[發明專利]發光器件檢查設備和方法

無效

• 申請號: 201210088731.7
• 申請日: 2012-03-29
• 公開（公告）號: CN102735982A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 池元秀;樸大緒;金秋浩
• 申請（專利權）人: 三星LED株式會社
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01M11/02;G01N21/88
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 王占杰;韓芳

1.一種用于檢查發光器件的特性的發光器件檢查設備，所述發光器件包括發射光的一個或多個發光單元，所述發光器件檢查設備包括：

探測單元，包括工作臺和探針，所述發光器件安裝在所述工作臺上，所述探針向所述發光器件供給電流；

圖像獲取單元，用于獲取所述發光器件的圖像；以及

確定單元，用于通過從所述圖像的亮度信息檢測所述一個或多個發光單元的發光來確定所述發光器件的開路/短路缺陷。

2.根據權利要求1所述的發光器件檢查設備，所述發光器件檢查設備還包括測量單元，所述測量單元包括積分球和檢測器，所述積分球設置在所述工作臺上方并收集從所述發光器件發射的光，所述檢測器檢測所述發光器件的光學特性，

其中，所述測量單元基于檢測的光學特性來確定所述發光器件的所述光學特性的缺陷。

3.根據權利要求2所述的發光器件檢查設備，其中，所述確定單元基于所述開路/短路缺陷和檢測的光學特性的確定結果將所述發光器件分為多個組。

4.根據權利要求2所述的發光器件檢查設備，其中，光窗口布置在所述積分球處，

其中，所述圖像獲取單元經由所述光窗口來獲取所述發光器件的所述圖像。

5.根據權利要求4所述的發光器件檢查設備，其中，所述確定單元包括用于從所述圖像產生用于外觀檢查的檢查圖像的圖像處理單元，

其中，所述確定單元通過將所述檢查圖像與預設的參考圖像進行比較來確定所述發光器件的外觀的缺陷。

6.根據權利要求4所述的發光器件檢查設備，其中，所述圖像獲取單元包括：

成像裝置；以及

透鏡，用于在光已經穿過所述光窗口之后將所述光會聚在所述成像裝置上。

7.根據權利要求6所述的發光器件檢查設備，其中，所述圖像獲取單元包括光量調節器，所述光量調節器設置在所述透鏡前面，并調節已經穿過所述光窗口的光的量。

8.根據權利要求1-7中的任一項所述的發光器件檢查設備，其中，所述發光器件包括排列有多個發光單元的多發光芯片、通過封裝多個發光二極管芯片形成的發光二極管封裝件和通過封裝一個或多個排列有多個發光單元的多發光芯片形成的發光二極管封裝件之一。

9.一種檢查發光器件的特性的方法，所述發光器件包括發射光的一個或多個發光單元，所述方法包括：

向所述發光器件供給電流；

獲取所述發光器件的圖像；以及

通過從所述圖像的亮度信息檢測所述一個或多個發光單元的發光來確定所述發光器件的開路/短路缺陷。

10.根據權利要求9所述的方法，所述方法還包括：

通過使用積分球來收集從所述發光器件發射的光，并從收集的光來檢測所述發光器件的光學特性；以及

基于檢測的光學特性來確定所述發光器件的所述光學特性的缺陷。

11.根據權利要求10所述的方法，所述方法還包括：基于所述開路/短路缺陷和檢測的光學特性的確定結果將所述發光器件分為多個組。

12.根據權利要求10所述的方法，其中，獲取圖像的步驟包括：經由布置在所述積分球處的光窗口來獲取所述發光器件的所述圖像。

13.根據權利要求12所述的方法，所述方法還包括：

從所述圖像產生用于外觀檢查的檢查圖像，以及

通過將所述檢查圖像與預設的參考圖像進行比較來確定所述發光器件的外觀的缺陷。

14.根據權利要求9-13中的任一項所述的方法，其中，所述發光器件包括排列有多個發光單元的多發光芯片、通過封裝多個發光二極管芯片形成的發光二極管封裝件和通過封裝一個或多個排列有多個發光單元的多發光芯片形成的發光二極管封裝件之一。