[發(fā)明專利]一種用于芯片靜電保護(hù)驗(yàn)證方法及其驗(yàn)證裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210101992.8 | 申請(qǐng)日: | 2012-04-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102651046A | 公開(公告)日: | 2012-08-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓智毅;張煒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 佛山華芯微特科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F17/50 | 分類號(hào): | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京瑞恒信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11382 | 代理人: | 苗青盛;黃慶芳 |
| 地址: | 528000 廣東省佛山市禪城區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 芯片 靜電 保護(hù) 驗(yàn)證 方法 及其 裝置 | ||
1.一種用于芯片靜電保護(hù)的驗(yàn)證裝置,其特征在于,該靜電保護(hù)驗(yàn)證裝置為網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),其中在所述網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中包括多個(gè)靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元、多組電源端以及多組單元接地端;在所述網(wǎng)絡(luò)中包括第一類靜電保護(hù)器件、第二類靜電保護(hù)器件和第三類靜電保護(hù)器件;
其中每個(gè)靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元包括兩個(gè)第一類靜電保護(hù)器件和一個(gè)第二類靜電保護(hù)器件,兩個(gè)第一類靜電保護(hù)器件串聯(lián)連接后,與第二類靜電保護(hù)器件并聯(lián)連接;其中,該并聯(lián)結(jié)構(gòu)中,其中一個(gè)第一類靜電保護(hù)器件的陰極和該第二類靜電保護(hù)器件的一端分別與電源連接;另一個(gè)第一類靜電保護(hù)器件的陽極和第二類靜電保護(hù)器件的另一端分別與地連接;在串聯(lián)方向的任意兩個(gè)靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元的電源端之間布置一個(gè)第三類靜電保護(hù)器件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證裝置,其特征在于,該靜電保護(hù)驗(yàn)證裝置為矩形網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),其中矩形網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的每一豎邊均包括n個(gè)靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元,每一橫邊均包括m個(gè)靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元,其中n≥1,n為自然數(shù),并且m≥1,m為自然數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證裝置,其特征在于,將多個(gè)第三類靜電保護(hù)器件分別連接在不同組靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元的電源之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證裝置,其特征在于,當(dāng)多組靜電保護(hù)驗(yàn)證子單元的電源為3個(gè)時(shí),采用3個(gè)第三類靜電保護(hù)器件分別連接在不同組電源之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的驗(yàn)證裝置,其特征在于,所述第一類靜電保護(hù)器件為二極管。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的驗(yàn)證裝置,其特征在于,第二類靜電保護(hù)器件為夾腳類器件,第三類靜電保護(hù)器件是寄生二極管。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的驗(yàn)證裝置,其特征在于,采用并聯(lián)反向二極管連接于不同的單元地之間。
8.一種采用權(quán)利要求1-7中任一驗(yàn)證裝置進(jìn)行芯片靜電保護(hù)的驗(yàn)證方法,包括:
步驟1,建立參數(shù)化的二極管物理模型;
步驟2,構(gòu)建權(quán)利要求1-8中的靜電保護(hù)驗(yàn)證裝置的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu);
步驟3,采用所述網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)進(jìn)行靜電保護(hù)驗(yàn)證。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的驗(yàn)證方法,其中,步驟1中,在基于第一、第二和第三類靜電保護(hù)器件,提取物理模型參數(shù),其中,IS=IS_0*N_ESD+1e-24;BV=BV_0*N_ESD+400*(N_ESD-1);CJO=CJ_0*SIGN(N_ESD+N_CJO)+1e-30;
其中,IS為飽和電流模型參數(shù),IS_0為飽和電流值;BV為反向擊穿電壓模型參數(shù),BV_0為反向擊穿電壓數(shù)值;CJO為零偏壓結(jié)電容模型參數(shù),CJO_0零偏壓結(jié)電容數(shù)值,N_ESD是參數(shù)開關(guān),當(dāng)其取1時(shí),用于靜電仿真驗(yàn)證;取0時(shí),作電路功能仿真驗(yàn)證;N_CJO是電容開關(guān)參數(shù),當(dāng)N_ESD為0時(shí),如N_CJO為1,靜電二極管的電容參數(shù)參與電路功能仿真驗(yàn)證。
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