[發明專利]航天電磁繼電器的貯存性能測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 201210112645.5
• 申請日: 2012-04-17
• 公開（公告）號: CN102621488A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 翟國富;王召斌;黃曉毅;葉雪榮;馬躍;楊文英;任萬濱;鄭艷明
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 牟永林

1.一種航天電磁繼電器的貯存性能測試系統，它包括多個恒溫箱(1)，其特征在于：它還包括待測繼電器切換電路(2)、接觸電阻測試儀(3)、時間參數測試儀(4)、下位機(5)和上位機(6)，所述待測繼電器切換電路(2)由多個切換單元(2-1)組成，所述切換單元(2-1)的個數與恒溫箱(1)的個數相同，

每個恒溫箱(1)內設置一組待測電磁繼電器，每個恒溫箱(1)內的多個待測電磁繼電器由一個切換單元(2-1)輪流控制依次與接觸電阻測試儀(3)和時間參數測試儀(4)連接，接觸電阻測試儀(3)用于測試與其連接的待測電磁繼電器的開關的接觸電阻，時間參數測試儀(4)用于測試與其連接的待測電磁繼電器的吸合時間、釋放時間、吸合彈跳時間、釋放彈跳時間、超程時間、吸合穩定時間和釋放穩定時間；

下位機(5)用于控制每個恒溫箱(1)中的溫度和濕度，還用于控制每個切換單元(2-1)的切換狀態，還用于采集接觸電阻測試儀(3)和時間參數測試儀(4)獲得的測試數據，還用于將采集獲得的測試數據傳遞給上位機(6)，

上位機(6)用于發送控制信息給下位機(5)，并將接收到的來自下位機(5)的參數進行統計；

所述控制信息包括預設參數，所述參數為每個恒溫箱(1)中待測電磁繼電器的數量、線圈阻值和貯存時間，恒溫箱(1)內的溫度和濕度。

2.根據權利要求1所述的航天電磁繼電器的貯存性能測試系統，其特征在于：每個切換單元(2-1)包括一個切換單元使能通路、十個繼電器切換通路和計數譯碼芯片，

切換單元使能通路由第一繼電器(2-11)、第一三極管(2-12)和兩個電阻組成，第一繼電器(2-11)的線圈的一端連接控制電源正極VCC，第一繼電器(2-11)的線圈的另一端連接第一三極管(2-12)的集電極，第一三極管(2-12)的發射極接控制電源的電源地，第一三極管(2-12)的發射極與基極之間串聯兩個電阻，切換單元使能通路的使能信號輸入端連接在所述兩個電阻之間，該使能信號輸入端連接下位機(5)的一個切換單元信號輸出端，第一繼電器(2-11)的開關的一端連接控制電源正極VCC，該第一繼電器(2-11)的開關的另一端與所有繼電器切換通路的切換開關(2-13)的第一控制信號端連接；

每個繼電器切換通路由切換開關(2-13)、第二三極管(2-14)和兩個電阻組成，切換開關(2-13)包括六個同時動作的常開開關，分別為第一開關、第二開關、第三開關、第四開關、第五開關和第六開關；

切換開關(2-13)的第二控制信號端連接第二三極管(2-14)的集電極，第二三極管(2-14)的發射極接控制電源的電源地，第二三極管(2-14)發射極與基極之間串聯兩個電阻，該兩個電阻之間連接計數譯碼芯片的一個控制信號輸出端，

所述切換開關(2-13)在控制信號的作用下同時打開或閉合六路開關；

切換開關(2-13)每個常開開關的一端為輸出端，所有切換開關(2-13)的第i開關的另一端連接在一起作為待測繼電器切換電路(2)的信號輸出端Si，i為1、2、3、4、5、6；其中，待測繼電器切換電路(2)的信號輸出端S1、S2、S3和S4與接觸電阻測試儀(3)的四個測試端連接，用于實現對待測電磁繼電器的開關的接觸電阻四線制測量，待測繼電器切換電路(2)的六個信號輸出端S1、S2、S3、S4、S5和S6與時間參數測試儀(4)的六個測試端連接，其中待測繼電器切換電路(2)的信號輸出端S5和S6用于連接待測電磁繼電器的控制線圈的兩端；

每個切換單元(2-1)的計數譯碼芯片的清零信號輸入端連接下位機(5)的清零信號CR輸出端，每個切換單元(2-1)的計數時鐘信號輸入端連接下位機(5)的切換時鐘信號CLK輸出端，，每個切換單元(2-1)的計數譯碼芯片的切換使能信號輸入端連接下位機(5)的切換使能信號CLKEN輸出端。

3.根據權利要求2所述的航天電磁繼電器的貯存性能測試系統，其特征在于：每個繼電器切換通路的切換開關(2-13)由三個繼電器組成，該三個繼電器中的每個繼電器帶有兩個常開觸點，該三個繼電器的三個線圈并聯在一起后，一端作為該繼電器切換通路的切換開關(2-13)的第一控制信號端，其另一端作為該繼電器切換通路的切換開關(2-13)的第二控制信號端。