[發(fā)明專利]航天電磁繼電器的貯存性能測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210112645.5
• 申請(qǐng)日: 2012-04-17
• 公開（公告）號(hào): CN102621488A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 翟國(guó)富;王召斌;黃曉毅;葉雪榮;馬躍;楊文英;任萬濱;鄭艷明
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/327
• 分類號(hào): G01R31/327
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 牟永林

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種航天電磁繼電器的貯存性能測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，屬于電磁繼電器性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

航天電磁繼電器是國(guó)防武器裝備系統(tǒng)中不可缺少的關(guān)鍵元器件之一，廣泛應(yīng)用于衛(wèi)星、導(dǎo)彈、運(yùn)載火箭等設(shè)備中，主要完成信號(hào)傳遞、系統(tǒng)配電、電路隔離及負(fù)載切換等功能。現(xiàn)代武器裝備具有“長(zhǎng)期貯存，一次使用”的特點(diǎn)，因此繼電器的貯存可靠性直接影響整個(gè)國(guó)防武器裝備系統(tǒng)和宇航系統(tǒng)的可靠性。

航天電磁繼電器的貯存環(huán)境復(fù)雜，貯存過程中會(huì)受環(huán)境因素，如溫度、濕度、腐蝕、氧化、霉變、大氣污染等的影響，其各項(xiàng)性能會(huì)發(fā)生退化，甚至失效報(bào)廢。為了評(píng)估它貯存的性能，在加速退化過程中研究其特性參數(shù)的變化情況是非常必要的，因此對(duì)處于加速退化中的航天電磁繼電器進(jìn)行接觸電阻和時(shí)間參數(shù)監(jiān)測(cè)，能夠?yàn)槔^電器的可靠性乃至系統(tǒng)的可靠性研究奠定基礎(chǔ)。

目前，國(guó)內(nèi)外還沒有專門的測(cè)試儀器用來測(cè)量貯存過程中航天電磁繼電器的接觸電阻和時(shí)間參數(shù)，由于貯存試驗(yàn)要求測(cè)量時(shí)不能對(duì)繼電器的觸點(diǎn)造成破壞，會(huì)對(duì)觸點(diǎn)負(fù)載電流有嚴(yán)格限制，國(guó)軍標(biāo)65B-99要求觸點(diǎn)負(fù)載電流不大于10mA，而常用的航天電磁繼電器測(cè)試儀用于貯存試驗(yàn)會(huì)存在以下缺點(diǎn)：

1、貯存試驗(yàn)樣品多，引線長(zhǎng)，磁場(chǎng)耦合干擾和噪聲耦合干擾會(huì)影響小信號(hào)的檢測(cè)采集，若要保證測(cè)量精度，則觸點(diǎn)負(fù)載電流比較大，無法滿足國(guó)軍標(biāo)要求。

2、對(duì)航天電磁繼電器的接觸電阻、吸合時(shí)間、釋放時(shí)間、吸合彈跳時(shí)間、釋放彈跳時(shí)間、超程時(shí)間和吸合穩(wěn)定時(shí)間、釋放穩(wěn)定時(shí)間的測(cè)量采用幾種不同的儀器進(jìn)行，不能同時(shí)測(cè)得；

3、測(cè)試步驟比較繁瑣，需要連續(xù)插拔，而且沒有采用在模擬惡劣環(huán)境下進(jìn)行加速退化貯存試驗(yàn)來實(shí)時(shí)連續(xù)地測(cè)試并保存所測(cè)得的參數(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明是為了解決現(xiàn)有航天電磁繼電器測(cè)試儀不能實(shí)時(shí)檢測(cè)航天電磁繼電器在加速退化過程中性能參數(shù)的問題，提供一種航天電磁繼電器的貯存性能測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。

本發(fā)明所述航天電磁繼電器的貯存性能測(cè)試系統(tǒng)，它包括多個(gè)恒溫箱，它還包括待測(cè)繼電器切換電路、接觸電阻測(cè)試儀、時(shí)間參數(shù)測(cè)試儀、下位機(jī)和上位機(jī)，所述待測(cè)繼電器切換電路由多個(gè)切換單元組成，所述切換單元的個(gè)數(shù)與恒溫箱的個(gè)數(shù)相同，

每個(gè)恒溫箱內(nèi)設(shè)置一組待測(cè)電磁繼電器，每個(gè)恒溫箱內(nèi)的多個(gè)待測(cè)電磁繼電器由一個(gè)切換單元輪流控制依次與接觸電阻測(cè)試儀和時(shí)間參數(shù)測(cè)試儀連接，接觸電阻測(cè)試儀用于測(cè)試與其連接的待測(cè)電磁繼電器的開關(guān)的接觸電阻，時(shí)間參數(shù)測(cè)試儀用于測(cè)試與其連接的待測(cè)電磁繼電器的吸合時(shí)間、釋放時(shí)間、吸合彈跳時(shí)間、釋放彈跳時(shí)間、超程時(shí)間、吸合穩(wěn)定時(shí)間和釋放穩(wěn)定時(shí)間；

下位機(jī)用于控制每個(gè)恒溫箱中的溫度和濕度，還用于控制每個(gè)切換單元的切換狀態(tài)，還用于采集接觸電阻測(cè)試儀和時(shí)間參數(shù)測(cè)試儀獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)，還用于將采集獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)傳遞給上位機(jī)，

上位機(jī)用于發(fā)送控制信息給下位機(jī)，并將接收到的來自下位機(jī)的參數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)；

所述控制信息包括預(yù)設(shè)參數(shù)，所述參數(shù)為每個(gè)恒溫箱中待測(cè)電磁繼電器的數(shù)量、線圈阻值和貯存時(shí)間，恒溫箱內(nèi)的溫度和濕度。

每個(gè)切換單元包括一個(gè)切換單元使能通路、十個(gè)繼電器切換通路和計(jì)數(shù)譯碼芯片，

切換單元使能通路由第一繼電器、第一三極管和兩個(gè)電阻組成，第一繼電器的線圈的一端連接控制電源正極VCC，第一繼電器的線圈的另一端連接第一三極管的集電極，第一三極管的發(fā)射極接控制電源的電源地，第一三極管的發(fā)射極與基極之間串聯(lián)兩個(gè)電阻，切換單元使能通路的使能信號(hào)輸入端連接在所述兩個(gè)電阻之間，該使能信號(hào)輸入端連接下位機(jī)的一個(gè)切換單元信號(hào)輸出端，第一繼電器的開關(guān)的一端連接控制電源正極VCC，該第一繼電器的開關(guān)的另一端與所有繼電器切換通路的切換開關(guān)的第一控制信號(hào)端連接；

每個(gè)繼電器切換通路由切換開關(guān)、第二三極管和兩個(gè)電阻組成，切換開關(guān)包括六個(gè)同時(shí)動(dòng)作的常開開關(guān)，分別為第一開關(guān)、第二開關(guān)、第三開關(guān)、第四開關(guān)、第五開關(guān)和第六開關(guān)；

切換開關(guān)的第二控制信號(hào)端連接第二三極管的集電極，第二三極管的發(fā)射極接控制電源的電源地，第二三極管發(fā)射極與基極之間串聯(lián)兩個(gè)電阻，該兩個(gè)電阻之間連接計(jì)數(shù)譯碼芯片的一個(gè)控制信號(hào)輸出端，

所述切換開關(guān)在控制信號(hào)的作用下同時(shí)打開或閉合六路開關(guān)；