所 37104
• 代理人: 張世功

1.一種電度表自動校驗方法，其特征在于包括選擇校驗物料、選擇校驗表位、探測表地址、判斷組裝測試、電表調校和精度檢驗六個過程，具體步驟是：

(1)選擇校驗物料：對被校驗的成批待校電表進行物料編碼或信息的選擇，物料編碼的信息包括電表的校正方案、額定電流、最大電流和誤差上下限；選擇物料編碼后再進行表位選擇，并跳過沒有做出選擇的表位；

(2)選擇校驗表位：對待校電表完成物料編碼的選擇和表位選擇后，系統自動對待校電表進行表位的探測和選擇，對確定表位的待校電表進行下一步驟，對沒有確定表位的待校電表進行跳過；

(3)探測電表地址：電表地址是電表校驗的唯一編碼，系統在完成表位選擇后對待校電表地址進行探測和選擇，并依據所選電表地址對照待校電表的物料編碼或信息，判斷待校電表的物料編碼與實際物料編碼是否相符，如果相符則進行下一步，如果不符，則更換此表位電表或取消此表位校表，并重新探測電表地址；

(4)判斷組裝測試：對進入本步驟的待校電表進行組裝測試判斷，如果組裝測試合格，則進行下一步驟，如果組裝測試不合格，則更換此表位電表或取消此表位校表，然后重新探測電表地址；

(5)電表調校：對通過組裝測試的電表，系統自動調取校表方案對待校電表的電壓、電流和功率數據進行調校，并計算出待校電表的調整參數，再進行比對確定參數誤差值并圖形或列表顯示或打印；

(6)精度檢驗：對調校過的電表，依據顯示參數進行精度檢驗，對合格的待校電表則進入成品庫，對不合格的待校電表則返回重新調校。