[發(fā)明專利]具有芯片上監(jiān)視器電路和控制電路的電路裝置及對應(yīng)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210089956.4
• 申請日: 2012-03-30
• 公開（公告）號: CN102736016A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: T.鮑曼;C.帕哈
• 申請（專利權(quán)）人: 英特爾移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R35/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 段俊峰;劉鵬

1.一種電路裝置，包括：

多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的每一個(gè)被配置為測量半導(dǎo)體芯片的參數(shù)；以及

耦合至所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的控制器，所述控制器被配置為從所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的至少一個(gè)接收測量結(jié)果，并根據(jù)所述測量結(jié)果來控制對所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的另一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的校準(zhǔn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的至少兩個(gè)芯片上監(jiān)視器電路是相同類型的。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路被配置為同時(shí)測量所述半導(dǎo)體芯片的參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路被布置在所述半導(dǎo)體芯片的各個(gè)區(qū)域中。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述控制器被配置為通過適配所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的所述另一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的設(shè)置，來控制校準(zhǔn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述控制器被配置為在所述測量結(jié)果偏離于預(yù)定范圍的情況下重復(fù)校準(zhǔn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述控制器被配置為在預(yù)定時(shí)段內(nèi)從所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的該至少一個(gè)接收多個(gè)測量結(jié)果，并根據(jù)所述多個(gè)測量結(jié)果的組合來控制校準(zhǔn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其中，所述控制器被配置為從所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路接收多個(gè)測量結(jié)果，并檢測是否所述多個(gè)測量結(jié)果中的至少一個(gè)偏離于預(yù)定范圍。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電路裝置，其中，所述控制器被配置為在所述多個(gè)測量結(jié)果均未偏離于預(yù)定范圍的情況下，根據(jù)所述多個(gè)測量結(jié)果的組合，適配所述半導(dǎo)體芯片的參數(shù)。

10.一種電路裝置，包括：

布置在網(wǎng)絡(luò)中的多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的每一個(gè)被配置為測量半導(dǎo)體芯片的至少一個(gè)參數(shù)；

耦合至芯片上監(jiān)視器電路的網(wǎng)絡(luò)的控制器，所述控制器被配置為從所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路接收測量結(jié)果，并根據(jù)對所述測量結(jié)果的評估來生成輸出；以及

耦合至所述控制器和所述網(wǎng)絡(luò)的至少一個(gè)反饋回路，所述至少一個(gè)反饋回路被配置為根據(jù)所述輸出來控制對所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的至少一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的校準(zhǔn)。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電路裝置，其中，所述控制器還被配置為根據(jù)所述測量結(jié)果的組合來適配所述半導(dǎo)體芯片的參數(shù)。

12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電路裝置，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的該至少一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路包括校準(zhǔn)控制字，并且其中，所述反饋回路被配置為通過根據(jù)所述輸出適配所述校準(zhǔn)控制字來控制校準(zhǔn)。

13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電路裝置，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的網(wǎng)絡(luò)被配置為同時(shí)操作。

14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電路裝置，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的每一個(gè)在專用電路塊中實(shí)現(xiàn)，并且，其中所述控制器在處理器中實(shí)現(xiàn)。

15.一種用于監(jiān)管芯片上監(jiān)視器電路的方法，所述方法包括：

（a）啟動多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的至少一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的測量，其中，所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的每一個(gè)被配置為測量半導(dǎo)體芯片的參數(shù)；

（b）啟動要監(jiān)管的芯片上監(jiān)視器電路的測量，其中，要監(jiān)管的芯片上監(jiān)視器電路被配置為測量所述半導(dǎo)體芯片的參數(shù)；

（c）對來自所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的該至少一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的至少一個(gè)測量結(jié)果進(jìn)行處理；以及

（d）如果來自所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的該至少一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的該至少一個(gè)測量結(jié)果偏離于預(yù)定范圍，則將要監(jiān)管的芯片上監(jiān)視器電路的測量結(jié)果表示為無效。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，要監(jiān)管的芯片上監(jiān)視器電路被配置為測量與所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路要測量的參數(shù)不同的參數(shù)。

17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，要監(jiān)管的芯片上監(jiān)視器電路的測量的啟動在時(shí)間上在所述多個(gè)芯片上監(jiān)視器電路中的該至少一個(gè)芯片上監(jiān)視器電路的測量的啟動之后進(jìn)行。