[發(fā)明專利]玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)前對測試板的處理方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210090791.2
• 申請日: 2012-03-30
• 公開（公告）號: CN103369857B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張蕾;楊福春
• 申請（專利權(quán)）人: 北大方正集團(tuán)有限公司;重慶方正高密電子有限公司
• 主分類號: H05K3/34
• 分類號: H05K3/34;H05K3/26;G01R31/02
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11112
• 代理人: 羅建民,鄧伯英

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于PCB板制作技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)前對測試板的處理方法。

背景技術(shù)

玻纖布是目前PCB行業(yè)制作多層覆銅板的主要基材，應(yīng)用范圍廣泛，其和樹脂一起構(gòu)成PCB板中非導(dǎo)體的主要部分。玻纖布主要由玻纖束紡織而成，玻纖束由硅砂等原料煅燒成液態(tài)后，通過極細(xì)小的合金噴嘴拉成極細(xì)玻纖，再將幾百根玻纖纏絞而制成。

在PCB加工過程中，二階以上多層板完成鉆孔工藝后即進(jìn)行鍍孔，其目的是使孔壁中非導(dǎo)體部分的樹脂及玻纖束金屬化，以保證形成足夠?qū)щ娂昂附拥慕饘倏妆凇Ｔ诮?jīng)過鉆孔、鍍孔步驟后，在相鄰?fù)椎慕饘倏妆?一般為銅壁)之間不可避免地會出現(xiàn)玻纖束彼此搭接，甚至出現(xiàn)焊接后相鄰兩導(dǎo)線同時與同一玻纖束連接，或者導(dǎo)線與孔壁經(jīng)過玻纖紗的接頭，或者層與層之間經(jīng)過玻纖束從而存在導(dǎo)通的可能等問題。在正常環(huán)境條件下，上述情況中PCB層間的兩點(diǎn)之間尚能維持足夠的絕緣(即絕緣電阻的阻值足夠高)，而不致影響到線路工作性能，然而一旦出現(xiàn)高溫高濕的惡劣環(huán)境，而PCB板材品質(zhì)又不是很好的情況下，且PCB板上的兩點(diǎn)間的電壓又出現(xiàn)差異(偏壓)時，在相鄰導(dǎo)體間導(dǎo)體中的銅離子將產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)，在電場的作用下銅離子由電極析出，通過玻纖束向另一極產(chǎn)生遷移，進(jìn)而出現(xiàn)輕微的漏電現(xiàn)象，即出現(xiàn)玻纖束陽極漏電(Conductive?Anodic?Filament，簡稱CAF)失效現(xiàn)象，簡言之，就是在高偏置電壓、高濕度、離子污染和遷移通道這些條件具備時，PCB層壓板內(nèi)兩個導(dǎo)體之間出現(xiàn)絕緣電阻顯著下降直到短路失效的現(xiàn)象。玻纖束陽極漏電失效現(xiàn)象的發(fā)生，將使導(dǎo)體間的絕緣性能下降，嚴(yán)重時會引起電路功能失常、電路短路等現(xiàn)象，極大地影響產(chǎn)品的可靠性。

目前，隨著PCB向高密度、小型化發(fā)展，以及RoHS法令(歐盟限制使用鉛、鎘、汞、六價鉻、多溴聯(lián)苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)等6種有毒物質(zhì)的環(huán)保法令)、電子產(chǎn)品向高頻傳輸方向發(fā)展等趨勢下，使得PCB板孔間距、線間距、板厚越來越小，層數(shù)越來越多，這對PCB板的生產(chǎn)工藝、對覆銅板的電氣絕緣性能提出了更高的要求，而相鄰導(dǎo)體間距離的縮短，也為玻纖束陽極漏電失效提供了有利條件。因此，用戶在PCB板的可靠性實(shí)驗(yàn)中均要求對其進(jìn)行玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)以進(jìn)行性能測試。

CAF失效現(xiàn)象常發(fā)生在測試孔鏈中的孔與孔之間、孔與導(dǎo)線之間、導(dǎo)線與導(dǎo)線之間。圖1所示是對測試板(選定的PCB板)內(nèi)的玻纖束進(jìn)行玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)時，選用的測試孔鏈中不同測試點(diǎn)的位置示意圖。其中圖1A為測試孔鏈中孔與孔之間的測試點(diǎn)，圖1B為測試孔鏈中孔與導(dǎo)線之間的測試點(diǎn)，圖1C為測試孔鏈中導(dǎo)線與導(dǎo)線之間的測試點(diǎn)。實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)證明，一般在測試孔鏈中孔與孔之間最容易發(fā)生CAF失效現(xiàn)象，所以，在進(jìn)行玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)時一般都選擇測試孔鏈中孔與孔間的測試點(diǎn)。

圖4示出了測試板1的測試孔鏈中測試點(diǎn)與采樣點(diǎn)的關(guān)系，圖中的測試點(diǎn)選定為孔與孔之間，即測試孔3與測試孔3之間。從圖4中可見，用于玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)的測試板1中一般均包含有多個測試孔鏈2(也可能有的僅包含兩條測試孔鏈)，測試點(diǎn)選定為孔與孔之間，設(shè)置在測試孔鏈2一端的采樣點(diǎn)4內(nèi)設(shè)有內(nèi)孔5，多條不同測試孔鏈的端部通過連接最終形成兩個采樣點(diǎn)4，以便提供實(shí)驗(yàn)前和實(shí)驗(yàn)后對選定采樣點(diǎn)之間阻值的測量。在玻纖束陽極漏電實(shí)驗(yàn)中，在其中一個采樣點(diǎn)的內(nèi)孔5中焊接電源線，以便對測試孔鏈2中的測試孔3施加一定電壓，在另一個采樣點(diǎn)的內(nèi)孔5中焊接數(shù)據(jù)線，以便利用專用的阻值測量儀器測量兩個采樣點(diǎn)之間的電阻值。